[發明專利]一種液晶顯示面板

在審

• 申請號: 201710113270.7
• 申請日: 2017-02-28
• 公開（公告）號: CN106646953A
• 公開（公告）日: 2017-05-10
• 發明（設計）人: 侯鵬飛
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司11372
• 代理人: 吳大建

技術領域

本發明屬于液晶顯示技術領域，尤其涉及一種液晶顯示面板。

背景技術

隨著液晶顯示技術的發展，用戶對液晶顯示產品的要求呈現多元化，例如采用低溫多晶硅工藝(Low Temperature P-Si，LTPS)制作的FFS(Fringe Field Switching)小尺寸液晶顯示器，由于其主要應用于手持的移動設備中，因此在產品技術開發時，一般需求窄邊框以實現更好的用戶體驗。

窄邊框技術所面臨的主要問題是區域的透光率問題。邊框區域需要滿足透光率要求，因為在對基板進行貼合的時候，利用紫外線從基板一側照射框膠材料進行框膠的硬化，如果邊框區域的透光率較低，則對于框膠材料的粘附性以及窄膠寬和固化能力都存在比較大的考驗。而現有液晶顯示器的邊框區域除集成有繁復的驅動線路外，還設置有用于連接測試設備(例如陣列測試機ATS)的測試墊結構，這些結構均會降低邊框區域的透光率。

圖1為現有技術中一測試墊的結構示意圖，測試墊結構主要用于將從ATS接收到的測試信號傳輸至陣列基板顯示區域內的薄膜晶體管陣列，其用于傳輸測試信號的走線主要由金屬形成(如圖1中的12所示)。而金屬是一種不透光材料，因此大量的測試墊結構將導致邊緣電路在設計上沒有足夠的透光率。但若取消ATS測試設計，即無法實現對產線的監控攔檢作用，公司則如同閉門造車，無法及時確認TFT制程狀況，造成的成本損失不可估量。

發明內容

本發明所要解決的技術問題之一是需要提供一種測試墊結構以增加液晶顯示面板邊框區域的透光率。

為了解決上述技術問題，本申請的實施例首先提供了一種液晶顯示面板，其包括的陣列基板被劃分為顯示區域和非顯示區域，在所述非顯示區域內設置有用于連接測試設備的多個測試墊，所述測試墊包括：表面接觸層，用于接收所述測試設備輸出的測試信號；信號傳遞層，用于將所述測試信號傳輸至所述顯示區域；所述信號傳遞層由金屬形成，且被劃分成鏤空區域和非鏤空區域；保護層，設置于所述表面接觸層與所述信號傳遞層之間，所述保護層具有過孔，所述過孔用于使所述表面接觸層與所述信號傳遞層的非鏤空區域相連通，以使所述測試信號被傳輸給所述信號傳遞層。

優選地，所述信號傳遞層的鏤空區域的面積與所述測試墊占據所述非顯示區域的面積的比值大于25％。

優選地，所述信號傳遞層的非鏤空區域對應所述測試墊的中心區域設置；所述過孔的數量為1，并且所述過孔對應所述測試墊的中心區域設置。

優選地，所述非鏤空區域由所述信號傳遞層包括的多個分立的區塊形成；所述過孔的數量等于所述區塊的數量，且所述過孔與所述區塊一一對應。

優選地，所述區塊的數量小于或等于4。

優選地，所述信號傳遞層的金屬形成網格狀結構；在與所述網格狀結構中的非鏤空網格相對應的位置處設置有多個過孔。

優選地，所述網格狀結構中的非鏤空網格的行數/列數小于或等于5。

優選地，所述表面接觸層與所述陣列基板的透明電極層同層設置。

優選地，所述信號傳遞層與所述陣列基板的第二金屬層同層設置。

與現有技術相比，上述方案中的一個或多個實施例可以具有如下優點或有益效果：

通過改變信號傳遞層的面積形態，進而變更測試墊的結構，在滿足陣列測試機扎針訊號順利從測試墊的表面接觸層傳輸至信號傳遞層的同時，提升邊框區域的邊緣透光率，以不影響后段液晶盒成盒工藝制程的框膠的固化。

本發明的其他優點、目標，和特征在某種程度上將在隨后的說明書中進行闡述，并且在某種程度上，基于對下文的考察研究對本領域技術人員而言將是顯而易見的，或者可以從本發明的實踐中得到教導。本發明的目標和其他優點可以通過下面的說明書，權利要求書，以及附圖中所特別指出的結構來實現和獲得。

附圖說明

附圖用來提供對本申請的技術方案或現有技術的進一步理解，并且構成說明書的一部分。其中，表達本申請實施例的附圖與本申請的實施例一起用于解釋本申請的技術方案，但并不構成對本申請技術方案的限制。

圖1為現有技術中的測試墊結構的示意圖；

圖2為根據第一實施例的測試墊結構的示意圖；

圖3為根據第二實施例的測試墊結構的示意圖；

圖4為根據第三實施例的測試墊結構的示意圖。

具體實施方式