[發明專利]一種局部放電實驗聯接螺栓結構

在審

• 申請號: 201710108883.1
• 申請日: 2017-02-27
• 公開（公告）號: CN106917802A
• 公開（公告）日: 2017-07-04
• 發明（設計）人: 邵振華
• 申請（專利權）人: 廈門理工學院
• 主分類號: F16B35/00
• 分類號: F16B35/00;H01H71/08
• 代理公司: 廈門智慧呈睿知識產權代理事務所(普通合伙)35222
• 代理人: 楊唯

技術領域

本發明涉及斷路器技術領域，具體為一種局部放電實驗聯接螺栓結構。

背景技術

迄今為止，從全球范圍內應用的各類中壓斷路器的市場來看，真空斷路器以百分之六十五以上的占有率位居第一。本次畢業設計項目即以ABB現有VD4真空斷路器的產品性能及數據作為基礎，在保證提高產品的品質的基礎之上，進行斷路器觸臂的優化設計，方案研究及成本分析，最終選出最優方案，達到降低生產成本的目的。通過理論可操作性以及年度銷售量選擇并確定出需優化的斷路器。探究斷路器的基本原理，并且對其主回路的觸臂系統進行剖析，選取平衡點以保證觸臂在溫升與絕緣兩部分能夠達到國際標準。同時保證斷路器能達到正常性能指標，最后選擇最適用的方案對現有的觸臂方案進行改造和優化。

新觸臂系統經過絕緣試驗、動熱穩定性試驗以及溫升試驗，可以確認優化后的Classica VD4 24-12-31完全符合國家以及行業相關標準，在保證其可操作性的前提下，加強了可靠性，同時將生產成本有效地減少。其中節約成本主要包括兩大方面：第一個是耗材方面，減少了相對昂貴的銅材料耗材，但又保證了系統的基本運行和可靠，經過計算，新觸臂系統方案減少了大約65％的成本；第二個是組裝工時方面，新觸臂系統方案裝配更加簡單，零件少，也減少了材料管理的工時成本。這樣一個優化方案完全符合這次畢業設計課題的要求，結合該產品的年度銷售量，這個方案所節約的成本是十分可觀的。

在斷路器局部放電實驗中，需要將被實驗樣品通過螺栓連接起來，目前連接螺栓都采用標準件螺栓，但在局部放電實驗中受環境和電壓的影響，標準件螺栓的棱邊會出現電暈放電現象，直接影響局部放電實驗結果，且在局部放電試驗中需要個部件緊密連接，不能出現部件之間的松動，所以需要一種局部放電實驗聯接螺栓結構。

發明內容

(一)解決的技術問題

針對現有技術的不足，本發明提供了一種局部放電實驗聯接螺栓結構，解決了電暈現象和測試件實驗電壓的問題。

(二)技術方案

為實現以上目的，本發明通過以下技術方案予以實現：一種局部放電實驗聯接螺栓結構，包括聯接螺栓柱和電暈屏蔽頭，所述聯接螺栓柱的表面設置有聯接螺紋，所述聯接螺栓柱的頂部固定連接有聯接頭，所述聯接頭的表面開設有第一連接孔，所述電暈屏蔽頭的底部開設有連接滑槽，所述電暈屏蔽頭的表面分別開設有第二連接孔和第一緊固孔，所述第二連接孔與連接滑槽連通。

所述聯接螺紋的表面分別螺紋連接有銅排軟連接、連接測試件和第一緊固螺母，所述電暈屏蔽頭的下表面固定連接有第一防滑凸點，所述第一防滑凸點的表面與銅排軟連接的上表面固定連接，所述銅排軟連接的下表面固定連接有第二防滑凸點，所述第二防滑凸點的下表面與連接測試件的上表面固定連接。

優選的，所述第一連接孔分別通過左固定螺栓和右固定螺栓與第二連接孔螺紋連接，所述左固定螺栓和右固定螺栓的表面均開設有緊固槽，所述緊固槽的內部滑動連接有堵塊。

優選的，所述第一緊固螺母的表面開設有第二緊固孔，所述第一緊固螺母呈圓柱形狀。

優選的，所述聯接螺紋的表面螺紋連接有第二緊固螺母，所述第二緊固螺母位于第一緊固螺母的下表面，所述第二緊固螺母的表面呈圓弧形狀。

優選的，所述電暈屏蔽頭的表面呈半球形狀，所述第一緊固孔的內壁呈圓弧形狀。

優選的，所述連接滑槽的內部與聯接頭的表面滑動連接，所述連接滑槽的深度與聯接頭的高度相等。

(三)有益效果

本發明提供了一種局部放電實驗聯接螺栓結構，具備以下有益效果：

(1)、該局部放電實驗聯接螺栓結構，通過設置半球形狀的電暈屏蔽頭，達到了對標準件螺栓頭棱邊電暈現象避免的效果，通過設置圓弧形狀的第一緊固螺母，達到了對銅排軟連接和連接測試件進行固定的效果，避免銅排軟連接和連接測試件松動時導致實驗電壓變化而影響實驗結果的問題。

(2)、該局部放電實驗聯接螺栓結構，通過設置圓弧形狀的第二緊固螺母，能夠使第一緊固螺母更加緊固，避免第一緊固螺母出現松動的問題，通過設置堵塊，能夠有效避免緊固槽出現電暈現象，通過設置第一緊固孔和第二緊固孔，能夠有效增強對電暈屏蔽頭和第一緊固螺母的緊固效果，可通過棍棒插入第一緊固孔和第二緊固孔分別對電暈屏蔽頭和第一緊固螺母實現緊固松開，通過設置第一防滑凸點和第二防滑凸點，能夠有效降低銅排軟連接和連接測試件出現相對位移滑動的可能性，增大接觸面積，使得實驗電壓更加穩定，從而有效的解決了電暈現象和測試件實驗電壓的問題。

附圖說明