[發明專利]用于檢測材料和裝配件中的裂縫、缺陷或泄漏路徑的射線照像的方法和裝置

有效

• 申請號: 201710127052.9
• 申請日: 2017-03-06
• 公開（公告）號: CN107153073B
• 公開（公告）日: 2023-06-27
• 發明（設計）人: K·O·高
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G01M3/20
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 徐東升;張穎

提供了用于測試材料和裝配件的空隙、裂縫或其他缺陷的示例性系統和方法。用于測試零件的一種示例性系統包括被配置為容納零件的腔室，以及被連接到腔室的真空源。示例性系統也包括流體源，該流體源被連接到所述腔室并且被配置為向所述腔室提供放射性或同位素標記的流體。此外，示例性系統包括檢測器，所述檢測器被配置為檢測零件中的放射性或同位素標記的流體的存在或不存在。

技術領域

本公開總體涉及用于檢查材料和裝配件的射線照像的系統和方法，并且更具體地涉及用于檢測材料和裝配件中的空隙、裂縫或其他缺陷的射線照像系統和方法。

背景技術

證明測試是一項無損測試技術，其用于驗證零件、組件或裝配件適于經受其中所述零件、組件或裝配件被設計以運轉的狀況。以示例的方式，證明測試可以包括使零件經受零件的最大設計荷載的兩倍并且觀察零件是否以任何方式被損壞。許多行業中的制造商使用證明測試作為在允許零件經過“檢查”且投入使用之前篩選零件的制造異常的方式。類似地，證明測試也可以被用于驗證老舊零件仍然適當運行且適合于額外服務。

在一些示例中，零件可能“經過”證明測試，不過還是包括一個或多個潛在缺陷。例如，證明測試不會檢測可以使零件不能維持特定設計荷載的不一致性。這類潛在缺陷可以表現為不會通過觀看零件的表面而被觀察到的內部空隙、裂縫或其他缺陷的形式。進一步地，潛在缺陷可能不能通過使用x射線或超聲檢查被檢測到。例如，由于零件的幾何構型或可變密度，x射線檢查可能不能夠檢測或揭示零件中的裂縫。附加地，x射線檢查可能不能夠檢測被定向為正交于x射線檢測器陣列的裂縫。作為另一示例，幾何構型/材料的不均勻性或潛在缺陷可能產生附加的回聲或陰影，使得超聲或x射線數據進行分析是昂貴的并且使不一致性/缺陷的檢測變得困難。

發明內容

在一個示例中，提供了一種用于測試零件的方法。該方法包括：在壓力下將零件暴露到放射性或同位素標記的流體；以及在壓力下將零件暴露到放射性或同位素標記的流體之后，檢測在零件中所夾帶的放射性或同位素標記的流體的存在或不存在。

在另一示例中，提供了一種用于測試零件的系統。該系統包括腔室，其被配置為容納零件。所述系統進一步包括被連接到腔室的真空源。所述系統也包括流體源，該流體源被連接到腔室并且被配置為向腔室提供放射性或同位素標記的流體。附加地，所述系統包括檢測器，該檢測器被配置為檢測在零件中的放射性或同位素標記的流體的存在或不存在。

在又一示例中，提供了一種控制器。所述控制器包括處理器和計算機可讀介質，該計算機可讀介質具有存儲在其中的指令，該指令是可執行的以使控制器執行功能。所述功能包括：使真空源降低腔室中的壓力，其中零件位于腔室中。所述功能也包括：使被連接到腔室的流體源向腔室提供放射性或同位素標記的流體。所述功能進一步包括使流體回收容器從腔室移除放射性或同位素標記的流體。并且所述功能包括：使檢測器檢測在零件中的放射性或同位素標記的流體的存在或不存在。

已經被討論的特征、功能和優點可以在各種示例中被獨立地實現或可以在其它示例中被組合。參考下面的描述和附圖可見示例的進一步的細節。

附圖說明

所附權利要求中提出了示例性示例的被確信具有新穎性特性的特征。然而，當結合附圖閱讀時，通過參照本公開的示例性示例的下列詳細說明將最好地理解示例性示例以及使用的優選模式、進一步的目的和其描述，其中：

圖1是根據本公開的示例性系統的示意圖。

圖2是根據本公開的示例性控制器的示意圖。

圖3是根據本公開的用于測試零件的示例性方法的流程圖。

圖4是根據本公開的用于測試零件的另一示例性方法的流程圖。

具體實施方式