[發明專利]量熱結構及量熱裝置

在審

• 申請號: 201710126991.1
• 申請日: 2017-03-06
• 公開（公告）號: CN106872077A
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發明（設計）人: 文明;張志;姚勇;宋江鋒;楊雷;鄧立;周帥;胡俊
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院材料研究所
• 主分類號: G01K17/08
• 分類號: G01K17/08
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)11371
• 代理人: 史明罡

1.一種量熱結構，其特征在于：

所述量熱結構包括導熱的測量殼體，所述測量殼體由導熱的電氣絕緣材料構成，或所述測量殼體的外表面包裹或涂覆有導熱的電氣絕緣層；

所述測量殼體外側設有熱敏電阻；所述熱敏電阻電連接有測量電路。

2.根據權利要求1所述的量熱結構，其特征在于：

所述電氣絕緣層為導熱矽膠布。

3.根據權利要求1所述的量熱結構，其特征在于：

所述熱敏電阻由螺旋繞卷于所述測量殼體外壁的鉑絲構成。

4.根據權利要求1-3任一項所述的量熱結構，其特征在于：

所述測量殼體中設有用于容納熱源的容納室；

所述容納室的外壁為封閉的導熱壁體。

5.根據權利要求4所述的量熱結構，其特征在于：

所述容納室通過吊桿懸空吊掛于所述測量殼體上。

6.根據權利要求5所述的量熱結構，其特征在于：

所述導熱壁體由純鋁構成，且其內表面具有鍍金層。

7.根據權利要求5所述的量熱結構，其特征在于：

所述量熱結構還包括中空結構的恒溫體；

所述測量殼體設置于所述恒溫體中。

8.根據權利要求7所述的量熱結構，其特征在于：

所述測量殼體通過隔熱支撐件支撐于所述恒溫體內部的底面。

9.根據權利要求7所述的量熱結構，其特征在于：

所述測量殼體的內表面與所述容納室的外表面之間的間距處處相等；

所述測量殼體的外表面與所述恒溫體的內表面之間的間距處處相等。

10.一種量熱裝置，其特征在于，所述量熱裝置包括如權利要求4-9任一項所述的量熱結構，并且所述量熱結構還包括校核熱源，所述校核熱源包括設置于所述容納室中的加熱電阻以及與所述加熱電阻電連接的加熱電路；

所述量熱裝置還包括對照量熱組，所述對照量熱組的結構與所述量熱結構相同。