[發(fā)明專利]一種粒子分析儀及其恒溫反應系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710093366.1
• 申請日: 2017-02-21
• 公開（公告）號: CN107560996B
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發(fā)明（設計）人: 張文俊;肖勇;唐林群
• 申請（專利權）人: 深圳雷杜生命科學股份有限公司
• 主分類號: G01N15/14
• 分類號: G01N15/14
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 陳宇

1.一種粒子分析儀的恒溫反應系統(tǒng)，其特征在于，所述恒溫反應系統(tǒng)包括加熱屏蔽殼、第一反應池、試劑預熱裝置，其中：

所述加熱屏蔽殼包括內(nèi)屏蔽傳熱殼、外屏蔽殼、保溫層和恒溫加熱層，所述保溫層和恒溫加熱層設置在所述外屏蔽殼和內(nèi)屏蔽傳熱殼之間；其中，所述恒溫加熱層包括溫度傳感器、溫度保護開關以及溫度保護開關壓板；

所述試劑預熱裝置和所述第一反應池設置在所述加熱屏蔽殼內(nèi)，且所述試劑預熱裝置安裝在內(nèi)屏蔽傳熱殼上；

所述第一反應池與所述試劑預熱裝置通過連接管道相連，且在所述第一反應池與所述試劑預熱裝置之間設置有隔熱材料層；

所述恒溫反應系統(tǒng)還包括設置在所述加熱屏蔽殼內(nèi)的第二反應池，所述第二反應池包括負壓接口、試劑接口、廢液接口以及設置在第二反應池的前后的測試點，所述測試點通過導線與電阻抗信號測量系統(tǒng)相連，所述負壓接口連接負壓設備，所述廢液接口通過第一控制閥與廢液收集裝置相連；其中，所述第二反應池與所述恒溫加熱層之間設置有隔熱層。

2.根據(jù)權利要求1所述恒溫反應系統(tǒng)，其特征在于，所述試劑預熱裝置包括試劑入口和試劑出口，所述試劑入口設置在所述試劑預熱裝置的下端，所述試劑出口設置在所述試劑預熱裝置的上端，所述試劑出口通過加液通道與所述第一反應池相連。

3.根據(jù)權利要求1或2所述恒溫反應系統(tǒng)，其特征在于，所述第一反應池包括第一接口和第二接口，所述第一接口通過第二控制閥與光學測量系統(tǒng)相連，所述第二接口通過第三控制閥與廢液收集裝置相連。

4.根據(jù)權利要求1所述恒溫反應系統(tǒng)，其特征在于，所述加熱屏蔽殼包括加熱屏蔽底板和屏蔽罩，所述加熱屏蔽底板包括恒溫反應底板、加熱膜、后保溫棉和外屏蔽底板，所述恒溫反應底板與所述外屏蔽底板之間依次設置加熱膜和后保溫棉。

5.根據(jù)權利要求4所述恒溫反應系統(tǒng)，其特征在于，所述屏蔽罩包括外層屏蔽罩、前保溫棉和內(nèi)層屏蔽罩，所述前保溫棉設置在所述外層屏蔽罩和內(nèi)層屏蔽罩之間。

6.根據(jù)權利要求4所述恒溫反應系統(tǒng)，其特征在于，所述恒溫反應底板上安裝有反應池固定座，所述反應池固定座上設置有反應池安裝架，所述反應池安裝架上安裝有第一反應池和/或第二反應池。

7.根據(jù)權利要求4所述恒溫反應系統(tǒng)，其特征在于，所述試劑預熱裝置的材料為金屬。

8.根據(jù)權利要求7所述恒溫反應系統(tǒng)，其特征在于，所述試劑預熱裝置通過螺釘裝配在所述恒溫反應底板。

9.一種粒子分析儀，其特征在于，所述粒子分析儀包括權利要求1-8任一項所述恒溫反應系統(tǒng)。