[發(fā)明專利]一種圖像處理方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710097541.4 | 申請日: | 2017-02-22 |
| 公開(公告)號: | CN106910172B | 公開(公告)日: | 2020-02-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孔維武;董明文;張勇;李宏偉;趙剛;陳功;廖建新;靳樹娟 | 申請(專利權(quán))人: | 公安部第一研究所;北京中盾安民分析技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T7/13 |
| 代理公司: | 北京尚倫律師事務(wù)所 11477 | 代理人: | 張俊國 |
| 地址: | 100000 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 圖像 處理 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種圖像處理方法及裝置,用以在改善圖像顯示效果的同時,抑制對圖像噪聲的放大效應(yīng),進而得到更好的圖像顯示效果。方法包括:獲取X射線安全設(shè)備采集到的被檢查包裹圖像;通過對I(x,y)進行背景噪聲抑制以得到Iobj(x,y);通過對Iobj(x,y)進行邊緣細節(jié)增強以得到Iedge(x,y);從雙能X射線材料特征數(shù)據(jù)庫中獲取與Iobj(x,y)對應(yīng)的材料信息圖像Imat(x,y);通過對Imat(x,y)進行自適應(yīng)濾波平滑處理以得到Imat?mean(x,y);根據(jù)Iedge(x,y)與Imat?mean(x,y)查詢雙能X射線顏色特征數(shù)據(jù)庫,以得到并輸出被檢查包裹對應(yīng)的待顯示圖像Ishow(x,y)。采用本發(fā)明提供的方法,在改善圖像顯示效果的同時,抑制了邊緣細節(jié)增強對背景噪聲的放大效應(yīng),得到了更好的圖像顯示效果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及圖像處理領(lǐng)域,特別涉及一種圖像處理方法及裝置。
背景技術(shù)
X射線透射成像技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于安全檢查領(lǐng)域,其基本原理是,當X射線透照被檢查包裹時,由于包裹內(nèi)物體物質(zhì)組成、密度、大小、數(shù)量等特征往往各不相同,對X射線的衰減能力也不同,透照穿過包裹的X射線被探測裝置接收,形成像素灰度值不同的圖像,此基礎(chǔ)上,雙能X射線安檢設(shè)備再將灰度圖像進行彩色化顯示,其流程是:設(shè)備利用兩種不同能譜X射線透照包裹,分析處理輸出信號及兩種不同能譜輸出信號間的差異,獲得被檢查物體的材料信息,基于圖像灰度信息與材料信息,對圖像賦以不同顏色標識,使得圖像同時具備灰度分辨能力與材料分辨能力。
圖像顯示效果是安檢設(shè)備性能的核心體現(xiàn),背景潔凈、細節(jié)清晰、色彩層次分明的安檢圖像顯示效果是安檢設(shè)備的追求目標,然而,由于被檢查包裹的復(fù)雜性,以及安檢設(shè)備成像過程涉及的射線源焦斑漂移、X射線散射、探測板響應(yīng)不一致、電路噪聲等不利因素影響,安檢圖像具有不同于一般圖像的特點,原始圖像顯示效果往往并不十分理想,主要表現(xiàn)為:圖像背景區(qū)域存在雜點、圖像細節(jié)清晰度不足、基于原始高低能圖像獲得的圖像材料信息噪聲明顯,圖像顯示效果欠佳。如果不做任何處理,直接觀察原始圖像,則視覺效果欠佳,難以滿足檢察人員的判讀需求,因此,需要對圖像進行處理,改善其顯示效果,得到更理想、視覺效果更佳的安全檢查圖像。
在現(xiàn)有技術(shù)中,通常是通過圖像增強的手段來對圖像進行處理,從而提升顯示效果,然而,采用這樣的方式,在增強圖像細節(jié)的同時,會產(chǎn)生對圖像噪聲的放大效應(yīng),因而,如何提出一種圖像處理方法,在改善圖像顯示效果的同時,抑制對圖像噪聲的放大效應(yīng),進而得到更好的圖像顯示效果,是一亟待解決的技術(shù)問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種圖像處理方法及裝置,用以在改善圖像顯示效果的同時,抑制對圖像噪聲的放大效應(yīng),進而得到更好的圖像顯示效果。
本發(fā)明提供一種圖像處理方法,包括:
獲取X射線安全設(shè)備采集到的被檢查包裹圖像I(x,y);
通過對所述I(x,y)進行背景噪聲抑制以得到背景噪聲抑制后的包裹前景圖像Iobj(x,y);
通過對所述Iobj(x,y)進行邊緣細節(jié)增強以得到邊緣增強后的包裹前景圖像Iedge(x,y);
從雙能X射線材料特征數(shù)據(jù)庫中獲取與所述Iobj(x,y)對應(yīng)的材料信息圖像Imat(x,y);
通過對所述Imat(x,y)進行自適應(yīng)濾波平滑處理以得到平滑后的材料信息圖像Imat-mean(x,y);
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于公安部第一研究所;北京中盾安民分析技術(shù)有限公司,未經(jīng)公安部第一研究所;北京中盾安民分析技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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