[發(fā)明專利]一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置及測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710097210.0 | 申請日: | 2017-02-22 |
| 公開(公告)號: | CN106840980B | 公開(公告)日: | 2023-04-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周志艷;宋燦燦;齊興源;羅錫文;李克亮;明銳;何新剛;孔令熙;田麓弘 | 申請(專利權(quán))人: | 華南農(nóng)業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G01N15/00 | 分類號: | G01N15/00;G01N19/02 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102 | 代理人: | 任重 |
| 地址: | 510642 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 粒徑 顆粒 摩擦角 測試 裝置 方法 | ||
1.一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置,其特征在于,包括控制器、被測板件、支架(1)、底板(2)、第一轉(zhuǎn)動軸(7)、驅(qū)動裝置(5)、連接結(jié)構(gòu)(20)、傾角傳感器(6)、數(shù)值顯示模塊(8)及圖像捕捉設(shè)備(9),被測板件可拆卸地設(shè)于底板(2)上,驅(qū)動裝置(5)、傾角傳感器(6)、數(shù)值顯示模塊(8)及圖像捕捉設(shè)備(9)均與控制器連接;第一轉(zhuǎn)動軸(7)設(shè)于支架(1)上,且支架(1)的底部設(shè)有旋轉(zhuǎn)軸(30),底板(2)的一端通過旋轉(zhuǎn)軸(30)與支架(1)轉(zhuǎn)動連接,底板(2)的另一端能通過連接結(jié)構(gòu)(20)與第一轉(zhuǎn)動軸(7)連接,驅(qū)動裝置(5)用于驅(qū)動第一轉(zhuǎn)動軸(7)旋轉(zhuǎn);傾角傳感器(6)設(shè)于底板(2)上用于測量底板(2)的底部與水平面的夾角,數(shù)值顯示模塊(8)用于顯示傾角傳感器(6)的數(shù)值,圖像捕捉設(shè)備(9)用于捕捉被測板件上小粒徑顆粒下滑情況的圖像;
所述測試裝置還包括手柄(3)及與手柄(3)連接的第二轉(zhuǎn)動軸(40),第二轉(zhuǎn)動軸(40)設(shè)于支架(1)上,底板(2)的另一端能通過連接結(jié)構(gòu)(20)與第二轉(zhuǎn)動軸(40)連接;
所述測試裝置還包括用于固定手柄(3)位置的自鎖裝置;
所述自鎖裝置包括刻度盤(4)及固定塊(31),刻度盤(4)設(shè)于支架(1)上并位于支架(1)與手柄(3)之間,且第二轉(zhuǎn)動軸(40)穿過刻度盤(4)的中心;刻度盤(4)上設(shè)有若干通孔(41),固定塊(31)設(shè)于第二轉(zhuǎn)動軸(40)上,且固定塊(31)上設(shè)有與通孔(41)匹配的凸起(32);
所述測試裝置還包括擋板(10);擋板(10)設(shè)于底板(2)上靠近旋轉(zhuǎn)軸(30)的一端,且擋板(10)位于被測板件的下方,擋板(10)用于擋住小粒徑顆粒從被測板件掉落。
2.一種小粒徑顆粒摩擦角的測試裝置,其特征在于,包括控制器、被測板件、支架(1)、底板(2)、手柄(3)、第二轉(zhuǎn)動軸(40)、連接結(jié)構(gòu)(20)、傾角傳感器(6)及數(shù)值顯示模塊(8);被測板件可拆卸地設(shè)于底板(2)上,傾角傳感器(6)及數(shù)值顯示模塊(8)均與控制器連接;第二轉(zhuǎn)動軸(40)設(shè)于支架(1)上,手柄(3)與第二轉(zhuǎn)動軸(40)連接,支架(1)的底部設(shè)有旋轉(zhuǎn)軸(30),底板(2)的一端通過旋轉(zhuǎn)軸(30)與支架(1)轉(zhuǎn)動連接,底板(2)的另一端能通過連接結(jié)構(gòu)(20)與第二轉(zhuǎn)動軸(40)連接;傾角傳感器(6)設(shè)于底板(2)上用于測量底板(2)的底部與水平面的夾角,數(shù)值顯示模塊(8)用于顯示傾角傳感器(6)的數(shù)值;
所述測試裝置還包括與控制器連接的圖像捕捉設(shè)備(9),圖像捕捉設(shè)備(9)用于捕捉被測板件上小粒徑顆粒下滑情況的圖像;
所述測試裝置還包括用于固定手柄(3)位置的自鎖裝置;所述自鎖裝置包括刻度盤(4)及固定塊(31),刻度盤(4)設(shè)于支架(1)上并位于支架(1)與手柄(3)之間,且第二轉(zhuǎn)動軸(40)穿過刻度盤(4)的中心;刻度盤(4)上設(shè)有若干通孔(41),固定塊(31)設(shè)于第二轉(zhuǎn)動軸(40)上,且固定塊(31)上設(shè)有與通孔(41)匹配的凸起(32)。
3.一種小粒徑顆粒摩擦角的測試方法,其特征在于,使用權(quán)利要求1所述的測試裝置,包括如下步驟:
S1.將被測板件設(shè)于底板(2)上,并將一定量的小粒徑顆粒放置在被測板件上;
S2.打開控制器,使驅(qū)動裝置(5)、傾角傳感器(6)、數(shù)值顯示模塊(8)及圖像捕捉設(shè)備(9)均處于工作狀態(tài);
S3.控制器通過驅(qū)動裝置(5)驅(qū)動第一轉(zhuǎn)動軸(7)轉(zhuǎn)動使底板(2)與連接結(jié)構(gòu)(20)連接的一端向上抬起,底板(2)抬起過程中,圖像捕捉設(shè)備(9)實(shí)時(shí)捕捉小粒徑顆粒下滑情況的圖像并將該圖像傳輸至控制器進(jìn)行處理,傾角傳感器(6)實(shí)時(shí)測量底板(2)的底部與水平面的夾角并傳輸至控制器,控制器將該夾角傳輸至數(shù)值顯示模塊(8)并顯示;
S4.控制器對圖像捕捉設(shè)備(9)捕捉的圖像進(jìn)行處理后判斷所有的小粒徑顆粒是否開始下滑;當(dāng)小粒徑顆粒沒有全部下滑時(shí),重復(fù)步驟S3;當(dāng)所有的小粒徑顆粒開始下滑,控制器控制驅(qū)動裝置(5)停止工作,記錄數(shù)值顯示模塊(8)顯示夾角的角度值;
S5.多次重復(fù)步驟S3及S4,取數(shù)值顯示模塊(8)顯示夾角的角度值的平均值作為小粒徑顆粒與被測板件的摩擦角。
4.一種小粒徑顆粒摩擦角的測試方法,其特征在于,使用權(quán)利要求2所述的測試裝置,包括如下步驟:
S1.將被測板件設(shè)于底板(2)上,并將一定量的小粒徑顆粒放置在被測板件上;
S2.打開控制器,使傾角傳感器(6)及數(shù)值顯示模塊(8)均處于工作狀態(tài);
S3.手動轉(zhuǎn)動手柄(3)并帶動第二轉(zhuǎn)動軸(40)轉(zhuǎn)動使底板(2)與連接結(jié)構(gòu)(20)連接的一端向上抬起,底板(2)抬起過程中,傾角傳感器(6)實(shí)時(shí)測量底板(2)的底部與水平面的夾角并傳輸至控制器,控制器將該夾角傳輸至數(shù)值顯示模塊(8)并顯示;
S4.操作者判斷所有的小粒徑顆粒是否開始下滑;當(dāng)小粒徑顆粒沒有全部下滑時(shí),重復(fù)步驟S3;當(dāng)所有的小粒徑顆粒開始下滑時(shí),停止轉(zhuǎn)動手柄(3),記錄數(shù)值顯示模塊(8)顯示夾角的角度值;
S5.多次重復(fù)步驟S3及S4,取數(shù)值顯示模塊(8)顯示夾角的角度值的平均值作為小粒徑顆粒與被測板件的摩擦角。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華南農(nóng)業(yè)大學(xué),未經(jīng)華南農(nóng)業(yè)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710097210.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:多功能跑道
- 下一篇:空氣顆粒檢測裝置及其精度校正方法
- 一種巖體結(jié)構(gòu)面峰值摩擦角的分維數(shù)確定方法
- 巖體結(jié)構(gòu)面峰值摩擦角的法向應(yīng)力閾值的確定方法
- 巖樣的摩擦角測量方法及裝置
- 用于測量散體外摩擦角的測量裝置
- 一種塊體理論平衡區(qū)域圖的三維可視化方法
- 一種測定散粒體材料內(nèi)摩擦角和界面靜、動摩擦角的聯(lián)合測定儀
- 同時(shí)獲取巖石黏聚力和內(nèi)摩擦角變化規(guī)律的測定方法及測定儀
- 落球式巖土材料力學(xué)特性的現(xiàn)場測試系統(tǒng)
- 一種邊坡巖土體抗剪強(qiáng)度參數(shù)多重反演方法
- 一種獲取結(jié)構(gòu)面抗剪強(qiáng)度的方法





