[發明專利]一種差分信號的測量方法及測量系統

在審

• 申請號: 201710100228.1
• 申請日: 2017-02-23
• 公開（公告）號: CN106872744A
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發明（設計）人: 錢文秀
• 申請（專利權）人: 上海斐訊數據通信技術有限公司
• 主分類號: G01R13/00
• 分類號: G01R13/00
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所31251
• 代理人: 郭桂峰

技術領域

本發明屬于信號測量技術領域，特別涉及差分信號的測量方法及測量系統。

背景技術

目前，差分信號已成為信號測量中的必測項，尤其是差分時鐘信號。差分時鐘信號是芯片寫入地址/命令信號、或寫入/讀出數據信號等操作的主要依據。其中，智能終端上常見的差分時鐘信號有總線時鐘信號及內存芯片時鐘信號等。因此，差分時鐘信號的測量就變得尤為重要。

由于差分探棒具有帶寬、保真度、可用性、共模抑制等優點，一般測量差分信號的方法是采用差分探棒進行測量，無論是點觸式差分探棒或焊接式差分探棒，均使差分探棒的正極可靠端接觸到差分信號的正信號，差分探棒的負極可靠端接觸到差分信號的負信號，使用示波器抓取波形。

但是隨著科技技術的發展，元器件的封裝越來越小，硬件電路圖的設計越來越復雜；并且，差分探頭結構較為復雜、體積較大、使用不太方便。采用點觸或焊接的方式使用差分探棒來測量差分時鐘信號顯得比較困難。

其困難在于：(一)、在使用差分探棒進行點觸式測量差分信號時，容易因手抖而造成信號明顯的抖動，或造成電路短路，使得差分探頭無法在電路板上狹窄區域內進行探測。(二)、在使用差分探棒進行焊接式測量差分時鐘信號時，在元器件比較密集的情況下，將探棒焊接在測試位置時，其焊接難度明顯增大，并極易導致短路。

發明內容

本發明提供的技術方案如下：

本發明提供一種差分信號的測量方法，包括以下步驟：S10、根據兩根單端探棒探測電路板上一測試點時所產生的信號波，消除兩根單端探棒對應信號波之間的延時；S20、利用消除延時后的兩根單端探棒，探測電路板上兩處測試點時產生正、負探測信號；S40、根據所述正、負探測信號，計算出所述測試點處的差分信號。

進一步，所述步驟S10進一步包括：S11、利用兩根單端探棒探測所述電路板上同一測試點時，產生存在延時的兩條信號波；S12、調整兩條信號波對應的信號波形，消除兩條信號波之間的延時。

進一步，在所述步驟S40之前還包括：S30、根據所述正、負探測信號對應的正、負探測信號波，識別出所述正、負探測信號波的波形是否與預設正、負探測信號波的波形一致；若所述正、負探測信號波的波形與預設探測信號波的波形一致時，跳轉至步驟S40。

進一步，還包括以下步驟：S50、根據所述正、負探測信號對應的正、負探測信號波，得到所述正負探測信號波的相關參數，所述相關參數包括頻率、峰值、谷值。

進一步，在所述步驟S10之前還包括：S01、在所述電路板上查找出兩處測試點；S02、將所述兩根單端探棒分別連接于兩處測試點、兩根等長地線，兩根等長地線焊接在靠近所述測試點的同一位置處。

本發明還提供一種差分信號的測量系統，包括兩根單端探棒、示波器，所述示波器還包括：延時消除模塊，用于根據兩根單端探棒探測電路板上一測試點時所產生的信號波，消除兩根單端探棒對應信號波之間的延時；信號產生模塊，用于利用消除延時后的兩根單端探棒，探測電路板上兩處測試點時產生正、負探測信號；信號計算模塊，用于根據所述正、負探測信號，計算出所述測試點處的差分信號。

進一步，所述信號產生模塊，還用于利用兩根單端探棒探測所述電路板上同一測試點時，產生存在延時的兩條信號波；所述延時消除模塊，還用于調整兩條信號波對應的信號波形，消除兩條信號波之間的延時。

進一步，所述示波器還包括：波形識別模塊，用于根據所述正、負探測信號對應的正、負探測信號波，識別出所述正、負探測信號波的波形是否與預設正、負探測信號波的波形一致。

進一步，所述信號計算模塊，還用于根據所述正、負探測信號對應的正、負探測信號波，得到所述正負探測信號波的相關參數，所述相關參數包括頻率、峰值、谷值。

進一步，所述兩根單端探棒分別連接于兩處測試點、兩根等長地線，兩處測試點位于所述電路板上；兩根等長地線焊接在靠近所述測試點的同一位置處。

與現有技術相比，本發明提供的一種差分信號的測量方法及測量系統，具有以下有益效果：

1)、本發明由于單端探棒具有結構簡單、體積較小、使用方便等優點，單端探棒更適用于元器件比較密集的電路板，可在電路板上狹窄區域內進行探測。在測試差分信號時，在消除兩根單端探棒之間的延時后，利用兩根單端探棒探測測試點時，兩根單端探棒分別量測差分信號的正、負信號線，產生正、負探測信號；再根據正、負探測信號，從而計算出差分信號。