[發(fā)明專利]電阻器篩選工藝方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710114168.9 | 申請(qǐng)日: | 2017-02-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106824833B | 公開(公告)日: | 2023-07-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 暢玢;簡(jiǎn)佩;韓玉成;徐敏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)振華集團(tuán)云科電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | B07C5/344 | 分類號(hào): | B07C5/344;B07C5/02 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 梁斌 |
| 地址: | 550000 貴州省貴陽(yáng)*** | 國(guó)省代碼: | 貴州;52 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電阻器 篩選 工藝 方法 | ||
1.一種電阻器篩選工藝方法,其特征在于,所述電阻器篩選工藝方法包括:
在預(yù)設(shè)定的第一溫度范圍下,利用充滿惰性氣體的烘箱對(duì)電阻器進(jìn)行烘烤預(yù)設(shè)定的第一時(shí)間;測(cè)量電阻器的電阻是否在預(yù)設(shè)定的電阻值范圍內(nèi);
若電阻器的電阻不在預(yù)設(shè)定的電阻值范圍內(nèi)時(shí),將該電阻器確定為不良品;
所述測(cè)量電阻器的電阻是否在預(yù)設(shè)定的范圍內(nèi)的步驟之后,所述電阻器篩選工藝方法還包括:
若電阻器的電阻在預(yù)設(shè)定的電阻值范圍內(nèi)時(shí),循環(huán)的將電阻器處于不同的溫度環(huán)境,并分別維持預(yù)設(shè)定的第二時(shí)間;
再次測(cè)量電阻器的電阻是否在預(yù)設(shè)定的電阻值范圍內(nèi);
若電阻器的電阻不在預(yù)設(shè)定的電阻值范圍內(nèi)時(shí),將該電阻器確定為不良品;所述電阻器包括有電極層,所述測(cè)量電阻器的電阻是否在預(yù)設(shè)定的范圍內(nèi)的步驟之后,所述電阻器篩選工藝方法還包括:
若電阻器的電阻在預(yù)設(shè)定的電阻值范圍內(nèi)時(shí),循環(huán)的將電阻器處于不同的溫度環(huán)境,并分別維持預(yù)設(shè)定的第二時(shí)間;
識(shí)別所述電極層的外觀是否發(fā)生變化;
若所述電極層的外觀發(fā)生變化時(shí),將該電阻器確定為不良品。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻器篩選工藝方法,其特征在于,所述不同的溫度環(huán)境包括有第二測(cè)試溫度及第三測(cè)試溫度,所述第二測(cè)試溫度的溫度范圍為110度~150度,所述第三測(cè)試溫度的溫度范圍為-50度~-80度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電阻器篩選工藝方法,其特征在于,所述第二測(cè)試溫度為125度,所述第三測(cè)試溫度為-65度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻器篩選工藝方法,其特征在于,所述預(yù)設(shè)定的第一溫度范圍為140度~160度,預(yù)設(shè)定的第一時(shí)間為96h~104h。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電阻器篩選工藝方法,其特征在于,所述第一溫度為150度,所述預(yù)設(shè)定的第一時(shí)間為100h。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻器篩選工藝方法,其特征在于,所述電阻器包括有電極層,所述測(cè)量電阻器的電阻是否在預(yù)設(shè)定的范圍內(nèi)的步驟之后,所述電阻器篩選工藝方法還包括:
若電阻器的電阻在預(yù)設(shè)定的電阻值范圍內(nèi)時(shí),識(shí)別所述電極層的外觀是否變化;
若所述電極層的外觀發(fā)生變化時(shí),將該電阻器確定為不良品。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電阻器篩選工藝方法,其特征在于,所述電阻器包括有鍍鎳層,在所述測(cè)量電阻器的電阻是否在預(yù)設(shè)定的電阻值范圍內(nèi)的步驟之后,所述方法還包括:
若電阻器的電阻在預(yù)設(shè)定的電阻值范圍內(nèi)時(shí),利用磁體對(duì)所述電阻器進(jìn)行吸附,若所述電阻器相對(duì)所述磁體發(fā)生脫落時(shí),將該電阻器確定為不良品。
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