[發明專利]一種具有納米紅外成像功能的超分辨熒光顯微系統有效
| 申請號: | 201710095962.3 | 申請日: | 2017-02-22 |
| 公開(公告)號: | CN106918580B | 公開(公告)日: | 2020-03-27 |
| 發明(設計)人: | 吳宗斌;許陽月 | 申請(專利權)人: | 大連光耀輝科技有限公司;中國科學院長春應用化學研究所 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京元周律知識產權代理有限公司 11540 | 代理人: | 潘欣欣 |
| 地址: | 116085 遼寧省大連*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 納米 紅外 成像 功能 分辨 熒光 顯微 系統 | ||
1.一種具有納米紅外成像功能的超分辨熒光顯微系統,其特征在于,包括具有納米紅外成像功能的超分辨熒光顯微系統的級聯平臺、以及納米紅外成像功能模塊和超分辨熒光顯微模塊;
所述納米紅外成像功能模塊和所述超分辨熒光顯微模塊分別設置于所述級聯平臺的兩側;
所述顯微系統還包括光誘導力模塊;所述光誘導力模塊與所述納米紅外成像功能模塊位于所述級聯平臺的同側;
所述級聯平臺包括:
級聯平臺本體;
樣品室,由所述級聯平臺本體的軸向延伸的閉合側壁和所述級聯平臺本體的上表面圍合而成;
通氣孔,設置于所述側壁上,用于填充氣體,以保證所述樣品室恒溫;
樣品夾持器,設置于所述樣品室內,用于固定待測樣品;
調節旋鈕,設置于所述級聯平臺本體上,用于在水平方向上調節所述待測樣品;
其中,納米紅外成像功能模塊包括紅外反饋激光器、探針、壓電陶瓷掃描器和高靈敏探測器;其中紅外反饋激光器用于發射激光,所述探針用于對待測樣品表面進行掃描,所述壓電陶瓷掃描器用于粗調和/或微調所述探針,高靈敏探測器用于接收經由所述探針反射回的激光光束;
所述超分辨熒光顯微模塊包括激光器、擴束鏡、光闌、聚焦鏡、二向色鏡、物鏡、匯聚單元和成像相機;
激光器,用于為超分辨成像實驗提供所需激發光;
擴束鏡,用于將光束擴束為理想實驗光斑大小;
光闌,用于濾掉雜散光,以減小像差;
聚焦鏡,用于將光束聚焦在待測樣品目標成像焦面上;
二向色鏡,用于反射經由此二向色鏡的激光器發射的激發光,并透射經由此二向色鏡的待測樣品發射的熒光;
匯聚單元,用于將待測樣品發射的熒光會聚到成像相機上;
所述光誘導力模塊包括:
量子級聯激光器,用于發射激光光束;
偏轉器,用于調節拋面鏡以改變激光光束的方向;
拋面鏡,用于使通過偏轉器改變方向的激光光束會聚到成像待測樣品目標區域焦面上。
2.根據權利要求1所述的顯微系統,其特征在于,所述側壁上至少有兩個通氣孔。
3.根據權利要求1所述的顯微系統,其特征在于,所述級聯平臺能夠通過上位機精確控制,以對所述待測樣品在水平方向上進行納米級調節。
4.根據權利要求1所述的顯微系統,其特征在于,所述偏轉器和所述拋面鏡由設置在所述樣品室的側壁上的固定器固定。
5.根據權利要求1所述的顯微系統,其特征在于,由所述納米紅外成像功能模塊成像的區域和由所述超分辨熒光顯微模塊成像的區域一致。
6.根據權利要求1所述的顯微系統,其特征在于,由所述納米紅外成像功能模塊成像的區域、由所述超分辨熒光顯微模塊成像的區域和由所述光誘導力模塊激光光束會聚的區域一致。
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