[發(fā)明專利]一種塑料自封袋檢測(cè)系統(tǒng)及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710115768.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-02-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107014821B | 公開(公告)日: | 2020-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬亮;曾慶好;張偉;劉瑞河;劉俊峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市維圖視技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/89 | 分類號(hào): | G01N21/89 |
| 代理公司: | 深圳市順天達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 44217 | 代理人: | 高占元 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 塑料 自封 檢測(cè) 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種塑料自封袋檢測(cè)方法,采用塑料自封袋檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn),所述塑料自封袋檢測(cè)系統(tǒng)包括:
線掃描裝置,用于采集待檢測(cè)的塑料自封袋產(chǎn)品圖像;
檢測(cè)底座,用于承托所述塑料自封袋產(chǎn)品,所述檢測(cè)底座位于所述線掃描裝置下方;
安裝在所述檢測(cè)底座上的光電傳感器,用于檢測(cè)所述塑料自封袋產(chǎn)品是否到位;
吹氣裝置,用于按照預(yù)設(shè)程序?qū)⑺鏊芰献苑獯a(chǎn)品吹至預(yù)設(shè)位置;
電磁閥,用于控制所述吹氣裝置吹氣或停止吹氣,電性連接于所述吹氣裝置;
分別設(shè)置于所述檢測(cè)底座兩側(cè)的第一滾軸及第二滾軸,用于帶動(dòng)所述塑料自封袋產(chǎn)品在所述檢測(cè)底座上運(yùn)動(dòng);
驅(qū)動(dòng)電機(jī),用于驅(qū)動(dòng)所述第一滾軸及第二滾軸;
電機(jī)驅(qū)動(dòng)器,用于驅(qū)動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)帶動(dòng)所述第一滾軸及第二滾軸運(yùn)動(dòng),電性連接于所述驅(qū)動(dòng)電機(jī);
工控機(jī),分別連接于所述線掃描裝置、所述電磁閥、所述光電傳感器及所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)器;所述工控機(jī)包括:千兆網(wǎng)接口,連接至所述線掃描裝置以傳輸所述塑料自封袋產(chǎn)品的圖像數(shù)據(jù);I/O控制接口,連接至所述光電傳感器;RS232接口,連接至所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)器;VGA接口,連接至預(yù)設(shè)的顯示器;數(shù)字光源控制接口,連接至LED光源;
LED光源,用于為所述塑料自封袋產(chǎn)品補(bǔ)光,設(shè)置于所述檢測(cè)底座下側(cè),電性連接于所述工控機(jī);
豎直支架;
水平支架,所述水平支架的一端固定連接于所述豎直支架,另一端固定連接于所述線掃描裝置;所述線掃描裝置包括:線掃描相機(jī),所述線掃描相機(jī)的側(cè)面開設(shè)有開口,所述水平支架穿設(shè)于所述開口以固定所述線掃描相機(jī),所述線掃描相機(jī)電性連接于所述工控機(jī);線掃描鏡頭,設(shè)置于所述線掃描相機(jī)的下表面以對(duì)準(zhǔn)所述塑料自封袋產(chǎn)品;所述塑料自封袋產(chǎn)品與所述檢測(cè)底座的中心位于同一條中軸線上,所述檢測(cè)底座上開設(shè)有長(zhǎng)條形通孔,從而使所述塑料自封袋產(chǎn)品進(jìn)行線掃描;
其特征在于,包括:
藉由所述線掃描裝置采集塑料自封袋產(chǎn)品的圖像,并將所述圖像傳送至所述工控機(jī);
藉由所述工控機(jī)將所述圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖,并計(jì)算所述灰度圖與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)塑料自封袋產(chǎn)品的偏差,通過(guò)輪廓提取算法及最小外接四邊形算法獲取所述塑料自封袋產(chǎn)品的定位信息;該步驟包括:計(jì)算所述灰度圖與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)塑料自封袋產(chǎn)品的差值,并取所述差值的絕對(duì)值以獲取差值圖像;對(duì)所述差值圖像進(jìn)行圖像局部增強(qiáng)處理以獲取增強(qiáng)圖像,其中,增強(qiáng)處理包括:遍歷所述差值圖像的像素值,將大于預(yù)設(shè)指定值的像素值增加預(yù)設(shè)設(shè)定值,將小于或等于所述預(yù)設(shè)指定值的像素值置為零;采用輪廓提取算法對(duì)所述增強(qiáng)圖像進(jìn)行圖像輪廓檢測(cè),并對(duì)面積最大的輪廓采用最小外接四邊形算法進(jìn)行外接四邊形擬合處理,從而得到外接四邊形四個(gè)頂點(diǎn)的坐標(biāo);
依據(jù)所述定位信息判斷所述塑料自封袋產(chǎn)品是否存在缺陷;該步驟包括:判斷所述塑料自封袋產(chǎn)品是否存在袋邊黑點(diǎn)缺陷:通過(guò)定位信息獲取袋邊區(qū)域,對(duì)所述袋邊區(qū)域內(nèi)圖像進(jìn)行固定閾值二值化處理,計(jì)算袋邊區(qū)域非零點(diǎn)像素的袋邊總數(shù),判斷所述袋邊總數(shù)是否處于預(yù)設(shè)的第一閾值范圍內(nèi),若是,則判斷為無(wú)袋邊黑點(diǎn)缺陷,若否,則判斷為存在袋邊黑點(diǎn)缺陷;判斷所述塑料自封袋產(chǎn)品是否存在袋邊破裂缺陷:對(duì)所述袋邊區(qū)域內(nèi)圖像進(jìn)行自適應(yīng)閾值二值化處理,采用連通域提取算法獲取若干個(gè)連通區(qū)域,計(jì)算若干個(gè)所述連通區(qū)域的特征參數(shù),判斷所述特征參數(shù)是否處于預(yù)設(shè)的第二閾值范圍內(nèi),若是,則判斷為無(wú)袋邊破裂缺陷,若否,則判斷為袋邊破裂缺陷;判斷所述塑料自封袋產(chǎn)品是否存在袋體印花偏位缺陷:通過(guò)所述定位信息獲取袋體區(qū)域,對(duì)所述袋體區(qū)域內(nèi)圖像進(jìn)行局部圖像增強(qiáng)處理及腐蝕運(yùn)算,通過(guò)輪廓提取算法及最小外接四邊形算法對(duì)印花區(qū)域進(jìn)行定位,判斷所述印花區(qū)域的定位參數(shù)是否超出預(yù)設(shè)的第三閾值范圍,若是,則判斷為袋體印花偏位缺陷,若否,則判斷為無(wú)袋體印花偏位缺陷;判斷所述塑料自封袋產(chǎn)品是否存在袋體臟污缺陷:對(duì)所述袋體區(qū)域內(nèi)圖像進(jìn)行自適應(yīng)閾值二值化處理及腐蝕運(yùn)算,計(jì)算袋體區(qū)域非零點(diǎn)像素的袋體總數(shù),判斷所述袋體總數(shù)是否處于預(yù)設(shè)的第四閾值范圍內(nèi),若是,則判斷為無(wú)袋體臟污缺陷,若否,則判斷為袋體臟污缺陷;
控制所述吹氣裝置按照預(yù)設(shè)程序?qū)⑺鏊芰献苑獯a(chǎn)品吹至預(yù)設(shè)位置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市維圖視技術(shù)有限公司,未經(jīng)深圳市維圖視技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710115768.7/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





