[發明專利]填料物位測量裝置及操作方法、程序要素、計算機可讀介質有效
| 申請號： | 201710096139.4 | 申請日： | 2017-02-22 |
| 公開（公告）號： | CN107101696B | 公開（公告）日： | 2020-09-29 |
| 發明（設計）人： | 克里斯托弗·米勒;邁克爾·菲舍爾 | 申請（專利權）人： | VEGA格里沙貝兩合公司 |
| 主分類號： | G01F23/284 | 分類號： | G01F23/284;G01R21/00 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290 | 代理人： | 陳桂香;曹正建 |
| 地址： | 德國沃*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 填料 測量 裝置 操作方法 程序 要素 計算機 可讀 介質 | ||
1.一種填料物位測量裝置(10)，其利用調頻連續波信號亦即FMCW信號來確定器皿(11)中的填充材料(12)的物位，所述填料物位測量裝置包括：
高頻電路，所述高頻電路被配置成產生傳輸信號(21、22)，其中所述傳輸信號具有至少一個頻率斜坡(212、222)；
傳輸裝置，所述傳輸裝置被配置成將所述傳輸信號(21、22)向所述填充材料發射；
評估部，所述評估部被配置成基于在所述填充材料處被反射的傳輸信號來確定所述填充材料的所述物位；
其中，所述至少一個頻率斜坡(212、222)具有最小頻率fmin和最大頻率fmax；
其中，當確定所述填料物位時，所述評估部被配置成僅考慮所述被反射的傳輸信號中的具有在基頻間隔(30)內的頻率的那一部分；并且
其中，所述基頻間隔的最小頻率(301)大于所述頻率斜坡的最小頻率fmin，且/或所述基頻間隔的最大頻率(302)小于所述頻率斜坡的最大頻率fmax，
其中，在所述填料物位測量裝置的部件的建立時間期間通過了所述頻率斜坡的一部分，并且在所述建立時間之后達到所述基頻間隔。
2.根據權利要求1所述的填料物位測量裝置，
其中，所述基頻間隔(30)的最小頻率(301)大于所述頻率斜坡(212、222)的最小頻率fmin；并且
其中，所述高頻電路被配置成僅產生所述至少一個頻率斜坡(212、222)，以使得所述傳輸信號(22)不含有具有恒定頻率(201、203、211、213)的連續波信號。
3.根據權利要求1所述的填料物位測量裝置，
其中，所述傳輸信號(21)在所述頻率斜坡(212)之前含有具有恒定頻率fSmin的連續波信號(211)；并且
其中，所述頻率斜坡(212)的最小頻率fmin與所述恒定頻率fSmin一致。
4.根據前述權利要求中任一項所述的填料物位測量裝置，
其中，所述高頻電路被配置成借助于在具有斜坡發生器的鎖相環中的規則連續時鐘信號來產生所述傳輸信號(21、22)的所述頻率斜坡(212、222)；
其中，所述高頻電路被配置成在每個時鐘信號之后使所述傳輸信號(21、22)的頻率增大一個預定值；并且
其中，只有在預設數量的時鐘信號之后才能達到所述基頻間隔(30)的最小頻率(301)。
5.根據權利要求1-3中任一項所述的填料物位測量裝置，
其中，所述高頻電路被配置成借助于在鎖相環中的規則連續時鐘信號來產生所述傳輸信號(21、22)的所述頻率斜坡(212、222)；
其中，所述高頻電路被配置成在每個時鐘信號之后使所述傳輸信號(21、22)的頻率增大一個預定值；
其中，只有在已經達到所述基頻間隔(30)的最大頻率(302)后的預設數量的時鐘信號之后才能達到所述傳輸信號(22)的最大頻率。
6.根據權利要求4所述的填料物位測量裝置，
其中，所述高頻電路被配置成借助于在鎖相環中的規則連續時鐘信號來產生所述傳輸信號(21、22)的所述頻率斜坡(212、222)；
其中，所述高頻電路被配置成在每個時鐘信號之后使所述傳輸信號(21、22)的頻率增大一個預定值；
其中，只有在已經達到所述基頻間隔(30)的最大頻率(302)后的預設數量的時鐘信號之后才能達到所述傳輸信號(22)的最大頻率。
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