[發明專利]一種用于真空腔室的加熱裝置在審
| 申請號: | 201710098425.4 | 申請日: | 2017-02-23 |
| 公開(公告)號: | CN106906448A | 公開(公告)日: | 2017-06-30 |
| 發明(設計)人: | 王長梗;關江敏 | 申請(專利權)人: | 北京創世威納科技有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/35 | 分類號: | C23C14/35 |
| 代理公司: | 北京尚德技研知識產權代理事務所(普通合伙)11378 | 代理人: | 陳曉平 |
| 地址: | 100085 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 空腔 加熱 裝置 | ||
1.一種磁控濺射鍍膜方法裝置,其特征在于,所述真空腔室設置有至少一個圓形磁控靶,其安裝在所述圓形磁控靶下方,其用于對多個圓形樣片進行磁控濺射,其包括同軸設置的定齒輪、可旋轉的公轉支撐盤和可旋轉的加熱盤,所述公轉支撐盤沿周向均布有多個可旋轉的自轉樣片盤,所述自轉樣片盤的軸線在與所述定齒輪的軸線為中心的一個圓周上,所述自轉樣片盤設置有與所述定齒輪嚙合的自轉齒輪,所述加熱盤在所述自轉樣片盤上方,所述加熱盤設置有至少一個加工口,所述加工口設置在所述自轉樣片盤的軸線所在的圓周上方,所述加工口的面積大于所述圓形樣片的面積。
2.根據權利要求1所述的磁控濺射鍍膜方法裝置,其特征在于,所述加熱盤是鎧裝加熱器或者石英紅外加熱器。
3.根據權利要求1所述的磁控濺射鍍膜方法裝置,其特征在于,所述加熱盤與所述自轉樣片盤的距離是3-8mm。
4.根據權利要求1所述的磁控濺射鍍膜方法裝置,其特征在于,所述加熱盤與所述公轉支撐盤由同軸的不同的驅動軸來驅動。
5.根據權利要求1所述的磁控濺射鍍膜方法裝置,其特征在于,所述加熱盤包括一個殼體、設置在所述殼體內的多個加熱模塊以及一個蓋板。
6.根據權利要求1所述的磁控濺射鍍膜方法裝置,其特征在于,所述加工口是圓形,或開口的凹形。
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