[發明專利]一種定時同步DAC靜態參數測試方法

有效

• 申請號: 201710117673.9
• 申請日: 2017-03-01
• 公開（公告）號: CN106992782B
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 劉玉輝;邱孟通;陳偉;郭紅霞;郭曉強;張鳳祁;丁李利
• 申請（專利權）人: 湘潭大學;西北核技術研究所
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 陳廣民

1.一種定時同步DAC靜態參數測試方法，所述測試方法的測試模塊包括數字輸入模塊、模擬采集模塊及電源模塊；

所述數字輸入模塊提供被測DAC所需控制信號和數字信號輸入；

所述模擬采集模塊用于采集測量被測DAC模擬輸出；

所述電源模塊用于為被測DAC供電；

其特征在于：還包括控制器

所述控制器用于控制數字輸入模塊、模擬采集模塊，并執行數據處理，根據模擬采集模塊采集的原始數據計算相關靜態參數；

控制器采用PC計算機或Arm微機系統開發；

數字輸入模塊采用單片機或數字IO；

模擬采集模塊采用PXI、PCI的模塊化高精模擬采集卡

采用上述測試模塊的測試方法，包括以下步驟：

1)電源模塊給被測DAC供電；

2)向控制器輸入待測試碼的個數；

3)控制器向數字輸入模塊發送命令控制其將被測DAC的控制信號置為有效，并輸出第一個測試碼值；數字輸入模塊在控制器指令控制下以靜態輸出模式輸出數字信號，每次接收到控制器命令只輸出并維持在一個碼值；

4)控制器延時控制，延遲一個設定的時間T后控制器向模擬采集模塊發送命令控制模擬采集模塊采集DAC模擬輸出端電壓，并讀回數據緩存；

其中：T≥TPD+TSET；

TPD為DAC的傳輸延遲時間，TSET為DAC建立時間；

5)控制器向數字輸入模塊發送命令控制輸出下一個測試碼值；

6)重復執行步驟3至步驟5，直到完成所有設定的測試碼值的測試；

7)控制器根據緩存的所有測試數據計算DAC靜態參數。

2.根據權利要求1所述定時同步DAC靜態參數測試方法，其特征在于，靜態參數包括轉移特性曲線、增益、偏移、微分非線性、積分非線性、滿量程輸出。

3.根據權利要求2所述定時同步DAC靜態參數測試方法，其特征在于：所述模擬采集模塊的分辨率≥待測試DAC分辨率+4Bit。