[發(fā)明專利]基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710098496.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-02-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106910759A | 公開(公告)日: | 2017-06-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 呂杭炳;羅慶;許曉欣;龍世兵;劉琦;劉明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L27/24 | 分類號(hào): | H01L27/24;H01L45/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司11021 | 代理人: | 喬?hào)|峰 |
| 地址: | 100029 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 過(guò)渡 金屬 氧化物 選擇器 及其 制備 方法 | ||
1.一種基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器的制備方法,包括如下步驟:
S1、在晶體管上形成鎢栓塞;
S2、以鎢栓塞作為下電極,并在鎢栓塞上制備過(guò)渡金屬層;
S3、氧化過(guò)渡金屬層,使之轉(zhuǎn)化為過(guò)渡金屬氧化物層;
S4、在過(guò)渡金屬氧化物上沉積上電極,圖形化上電極和過(guò)渡金屬氧化物。
2.如權(quán)利要求1所述的基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器的制備方法,其特征在于,所述過(guò)渡金屬為Ta、Ti、Zr、Hf、Nb中的至少一種。
3.如權(quán)利要求2所述的基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器的制備方法,其特征在于,所述過(guò)渡金屬層的厚度為2nm至8nm。
4.如權(quán)利要求1所述的基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器的制備方法,其特征在于,所述步驟S3通過(guò)退火處理使過(guò)渡金屬層轉(zhuǎn)化為過(guò)渡金屬氧化物層。
5.如權(quán)利要求4所述的基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器的制備方法,其特征在于,在等離子氧環(huán)境中進(jìn)行所述退火處理。
6.如權(quán)利要求5所述的基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器的制備方法,其特征在于,所述退火處理的條件為:溫度在350攝氏度至400攝氏度、時(shí)間為60秒至400秒。
7.如權(quán)利要求4所述的基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器的制備方法,其特征在于,所形成的過(guò)渡金屬氧化物具有梯形能帶。
8.如權(quán)利要求1所述的基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器的制備方法,其特征在于,所述上電極為Pt、W、Ru、Al、TiN、TaN、IrO2、ITO、IZO中的至少一種。
9.一種基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器,由權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器的制備方法所制備。
10.一種阻變存儲(chǔ)器,包括如權(quán)利要求9所述的基于過(guò)渡金屬氧化物的選擇器。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





