[發明專利]產品生命周期建模方法、裝置及電子設備

在審

• 申請號: 201710104199.6
• 申請日: 2017-02-24
• 公開（公告）號: CN106897904A
• 公開（公告）日: 2017-06-27
• 發明（設計）人: 張曉陽
• 申請（專利權）人: 北京金山安全軟件有限公司
• 主分類號: G06Q30/02
• 分類號: G06Q30/02
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙)11201
• 代理人: 張潤

1.一種產品生命周期建模方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取樣本函數；

統計產品生命周期基于前預設天數中留存率的實際值；

根據所述實際值確定樣本函數的參數，并基于所述參數確定所述產品生命周期對應的留存率預測函數；

對所述留存率預測函數進行分段積分運算；

基于所述積分運算得到的函數對所述產品生命周期進行預測，以對所述產品生命周期進行建模。

2.如權利要求1所述的產品生命周期建模方法，其特征在于，所述獲取樣本函數，包括：

基于所述產品生命周期的歷史樣本數據，確定對數形式的樣本函數。

3.如權利要求1所述的產品生命周期建模方法，其特征在于，所述預設天數包括不相同的第一預設天數和第二預設天數，所述統計產品生命周期基于前預設天數中留存率的實際值，包括：

獲取對所述產品生命周期進行建模的當天，基于天數時間軸上的天數信息；

判斷所述天數信息是否達到所述第一預設天數；

若未達到所述第一預設天數，則統計產品生命周期基于前第一預設天數中留存率的實際值；

若達到所述第一預設天數，則統計產品生命周期基于前第二預設天數中留存率的實際值。

4.如權利要求3所述的產品生命周期建模方法，其特征在于，所述留存率預測函數為分段函數，所述根據所述實際值確定樣本函數的參數，并基于所述參數確定所述產品生命周期對應的留存率預測函數，包括：

根據所述前第一預設天數中留存率的實際值確定第一樣本函數；

根據所述第一預設天數之后留存率的實際值確定第二樣本函數；

將所述第一樣本函數和所述第二樣本函數的加和，作為所述對應的留存率預測函數。

5.如權利要求3或4所述的產品生命周期建模方法，其特征在于，所述第一預設天數為30天，所述第二預設天數為60天。

6.一種產品生命周期建模裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取樣本函數；

統計模塊，用于統計產品生命周期基于前預設天數中留存率的實際值；

確定模塊，用于根據所述實際值確定樣本函數的參數，并基于所述參數確定所述產品生命周期對應的留存率預測函數；

運算模塊，用于對所述留存率預測函數進行分段積分運算；

預測模塊，用于基于所述積分運算得到的函數對所述產品生命周期進行預測，以對所述產品生命周期進行建模。

7.如權利要求6所述的產品生命周期建模裝置，其特征在于，所述獲取模塊具體用于：

基于所述產品生命周期的歷史樣本數據，確定對數形式的樣本函數。

8.如權利要求6所述的產品生命周期建模裝置，其特征在于，所述預設天數包括不相同的第一預設天數和第二預設天數，所述統計模塊，包括：

獲取子模塊，用于獲取對所述產品生命周期進行建模的當天，基于天數時間軸上的天數信息；

判斷子模塊，用于判斷所述天數信息是否達到所述第一預設天數；

統計子模塊，用于在未達到所述第一預設天數時，統計產品生命周期基于前第一預設天數中留存率的實際值，在達到所述第一預設天數時，統計產品生命周期基于前第二預設天數中留存率的實際值。

9.如權利要求8所述的產品生命周期建模裝置，其特征在于，所述留存率預測函數為分段函數，所述確定模塊具體用于：

根據所述前第一預設天數中留存率的實際值確定第一樣本函數；

根據所述第一預設天數之后留存率的實際值確定第二樣本函數；

將所述第一樣本函數和所述第二樣本函數的加和，作為所述對應的留存率預測函數。

10.一種電子設備，其特征在于，包括以下一個或多個組件：處理器，存儲器，電源電路，多媒體組件，音頻組件，輸入/輸出(I/O)的接口，傳感器組件，以及通信組件；其中，電路板安置在殼體圍成的空間內部，所述處理器和所述存儲器設置在所述電路板上；所述電源電路，用于為所述電子設備的各個電路或器件供電；所述存儲器用于存儲可執行程序代碼；所述處理器通過讀取所述存儲器中存儲的可執行程序代碼來運行與所述可執行程序代碼對應的程序，以用于執行：

獲取樣本函數；

統計產品生命周期基于前預設天數中留存率的實際值；

根據所述實際值確定樣本函數的參數，并基于所述參數確定所述產品生命周期對應的留存率預測函數；

對所述留存率預測函數進行分段積分運算；

基于所述積分運算得到的函數對所述產品生命周期進行預測，以對所述產品生命周期進行建模。