[發(fā)明專利]一種納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710126863.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-03-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106867078A | 公開(公告)日: | 2017-06-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張曉虹;王昆;李志華;潘宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | C08L23/06 | 分類號(hào): | C08L23/06;C08K9/06;C08K3/36;C08K5/134 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 150080 黑龍江省哈*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 納米 二氧化硅 密度 聚乙烯 復(fù)合材料 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電介質(zhì)工程領(lǐng)域,特別是涉及一種納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料及其制備方法。
背景技術(shù)
低密度聚乙烯具有介電性能好、損耗小、化學(xué)性能穩(wěn)定及易加工成型等優(yōu)點(diǎn),成為絕緣材料的代表性材料。在交流輸電中,隨著電壓等級(jí)的提高,對(duì)絕緣材料電性能的要求也越來越高;在直流輸電中,直流高電場(chǎng)作用會(huì)使聚乙烯絕緣材料中積聚大量的空間電荷,空間電荷的存在會(huì)使絕緣材料中電場(chǎng)產(chǎn)生畸變,長(zhǎng)期作用的結(jié)果就是導(dǎo)致絕緣材料中產(chǎn)生局部放電、電樹枝甚至擊穿,嚴(yán)重影響絕緣材料的電性能,這已成為制約高壓直流輸電技術(shù)發(fā)展的一大難題。
納米復(fù)合材料的出現(xiàn)為這一難題提供了一種解決方案。由于納米顆粒具有表面效應(yīng)、小尺寸效應(yīng)和量子尺寸效應(yīng)等諸多特殊效應(yīng),它與聚合物基體之間可以通過各種化學(xué)作用和物理作用結(jié)合在一起,形成大量界面微域,這些界面微域具有很高的勢(shì)壘,是能級(jí)很深的陷阱。這些由納米填料引入的深陷阱不同于聚合物本身的缺陷陷阱,它與聚合物分子鏈結(jié)合而又獨(dú)立于分子鏈之外,能夠捕獲電荷、復(fù)合電荷,限制其移動(dòng),因此熱電子難以激發(fā),從而減少了聚合物分子的裂解,提高了絕緣性能。納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料不僅提高了低密度聚乙烯的交直流擊穿場(chǎng)強(qiáng),而且對(duì)空間電荷的抑制效果也非常明顯,是一種高介電性能的絕緣材料。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料,該復(fù)合材料具有結(jié)晶度高、電導(dǎo)率低、空間電荷積聚少、交直流擊穿場(chǎng)強(qiáng)高等優(yōu)點(diǎn)。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料,是以低密度聚乙烯為基體,通過與改性納米二氧化硅和抗氧劑熔融共混制得,其中納米二氧化硅占復(fù)合材料的比重是0.5 wt%、抗氧劑占復(fù)合材料的比重是0.3 wt%。
所述納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料的制備過程包括如下步驟:
1、將低密度聚乙烯加入到混煉機(jī)中至完全熔融,溫度為120 ℃~150 ℃,轉(zhuǎn)速為30~50 rpm;
2、將抗氧劑和改性納米二氧化硅加入到混煉機(jī)中與低密度聚乙烯共混,即得納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料。
本發(fā)明中,所述低密度聚乙烯的密度約為0.917 g/cm3,熔融指數(shù)為1.5。
本發(fā)明中,所述改性納米二氧化硅是經(jīng)憎水型偶聯(lián)劑(六甲基二硅氮烷)進(jìn)行表面處理,標(biāo)稱粒徑為30 nm,純度為99.9%。
本發(fā)明中,所述抗氧劑為四[β-(3,5-二叔丁基-4-羥基苯基)丙酸]季戊四醇酯。
本發(fā)明中,所述納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料制備過程中的混煉機(jī)可以選擇轉(zhuǎn)矩流變儀或開煉機(jī)。
附圖說明
圖1是純低密度聚乙烯和所述復(fù)合材料的DSC曲線;
圖2是純低密度聚乙烯和所述復(fù)合材料電導(dǎo)率隨場(chǎng)強(qiáng)的變化;
圖3是純低密度聚乙烯和所述復(fù)合材料加壓時(shí)空間電荷分布;
圖4是純低密度聚乙烯和所述復(fù)合材料短路時(shí)空間電荷分布;
圖5是純低密度聚乙烯和所述復(fù)合材料的交流擊穿場(chǎng)強(qiáng)weibull分布圖;
圖6是純低密度聚乙烯和所述復(fù)合材料的直流擊穿場(chǎng)強(qiáng)weibull分布圖。
具體實(shí)施方式
利用熔融共混法制備本發(fā)明所述納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料(以40 g為例),其制備過程包括以下步驟:
1、將混煉機(jī)升溫至120 ℃,并設(shè)置轉(zhuǎn)速為40 rpm;
2、將39.68 g低密度聚乙烯加入到混煉中至完全熔融;
3、將0.12g抗氧劑和0.2 g改性納米二氧化硅加入到混煉機(jī)中與低密度聚乙烯共混20 min,得到納米二氧化硅/低密度聚乙烯復(fù)合材料,并用潔凈的剪刀將其剪成顆粒狀裝袋備用;
4、利用平板硫化機(jī)120 ℃下對(duì)復(fù)合材料進(jìn)行成型處理,出模得到片材,用于各種性能測(cè)試,得圖1至圖6測(cè)試結(jié)果。
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