[發(fā)明專利]垂直彩色共焦掃描方法和系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710121016.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-03-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108253905B | 公開(公告)日: | 2020-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄧江汶;施會(huì)豐;宋雷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 先進(jìn)科技新加坡有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/24 | 分類號(hào): | G01B11/24 |
| 代理公司: | 北京申翔知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11214 | 代理人: | 艾晶 |
| 地址: | 新加坡2*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 垂直 彩色 掃描 方法 系統(tǒng) | ||
一種使用共焦成像系統(tǒng)掃描物體表面的方法包括如下步驟:當(dāng)分別用具有第一、第二和第三光譜波形的光線照射所述物體時(shí),獲取所述物體表面的第一、第二和第三共焦圖像;以及用照相機(jī)捕獲來自被第一、第二和第三光譜波形照射的所述物體的響應(yīng)信號(hào)。所述第一、第二和第三光譜波形各不相同,并且每個(gè)光譜波形的部分區(qū)域與其它任何一個(gè)光譜波形的部分區(qū)域重疊。因此,基于所述捕獲的響應(yīng)信號(hào),能夠確定對(duì)應(yīng)每張共焦圖像上多個(gè)點(diǎn)的所述物體表面的多個(gè)點(diǎn)的高度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于測(cè)量物體表面輪廓的方法和系統(tǒng),具體地,涉及一種共焦掃描方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)
因?yàn)檠b置的尺寸越來越小,所以在半導(dǎo)體行業(yè)中,尺度測(cè)量的精度要求越來越高。共焦技術(shù)為滿足高分辨率的二維和三維測(cè)量要求提供了很好的方案。具體地,在共焦技術(shù)中,彩色共焦技術(shù)可以提高用于共焦測(cè)量的掃描機(jī)構(gòu)的效率,并且使掃描機(jī)構(gòu)更適合實(shí)時(shí)檢測(cè)。
在彩色共焦系統(tǒng)中,沿著光軸線分散著不同顏色的光線,因此,目標(biāo)物體只能反射小范圍的波長(zhǎng),并且由成像系統(tǒng)接收反射的波長(zhǎng)。然后,通過分析光譜,可以確定高度信息。光譜分析儀一般包括棱鏡、光柵(或過濾器)以及亮度感測(cè)裝置。
圖1示出了由傳統(tǒng)的共焦系統(tǒng)獲得的示例性彩色共焦信號(hào)光譜的曲線圖。圖中,光譜表示普通的彩色共焦信號(hào)。在曲線圖中,只有一個(gè)峰值,這表明系統(tǒng)只能接收聚焦光,而從物體表面反射的離焦光從針孔射出。換言之,通過查找脈沖信號(hào)或顏色的峰值位置就可以估算被檢測(cè)物體表面的高度,并且可以預(yù)先調(diào)整高度和顏色之間的關(guān)系。為了確定物體的整個(gè)形狀,需要沿著物體表面上的X-Y軸線進(jìn)行二維掃描。
為了進(jìn)一步提高彩色共焦系統(tǒng)的速度,可以用狹縫代替單個(gè)針孔點(diǎn)。公開號(hào)為2010/0188742的美國(guó)專利“狹縫掃描多波長(zhǎng)共焦透鏡模塊和使用其的狹縫掃描顯微系統(tǒng)和方法”公開了一種基于狹縫的彩色或多波長(zhǎng)掃描系統(tǒng)。然而,在這種系統(tǒng)中,由于未聚焦的光可以擴(kuò)散,并且沿著狹縫的方向到達(dá)相鄰像素,所以,串?dāng)_問題嚴(yán)重,降低了系統(tǒng)的深度檢測(cè)精度。
專利號(hào)9025245的美國(guó)專利“彩色共焦顯微鏡系統(tǒng)及其信號(hào)處理方法”公開了一種共焦系統(tǒng),其使用一對(duì)光纖模塊調(diào)節(jié)線性檢測(cè)光或平面檢測(cè)光。根據(jù)所述系統(tǒng)的描述,檢測(cè)光分別通過濾色片被分為兩個(gè)不同的圖像感測(cè)單元。通過這種方式,產(chǎn)生了兩個(gè)RGB圖像,并且可以根據(jù)這兩個(gè)圖像的亮度比值,實(shí)現(xiàn)目標(biāo)物體深度的計(jì)算或表面輪廓的重構(gòu)。然而,所述系統(tǒng)的嚴(yán)重缺陷為:因?yàn)槟承╇s散或未聚焦的光線也可以進(jìn)入系統(tǒng),造成亮度偏移,并且可以改變色率比值,但是,在本系統(tǒng)中,僅基于最大亮度比值計(jì)算高度信息,所以,這種系統(tǒng)的準(zhǔn)確性低。
因此,本發(fā)明的目的是通過調(diào)節(jié)光源的光譜以提高光色比運(yùn)算的準(zhǔn)確性。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種共焦掃描方法和系統(tǒng)。所述方法和系統(tǒng)可以檢測(cè)捕獲的每個(gè)圖像中的物體外形,同時(shí),能夠增強(qiáng)圖像中的高度分辨率,而且與現(xiàn)有技術(shù)相比,所述方法和系統(tǒng)有助于提高掃描速度。
根據(jù)本發(fā)明的第一方面,提供了一種使用共焦成像系統(tǒng)掃描物體表面的方法。所述方法包括以下步驟:當(dāng)分別用具有第一、第二和第三光譜波形的光線照射所述物體時(shí),獲取所述物體表面的第一、第二和第三共焦圖像;用照相機(jī)捕獲來自被第一、第二和第三光譜波形照射的所述物體的響應(yīng)信號(hào);以及基于所述捕獲的響應(yīng)信號(hào),確定對(duì)應(yīng)每張共焦圖像上多個(gè)點(diǎn)的所述物體表面的多個(gè)點(diǎn)的高度,其中,所述第一、第二和第三光譜波形各不相同,并且每個(gè)光譜波形的部分區(qū)域與其它任何一個(gè)光譜波形的部分區(qū)域重疊。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于先進(jìn)科技新加坡有限公司,未經(jīng)先進(jìn)科技新加坡有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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