[發(fā)明專利]一種磁頭芯片智能測試系統(tǒng)

在審

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• 申請日: 2017-03-01
• 公開（公告）號: CN106841995A
• 公開（公告）日: 2017-06-13
• 發(fā)明（設計）人: 郭龍吉
• 申請（專利權）人: 吉安市井開區(qū)吉軍科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明涉及芯片測試技術領域，特別涉及一種磁頭芯片智能測試系統(tǒng)。

背景技術

隨著自動控制領域發(fā)展迅速，各種控制芯片在市場中都占有著巨大的份額。在芯片導入市場之前，需要進行詳細仔細的測試，以確保芯片功能的正確無誤和性能的達標可靠。公司設計的磁頭芯片，在出廠前要進行一次出場測試，芯片放進測試座里面，通過刷卡方式，測試芯片功能是否正常，如果采取人工方式，不僅效率低，而且成本又高，長期手工刷卡,刷卡速度不好掌控，手也受不起長時間這樣反復動作，嚴重影響了芯片的測試效率。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的即在于提供一種磁頭芯片智能測試系統(tǒng)及其測試方法，以達到提高芯片測試過程的智能化控制以及芯片測試效率的目的。

本發(fā)明所提供的一種磁頭芯片智能測試系統(tǒng)，具有中央處理器，中央處理器與外部的PC上位機相連，其特征在于，所述的中央處理器同時連接測試平臺，測試平臺上包括電路機構和機械機構，電路機構包括電源模塊，電源模塊連接中央處理器，機械機構包括機械臂、機械轉盤和機械下壓塊，電源模塊一端連接中央處理器，另一端輸出電源至機械轉盤，同時，機械臂、機械轉盤和機械下壓塊分別與中央處理器相連，所述機械臂又包括第一機械臂、第二機械臂、第三機械臂、第四機械臂，其中，機械轉盤上設有三個測試座，測試座中設置有IC卡槽，IC卡槽底部設有探針，測試座之間兩兩分別形成120度的夾角，第一機械臂與其距離最近的設置于機械轉盤上的一個測試座相對應，且與未測試IC裝料區(qū)相配合；機械下壓塊與其下方設置于機械轉盤上的一個測試座相對應；第二機械臂與其距離最近的設置于機械轉盤上的一個測試座相對應，且與測試過的IC分類歸放區(qū)相配合；磁條卡槽過第三機械臂與磁條卡槽相配合；NFC射頻卡通過第四機械臂與NFC磁場線圈相配合，此外，測試平臺上還設有光敏傳感器、距離傳感器以及揚聲器、紅綠雙色指示燈，其中，光敏傳感器、距離傳感器分別連接磁條卡槽、NFC磁場線圈，光敏傳感器用于監(jiān)控刷卡速度，距離傳感器用于監(jiān)控測試NFC射頻卡刷卡時的高度，并分別連接中央處理器；揚聲器、紅綠雙色指示燈分別與中央處理器相連，另外，PC上位機具有PC上位機軟件，所述PC上位機軟件上設有磁頭芯片測試控制程序。

進一步的，正常工作狀態(tài)下的紅綠雙色指示燈的綠燈處于點亮狀態(tài)。

進一步的，所述測試座中分別有兩個IC卡槽。

進一步的，所述磁頭芯片測試控制程序又包括測試控制程序以及報警控制程序。

進一步的，所述測試控制程序為協(xié)調中央處理器與測試平臺上的電路機構和機械機構之間工作的控制流程。

進一步的，所述報警控制程序為當檢測到測試條件不在設定的規(guī)范范圍內，暫停所有機械操作，當前測試任務被掛起，同時紅綠雙色指示燈的紅燈被點亮，揚聲器報警，排查后通過PC上位機上的繼續(xù)按鍵，被掛起的任務繼續(xù)執(zhí)行，紅燈熄滅，揚聲器關閉警報，同時綠燈點亮。

本發(fā)明所提供的一種磁頭芯片智能測試系統(tǒng)的測試方法，其特征在于，

包括以下步驟：

步驟1：通過第一機械臂上的兩個吸嘴，同時吸取兩個IC卡，并放置在與其距離最近的測試座里面，測試座裝好了2個IC卡后，PC機通過中央處理器控制機械轉盤操作，機械轉盤帶動其上的測量座逆時針轉動120度，使安裝兩個IC卡的測試座，在機械轉盤的帶動下，轉動至與機械下壓塊下方相對應的位置，機械下壓塊下壓，使兩個IC卡能與測試座中IC卡槽底部的探針接觸良好，此時步驟二開始運行，進行刷卡測試；

步驟2：兩個磁條卡垂直固定在第三機械臂上，使其能在相對應的卡槽里來回進行刷卡操作，PC上位機啟動刷磁條卡動作，通過第三機械臂，用事先設置好的速度做來往返兩次刷卡測試，其中，刷卡速度通過光敏傳感器進行監(jiān)控，此時步驟三開始運行；

步驟3：上位機啟動刷NFC射頻卡動作，兩張NFC射頻卡分別吸附至第四機械臂上，操作第四機械臂4，使兩張NFC射頻卡分別在相對應的在NFC磁場線圈上方事先設置好的高度位置，左右來回的移動，測試解碼能力，其中，NFC射頻卡在NFC磁場線圈上的高度由距離傳感器進行監(jiān)控，此時步驟四開始運行；

步驟4：刷卡測試完成后處于機械下壓塊下方的測試座，在PC機的控制下，機械轉盤帶動其上的測量座再次逆時針轉動120度，使經(jīng)機械下壓塊下壓后的測量座，轉至距離第二機械臂最近的位置，第二機械臂上的吸嘴把測試完后的IC卡吸取出來并放置分類歸放區(qū)進行分類歸放，重新運行步驟1。