[發明專利]質量分析方法及感應耦合等離子體質量分析裝置

有效

• 申請號: 201710121183.6
• 申請日: 2017-03-02
• 公開（公告）號: CN107153090B
• 公開（公告）日: 2019-12-03
• 發明（設計）人: 谷口理
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 11019 北京中原華和知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 壽寧;張華輝<國際申請>=<國際公布>=

1.一種質量分析方法，其是使用感應耦合等離子體質量分析裝置，針對多個測定對象試樣的各者，測定事先決定的1個至多個目標元素的方法，所述感應耦合等離子體質量分析裝置具備通過感應耦合等離子體來對所述測定對象試樣進行等離子體離子化的等離子體離子化部、及對所述等離子體離子化部中所生成的離子進行質量分離并加以檢測的質量分析部，所述質量分析方法的特征在于：

在所述等離子體離子化部中對作為所述多個測定對象試樣中的1個的代表試樣進行等離子體離子化，并在所述質量分析部中進行掃描測定來取得質譜，

根據所述代表試樣的質譜的質量峰的位置，推斷所述代表試樣中所含有的元素的種類，

針對所述經推斷的元素中的所述目標元素的各者，根據離子信息來判定有無干涉離子并不存在的同位素，其中所述離子信息是關于包含所述目標元素的設想包含于所述測定對象試樣中的所有元素的同位素離子的質量電荷比及存在比、以及設想在所述測定對象試樣的等離子體離子化時生成的化合物離子及多價離子的質量電荷比及生成概率的信息，所述干涉離子為具有與所述目標元素的一價的離子相同的質量電荷比的其他離子，

當有所述干涉離子并不存在的同位素時，從其中將質量峰的強度最大的同位素的質量電荷比決定為測定質量電荷比，其中所述測定質量電荷比為用于所述目標元素的測定的質量電荷比，當在所有同位素中存在干涉離子時，基于所述離子信息，根據干涉元素的一價的離子的檢測強度來求出所述干涉離子的質量峰的強度，并將實測的質量峰的強度減去所述干涉離子的質量峰的強度所得的質量峰的強度最大的同位素的質量電荷比決定為測定質量電荷比，其中所述干涉元素為對應于所述干涉離子的元素，所述測定質量電荷比為用于測定的質量電荷比，

將所述多個測定對象試樣依次導入至所述等離子體離子化部中，并對各試樣執行使用所述測定質量電荷比的選擇離子監測測定。

2.根據權利要求1所述的質量分析方法，其特征在于：關于所述目標元素的測定質量電荷比，當存在干涉離子時，對于對應于所述干涉離子的干涉元素的一價的離子的質量電荷比也進行選擇離子監測測定，且

基于所述離子信息，根據所述干涉元素的一價的離子的檢測強度來推斷所述干涉離子的檢測強度，并求出修正強度，其中所述修正強度為從目標元素的質量電荷比的離子的質量峰的強度減去所述干涉離子的質量峰的強度所得的強度。

3.根據權利要求1所述的質量分析方法，其特征在于：對所述代表試樣以外的測定對象試樣也進行掃描測定來取得質譜，

根據對各測定對象試樣所取得的質譜與所述離子信息，針對所述目標元素的各者，判定在決定所述測定質量電荷比時未設想的干涉離子是否存在，

當關于所述目標元素中的至少一個存在所述未設想的干涉離子時，針對所述測定對象試樣，將催促再測定的信息提示給分析者。

4.根據權利要求3所述的質量分析方法，其特征在于：當針對某一目標元素，判定存在在決定所述測定質量電荷比時未設想的干涉離子時，根據所述測定對象試樣的質譜與所述離子信息，決定作為用于所述目標元素的測定的新的質量電荷比的變更質量電荷比并提示給分析者。

5.根據權利要求4所述的質量分析方法，其特征在于：提示所述變更質量電荷比，并且根據所述測定對象試樣的質譜中的所述變更質量電荷比的質量峰的強度對所述目標元素進行定量，且將其定量值作為臨時定量值來提示。