[發明專利]免對正軸心的影像測量裝置及其測量方法有效
| 申請號: | 201710119286.9 | 申請日: | 2017-03-02 |
| 公開(公告)號: | CN108534713B | 公開(公告)日: | 2019-08-06 |
| 發明(設計)人: | 林明慧 | 申請(專利權)人: | 林明慧 |
| 主分類號: | G01B11/25 | 分類號: | G01B11/25;G01B11/27 |
| 代理公司: | 北京中譽威圣知識產權代理有限公司 11279 | 代理人: | 王正茂;叢芳 |
| 地址: | 中國臺灣新竹縣竹東*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 待測工件 陰暗區域 旋轉盤 遮蔽 影像測量裝置 工件軸心 對正 中央控制處理單元 影像擷取單元 第一工件 測量 旋轉軸心位置 光投影單元 準確度 非接觸式 光線照射 旋轉軸心 影像測量 運算 相隔 估算 擺放 便利 | ||
1.一種免對正軸心的影像測量裝置,用以測量待測工件,其特征在于,所述免對正軸心的影像測量裝置包含:
旋轉盤,包含旋轉軸心位置,所述待測工件設于所述旋轉盤上;
光投影單元,產生光線沿照射路徑行進,所述照射路徑通過所述待測工件;
影像擷取單元,設于所述照射路徑上接收所述光線,且所述待測工件遮蔽部分所述光線,令所述影像擷取單元上形成第一工件遮蔽陰暗區域;
中央控制處理單元,信號連接所述旋轉盤、所述光投影單元及所述影像擷取單元,所述旋轉盤及所述待測工件受所述中央控制處理單元控制而旋轉一個旋轉角度,令所述影像擷取單元上形成第二工件遮蔽陰暗區域,所述中央控制處理單元依據所述第一工件遮蔽陰暗區域與所述第二工件遮蔽陰暗區域運算而產生旋轉前距離參數與旋轉后距離參數,且所述中央控制處理單元運算所述旋轉前距離參數與所述旋轉后距離參數而產生工件軸心位置;以及
旋轉驅動件,連接所述旋轉盤,所述旋轉驅動件受所述中央控制處理單元控制而轉動所述旋轉盤,令所述旋轉盤與所述待測工件同步轉動;
其中所述工件軸心位置與所述旋轉軸心位置相隔軸差間距,所述軸差間距用以判斷是否對正軸心;
其中所述旋轉盤的移動達一定轉動次數,所述轉動次數大于等于1,所述中央控制處理單元依據所述轉動次數、所述第一工件遮蔽陰暗區域及所述第二工件遮蔽陰暗區域運算而產生多組平行對邊的二條虛擬垂直邊線,所述多組平行對邊的二條虛擬垂直邊線環繞連接而形成虛擬多邊形,且所述中央控制處理單元依據所述虛擬多邊形、所述旋轉前距離參數及所述旋轉后距離參數計算所述工件軸心位置。
2.如權利要求1所述的免對正軸心的影像測量裝置,其特征在于,所述旋轉盤還包含:
虛擬旋轉軸心,垂直于XY平面,所述虛擬旋轉軸心對應所述旋轉軸心位置;以及
承載面,垂直相交于所述虛擬旋轉軸心且平行于所述XY平面,所述待測工件置于所述承載面上;
其中所述旋轉角度大于0度且小于180度,所述軸差間距大于等于0且小于所述旋轉盤的半徑。
3.如權利要求2所述的免對正軸心的影像測量裝置,其特征在于,所述第一工件遮蔽陰暗區域的形狀對應所述待測工件的輪廓,且所述第一工件遮蔽陰暗區域包含:
第一旋轉前輪廓邊線,位于所述虛擬旋轉軸心的一側;
第二旋轉前輪廓邊線,其與所述第一旋轉前輪廓邊線相隔一個旋轉前邊線距離;
第一旋轉前虛擬測量線,平行于所述XY平面,所述第一旋轉前虛擬測量線具有第一旋轉前距離,所述第一旋轉前距離代表所述第一旋轉前輪廓邊線與所述虛擬旋轉軸心之間的距離;以及
第二旋轉前虛擬測量線,銜接所述第一旋轉前虛擬測量線,所述第二旋轉前虛擬測量線平行于所述XY平面,所述第二旋轉前虛擬測量線具有第二旋轉前距離,所述第二旋轉前距離代表所述第二旋轉前輪廓邊線與所述虛擬旋轉軸心之間的距離;
其中所述旋轉軸心位置代表所述虛擬旋轉軸心與所述第一旋轉前虛擬測量線的交點,所述第一旋轉前距離與所述第二旋轉前距離由所述中央控制處理單元分別依據所述第一旋轉前虛擬測量線與所述第二旋轉前虛擬測量線運算求得,所述旋轉前距離參數包含所述第一旋轉前距離與所述第二旋轉前距離,所述旋轉前邊線距離為所述第一旋轉前距離與所述第二旋轉前距離相加的總和。
4.如權利要求3所述的免對正軸心的影像測量裝置,其特征在于,所述中央控制處理單元依據所述第一旋轉前虛擬測量線與所述第二旋轉前虛擬測量線運算而產生二條平行的虛擬垂直邊線,所述二條虛擬垂直邊線分別垂直于所述第一旋轉前虛擬測量線與所述第二旋轉前虛擬測量線,且所述二條虛擬垂直邊線分別跟所述第一旋轉前輪廓邊線與所述第二旋轉前輪廓邊線相切。
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