[發明專利]混響室條件下輻射敏感度測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201710127143.2
• 申請日: 2017-03-06
• 公開（公告）號: CN107037283B
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發明（設計）人: 魏光輝;胡德洲;潘曉東;萬浩江;盧新福
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍軍械工程學院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 陸林生

1.一種混響室條件下輻射敏感度測試方法，其特征在于，包括：

測量混響室中多個攪拌位置下受測設備受到干擾的次數和場強的直角分量，并根據所述受測設備受到干擾的次數和場強直角分量，計算干擾概率P和參數σ；

根據測試頻率和所述受測設備的尺寸計算波數和包含所述受測設備的最小球體的半徑，并根據所述波數和半徑得出所述受測設備的方向性系數最大值；

根據所述參數σ、所述干擾概率P和所述方向性系數最大值，結合預設模型得出所述受測設備的臨界輻射干擾場強；

計算參數σ和干擾概率P的過程為：

混響室中任意一點場強直角分量的幅值服從瑞利分布，對于x方向，其概率分布函數為：

其中，σ²為混響室內場強平方的均值的1/6，設第i個攪拌位置混響室測試區域內一點場強x方向分量為E_xi，則參數σ的最大似然估計為：

若N個攪拌位置中受測設備受到N_s次干擾，則干擾概率P的估計值為：

所述根據所述波數和半徑得出所述受測設備的方向性系數最大值的過程為：

所述受測設備的方向性系數D的概率分布函數為：

F_D(d)＝1-(1+2d)e^-2d,d>0，

對應的概率密度函數為：

f_D(d)＝4de^-2d,d>0；

將所述受測設備的方向性系數最大值的期望作為D_max的估計值，D_max為：

其中，N_I為受測設備作為輻射體時輻射場中相互獨立的電磁波模式數，等于設備作為被輻射物體時相互獨立的輻照方向個數，k為波數，a為包含受測設備的最小球體的半徑，表示取不大于ka的最大整數；

所述受測設備的臨界輻射干擾場強為：

2.一種混響室條件下輻射敏感度測試裝置，其特征在于，包括：

測量計算模塊，用于測量混響室中多個攪拌位置下受測設備受到干擾的次數和場強的直角分量，并根據所述受測設備受到干擾的次數和場強直角分量，計算干擾概率P和參數σ；

處理模塊，用于根據測試頻率和所述受測設備的尺寸計算波數和包含所述受測設備的最小球體的半徑，并根據所述波數和半徑得出所述受測設備的方向性系數最大值；

模型計算模塊，用于根據所述參數σ、所述干擾概率P和所述方向性系數最大值，結合預設模型得出所述受測設備的臨界輻射干擾場強；

所述測量計算模塊計算參數σ和干擾概率P的過程為：

混響室中任意一點場強直角分量的幅值服從瑞利分布，以x方向為例，其概率分布函數為：

其中，σ²為混響室內場強平方的均值的1/6，設第i個攪拌位置混響室測試區域內一點場強x方向分量為E_xi，則σ的最大似然估計為：

若N個攪拌位置中受測設備受到N_s次干擾，則干擾概率P的估計值為：

所述處理模塊根據所述波數和半徑得出所述受測設備的方向性系數最大值的過程為：

所述受測設備的方向性系數D概率分布函數為：

F_D(d)＝1-(1+2d)e^-2d,d>0，

對應的概率密度函數為：

f_D(d)＝4de^-2d,d>0；

將所述受測設備的方向性系數最大值的期望作為D_max的估計值，其表達式為：

其中，N_I為受測設備作為輻射體時輻射場中相互獨立的電磁波模式數，根據互易原理，它等于設備作為被輻射物體時相互獨立的輻照方向個數，k為波數，a為包含受測設備的最小球體的半徑，表示取不大于ka的最大整數；

所述受測設備的臨界輻射干擾場強為：