[發明專利]一種固態硬盤數據巡檢的優化方法及裝置

有效

• 申請號: 201710110256.1
• 申請日: 2017-02-27
• 公開（公告）號: CN106910528B
• 公開（公告）日: 2020-05-29
• 發明（設計）人: 劉哲;劉冬好;王杰華;黎劍坤
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G11C29/42
• 分類號: G11C29/42
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發明公開了一種固態硬盤數據巡檢的優化方法及裝置，該方法包括：獲取固態硬盤SSD的溫度信息，根據Nand flash數據保持時間和所述溫度信息對巡檢觸發周期進行更新；依據更新后的巡檢觸發周期進行數據巡檢；查找包含有效數據的物理頁；對所述物理頁進行ECC錯誤檢查，若所述物理頁中錯誤位error bit的個數超過預設閾值，將所述物理頁進行數據搬移。該方法實現提高數據可靠性。

技術領域

本發明涉及計算機存儲技術領域，特別是涉及一種固態硬盤數據巡檢的優化方法及裝置。

背景技術

目前，隨著云計算、物聯網和半導體技術的進展，固態硬盤作為新的一代存儲廣泛應用在各種計算設備中。由于Nand Flash存儲器的物理特性，容易造成位翻轉和壞塊錯誤，有必要對固態硬盤SSD進行數據巡檢。

目前的固態硬盤數據巡檢方法包括：1.確定巡檢周期；2.定期觸發巡檢。現有的數據巡檢方法在實際使用時，并沒有考慮系統的實際運行狀態對SSD數據保持時間的影響，系統溫度高時，容易造成巡檢不足的問題，系統溫度低時，容易造成巡檢過頻的問題，而且沒有考慮對用戶讀寫性能的影響，容易造成讀寫延遲增加。這些情況造成了數據巡檢無法保證數據可靠性，降低讀寫性能等問題，因此如何提高數據可靠性是亟待解決的問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種固態硬盤數據巡檢的優化方法及裝置，以實現提高數據可靠性。

為解決上述技術問題，本發明提供一種固態硬盤數據巡檢的優化方法，該方法包括：

獲取固態硬盤SSD的溫度信息，根據Nand flash數據保持時間和所述溫度信息對巡檢觸發周期進行更新；

依據更新后的巡檢觸發周期觸發數據巡檢；

查找包含有效數據的物理頁；

對所述物理頁進行ECC錯誤檢查，若所述物理頁中錯誤位error bit的個數超過預設閾值，將所述物理頁進行數據搬移。

優選的，所述依據更新后的巡檢觸發周期觸發數據巡檢，包括：

依據更新后的巡檢觸發周期和上一次巡檢時間判斷是否觸發數據巡檢，若是，開啟數據巡檢。

優選的，所述查找包含有效數據的物理頁，包括：

獲取物理塊的狀態，若物理塊的狀態為被使用狀態，查看物理塊的有效數據幀位圖，查找到包含有效數據的物理頁。

優選的，所述對所述物理頁進行ECC錯誤檢查，若所述物理頁中錯誤位error bit的個數超過預設閾值，將所述物理頁進行數據搬移，包括：

對所述物理頁進行ECC錯誤檢查，查找物理頁中的錯誤位error bit；

判斷所述錯誤位error bit的個數是否超過預設閾值，若是，將所述物理頁進行數據搬移。

本發明還提供一種固態硬盤數據巡檢的優化裝置，用于實現所述固態硬盤數據巡檢的優化方法，該裝置包括：

更新模塊，用于獲取固態硬盤SSD的溫度信息，根據Nand flash數據保持時間和所述溫度信息對巡檢觸發周期進行更新；

觸發模塊，用于依據更新后的巡檢觸發周期觸發數據巡檢；

查找模塊，用于查找包含有效數據的物理頁；

搬移模塊，用于對所述物理頁進行ECC錯誤檢查，若所述物理頁中錯誤位errorbit的個數超過預設閾值，將所述物理頁進行數據搬移。

優選的，所述觸發模塊具體用于依據更新后的巡檢觸發周期和上一次巡檢時間判斷是否觸發數據巡檢，若是，開啟數據巡檢。