[發明專利]一種核電廠爆破閥爆破組件性能測試裝置有效
| 申請號: | 201710101878.8 | 申請日: | 2017-02-24 |
| 公開(公告)號: | CN108507762B | 公開(公告)日: | 2023-08-25 |
| 發明(設計)人: | 李瑋;俞照輝;閆國華;文忠 | 申請(專利權)人: | 國核電站運行服務技術有限公司 |
| 主分類號: | G01M13/003 | 分類號: | G01M13/003;G01M13/00;G01D21/02 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 沈金美 |
| 地址: | 200233 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 核電廠 爆破 組件 性能 測試 裝置 | ||
本發明提供一種核電廠爆破閥爆破組件性能測試裝置,包括多個由內置外依次可拆卸套裝的密閉筒、覆蓋在多個密閉筒上端的密閉筒壓蓋、覆蓋在密閉筒壓蓋上端的爆破組件壓蓋、以及數據采集盒,每個密閉筒中都設有開口朝上、且被密閉筒壓蓋封堵的容腔,爆破組件壓蓋和密閉筒壓蓋的相接處開設有用于容置待測試的爆破組件的置物腔,密閉筒壓蓋中開設有氣孔,置物腔通過氣孔與最內側密閉筒的容腔相連通;還包括多個分別與各密閉筒的容腔相配合、且通過可斷連接塊連接于各密閉筒的活塞,每個密閉筒在容腔的下端都固設有位于活塞正下方的測力傳感器,測力傳感器與數據采集盒相連接。本申請有效節省存放場地,適用于多種尺寸規格的爆破閥爆破組件的性能測試。
技術領域
本發明涉及爆破裝置性能試驗領域,特別是涉及一種核電廠爆破閥爆破組件性能測試裝置。
背景技術
根據AP1000/CAP1400核電廠爆破閥失效模式分析、設計規格書以及在役檢查試驗推薦文件的要求,爆破閥在每次換料大修期間需要起爆并更換爆破閥的爆破組件,確保爆破閥的可靠性,爆破閥爆破組件性能測試裝置用以實現該試驗,并獲得一些列測試數據。
目前,爆破閥爆破組件性能測試裝置有以下兩種測試方法:方法一、采用測量裝置腔內峰值壓力、以及到達壓力下限的時間來判定爆破組件的性能是否達標,此類測試裝置測量的數據為腔內壓力,故其無法直觀判斷爆破組件的性能,且用于獲取腔內壓力數值的壓力傳感器的使用壽命較短,測量多次后需要更換壓力傳感器,成本較高;方法二、在測試裝置上設置不同厚度的銅片或鋼片,驅動爆破組件爆炸后所產生的高壓氣體,通過觀察該銅片或鋼片是否被高壓氣體所沖破來判斷爆破組件的性能,該方法雖然能夠直觀地判斷爆破組件的性能,但其需要通過精確計算所需銅片或鋼片的厚度,且其無法得到爆破組件更加詳細的性能數據。
同時,同一電廠無論是AP1000核電廠或CAP1400核電廠均有2種尺寸規格的爆破閥在役,而現行測試裝置只能針對一個尺寸的爆破閥進行測試,故需要同時準備2套以上的測試裝置,給設備存放帶來一定困難。
發明內容
鑒于以上所述現有技術的缺點,本發明的目的在于提供一種核電廠爆破閥爆破組件性能測試裝置,其適用于多種尺寸規格的爆破閥的爆破組件,并可有效地評估爆破組件的性能。
為實現上述目的,本發明提供一種核電廠爆破閥爆破組件性能測試裝置,包括多個由內置外依次可拆卸套裝的密閉筒、覆蓋在多個密閉筒上端的密閉筒壓蓋、覆蓋在密閉筒壓蓋上端的爆破組件壓蓋、以及數據采集盒,每個密閉筒中都設有開口朝上、且被密閉筒壓蓋封堵的容腔,所述爆破組件壓蓋和密閉筒壓蓋的相接處開設有用于容置待測試的爆破組件的置物腔,所述密閉筒壓蓋中還開設有氣孔,所述置物腔通過氣孔與最內側密閉筒的容腔相連通;還包括多個分別與各密閉筒的容腔相配合、且通過可斷連接塊連接于各密閉筒的活塞,每個密閉筒在容腔的下端都固設有位于活塞正下方的測力傳感器,所述測力傳感器與數據采集盒相連接。
優選地,每個活塞的下端面上固設有加速度傳感器,所述加速度傳感器與數據采集盒相連接。
進一步地,所述活塞的外周面上開設有水平延伸的固定槽,所述密閉筒的內周面上設有第一臺階部,所述可斷連接塊的一端鑲嵌在活塞的固定槽中,可斷連接塊的另一端擱置于密閉筒的第一臺階部上。
優選地,內外相鄰的兩個密閉筒中,位于內側的密閉筒上端的外周設有向外水平延伸的凸緣,位于外側的密閉筒上端的內周設有第二臺階部,內側密閉筒的凸緣擱置于外側密閉筒的第二臺階部上。
進一步地,每個密閉筒都包括筒體和底蓋,所述容腔上下貫通筒體,所述底蓋固定于筒體的下端、并封堵容腔的下端,所述測力傳感器固定在底蓋的上端面上。
優選地,所述測力傳感器與底蓋通過頂緊螺栓可拆卸連接。
優選地,內側密閉筒的筒體與外側密閉筒的筒體通過螺栓可拆卸連接。
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