[發明專利]低復雜度差分檢測方法

在審

• 申請號: 201710091442.5
• 申請日: 2017-02-21
• 公開（公告）號: CN106911375A
• 公開（公告）日: 2017-06-30
• 發明（設計）人: 肖麗霞;劉江;肖悅;楊平;吳朝武;李少謙
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: H04B7/06
• 分類號: H04B7/06;H04B17/336
• 代理公司: 成都點睛專利代理事務所(普通合伙)51232
• 代理人: 葛啟函

1.一種低復雜度差分檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、對于i＝1,2,...,N_t，利用HL-ML檢測算法得到N_t個初步估計的序號和符號最終可以得到和其中，是Y_k的第i列，是Y_k-1的第l_i列，是數字解調程序；

S2、對于所有可能的天線索引向量依次與S1得到的進行比較，記N_q為與L_q的相同元素數目，可以得到N＝[N₁,...,N_q,...,N_Q]，將所述N中的元素按照降序排列，得到其中，和分別是N中的最大元素和最小元素，記m_q為與相應的天線排列矩陣的序號，得到m＝[m₁,...,m_q,...,m_Q]；

S3、如果認為得到的有效，與之相應的即為最終的檢測結果；

S4、如果認為得到的無效，定義Q_M作為N中的最大元素的數量，選擇m＝[m₁,...,m_q,...,m_Q]中的前P種有效的天線排列矩陣進行進一步的檢測，其中，P≥Q_M，是天線排列矩陣A_q對應的天線索引向量L_q的第j個元素，j＝1,2,...,N_t。