[發明專利]APD的調試方法

有效

• 申請號: 201710120542.6
• 申請日: 2017-03-02
• 公開（公告）號: CN106841970B
• 公開（公告）日: 2020-09-11
• 發明（設計）人: 梁鵬;李佳東
• 申請（專利權）人: 成都優博創通信技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 泰和泰律師事務所 51219
• 代理人: 曾祥坤;楊栩

本發明提供一種APD的調試方法，包括如下步驟：①無光條件下在APD上加反向電壓Vapd；②APD產生的暗電流(Idark)通過電流鏡(2)鏡向后流入跨阻放大器(3)；③通過跨阻放大器(3)的輸出電壓(Vo)反算出APD的暗電流(Idark)；④判斷APD的暗電流(Idark)是否等于10μA，若是則此時的Vapd即為APD的擊穿電壓，若否則重新設置Vapd，返回步驟③；⑤測試APD在擊穿電壓下的靈敏度是否滿足要求。本發明能夠精確找到APD的Vbr，從而找到合理的反向工作電壓Vapd，精確、高效、一致性好，能提升光模塊生產良率，提高生產效率，降低生產成本。

技術領域

本發明涉及一種APD(雪崩光電二極管)，具體涉及一種APD的調試方法。

背景技術

在使用APD作接收端的光模塊生產過程中，正確的設置APD工作點才能保證光模塊收端靈敏度、過載以滿足行業內指標要求。合理的APD反向工作電壓Vapd通常與APD的擊穿電壓Vbr緊密相連(通常Vapd＝Vbr-X)，所以找到APD的Vbr對設置APD的工作電壓至關重要。

在現有調試光模塊方法中，通常根據測試模塊最佳靈敏度來反向調整Vapd，但最佳靈敏度點的Vapd通常是一個范圍(如圖1所示)，且每個APD的靈敏度存在差異，這樣無法保證模塊Vapd電壓的一致性。同時若某些APD靈敏度較差，不滿足要求，生產時卻需要花很多時間去調試選擇，生產效率低下。所以需要另一種精確、高效、一致性好的調試方法。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種精確、高效、一致性好的APD的調試方法。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

本發明提供一種APD的調試方法，其特征在于，包括如下步驟：①無光條件下在APD上加反向電壓Vapd；②APD產生的暗電流Idark通過電流鏡鏡像后流入跨阻放大器；③通過跨阻放大器的輸出電壓Vo反算出APD的暗電流Idark；④判斷APD的暗電流Idark是否等于10μA，若是則此時的反向電壓Vapd即為APD的擊穿電壓，若否則重新設置反向電壓Vapd，返回步驟③；⑤測試APD在擊穿電壓下的靈敏度是否滿足要求。其中，通過輸出電壓V0反算出APD暗電流時，在本發明實施例中是通過ADC模塊轉化后自動計算的，在其它實施例中也可以不經ADC模塊轉換直接由模擬電路計算。

優選的，步驟①中APD上的反向電壓起始值為廠家提供的APD典型值，即以廠家提供的APD典型值Vapd0為起點去調整Vapd。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：

本發明通過APD在高壓設置下產生一個未知暗電流，該暗電流經過電流鏡、跨阻放大器、ADC后被計算出該暗電流的具體值，通過判斷該暗電流是否滿足APD擊穿時的定義：

Idark＝10μA來確認是否準確找到APD的擊穿電壓。找到合理的工作電壓是通過計算判斷暗電流是否達到10μA來完成的，省去了不停測試靈敏度所耗費的時間，之后只需要測試一次靈敏度即可完成測試；當APD不合格時，也只需要找到當暗電流Idark等于10μA時對應的Vapd，之后測試一次該Vapd下的靈敏度，若不滿足要求，則說明此APD不符合要求。由此可見本發明能夠精確找到APD的Vbr，從而找到合理的反向工作電壓Vapd，精確、高效、一致性好，能提升光模塊生產良率，生產效率，降低生產成本。

附圖說明

圖1是APD靈敏度與電壓關系圖；

圖2是計算APD擊穿電壓方法硬件框圖。

具體實施方式