[發明專利]旋轉基線干涉儀定位系統的模擬源測試系統及其使用方法

有效

• 申請號: 201710091107.5
• 申請日: 2017-02-20
• 公開（公告）號: CN106772239B
• 公開（公告）日: 2019-04-02
• 發明（設計）人: 梁廣;孫思月;朱華;常凱;潘超;姜興龍;馬菁濤
• 申請（專利權）人: 上海微小衛星工程中心
• 主分類號: G01S5/06
• 分類號: G01S5/06
• 代理公司: 上海邦德專利代理事務所(普通合伙) 31312
• 代理人: 李陽

本發明提供旋轉基線干涉儀定位系統的模擬源測試系統及其使用方法，本發明提供的旋轉基線干涉儀定位系統的模擬源測試系統包括：輻射源信號生成模塊、信號采樣數據生成模塊、大容量存儲模塊、射頻模塊B；所述輻射源信號生成模塊根據設定的數據時長及信號特征生成空饋脈沖描述字數據，并輸出到信號采樣數據生成模塊，生成空饋信號并發送到大容量存儲模塊；射頻模塊B讀取所述空饋信號生成射頻信號，并將所述射頻信號通過天線空饋入定測定位系統的檢測天線。通過本發明提供的方案模擬無線空饋定位測試信號。

技術領域

本發明涉及定位系統的模擬源測試系統，尤其涉及一種旋轉基線干涉儀定位系統的模擬源測試系統及其使用方法。

背景技術

基于旋轉基線干涉儀的定位系統通過單基線在旋轉條件下測量不同轉動角度收到的輻射源信號的相位差，結合定位系統的位置及姿態，實現全視場內輻射源的解模糊定位能力。

該旋轉干涉儀定位體制的特殊性要求定位系統的性能及部分功能的測試需要在轉臺旋轉條件下才可以進行。然而，在定位系統的研制過程中，大多數的測試環節不具備轉動的條件，尤其考慮到轉臺的磨損，更無法長時間進行真實轉動條件下定位性能的測試。因此，需要通過模擬基線旋轉條件下干涉儀兩個檢測天線收到的空饋信號，以有線的方式將模擬信號饋入基線兩端的射頻通道，替代真實轉臺的轉動，從而實現基線不轉動的條件下，基于旋轉基線干涉儀定位系統的定位性能測試。為了實現上述線饋測試，需要模擬基線旋轉條件下接收到的空饋信號，該信號的模擬要與干涉儀實時接收到的基線轉動角度、定位系統位置及姿態同步，目前尚未有解決針對上述旋轉基線干涉儀定位系統的輻射源模擬系統。

發明內容

為了便于對旋轉基線干涉儀定位系統的性能進行檢測，本發明提供了一種旋轉基線干涉儀定位系統的模擬源測試系統及其使用方法。

本發明提供旋轉基線干涉儀定位系統的模擬源測試系統，包括：輻射源信號生成模塊、信號采樣數據生成模塊、大容量存儲模塊、射頻模塊B；所述輻射源信號生成模塊根據設定的數據時長及信號特征生成空饋脈沖描述字數據，并輸出到信號采樣數據生成模塊，生成空饋信號并發送到大容量存儲模塊；射頻模塊B讀取所述空饋信號生成射頻信號，并將所述射頻信號通過天線空饋入待測定位系統的檢測天線。

進一步,還包括：插值模塊、相位差生成模塊以及脈沖描述字生成模塊；所述插值模塊針對輸入的基線轉角、位置和姿態數據，根據所述信號特征中的脈沖重復頻率進行插值，獲得每個脈沖到達待測定位系統的檢測天線時，所對應的基線轉角、定位系統的位置及姿態，并輸出到相位差生成模塊；相位差生成模塊根據每個脈沖的頻率、輻射源位置及其對應的基線轉角、姿態及位置信息，計算出該脈沖所對應的兩路線饋信號相位差；脈沖描述字生成模塊將插值模塊獲得的每個脈沖所對應的基線轉角、姿態及位置，以及相位差生成模塊獲得的該脈沖時刻的相位差，在空饋脈沖描述字的基礎上，生成線饋脈沖描述字。

進一步,還包括：射頻模塊A，所述線饋脈沖描述字輸出到信號采樣數據生成模塊，生成線饋信號A和線饋信號B；所述線饋信號A和線饋信號B存儲于大容量存儲模塊；射頻模塊A讀取線饋信號A，射頻模塊B讀取線饋信號B，生成兩路相參的射頻信號，輸入到待測定位系統干涉儀的兩路射頻輸入端口。

進一步,所述空饋脈沖描述字數據包含：每個脈沖的載頻、相對到達時間、脈內調制方式、脈寬、帶寬以及該脈沖輻射源的位置。

進一步,還包括：場景預存模塊、場景數據實時接收模塊；所述場景預存模塊接收外部輸入的基線轉角數據文件、軌道數據文件、姿態數據文件，對所述文件進行解析，并向插值模塊輸入基線轉角、姿態和位置信息；所述場景數據實時接收模塊與待測定位系統同時通過轉角接口、軌道接口、姿態接口連接。

進一步,所述插值模塊輸入的基線轉角、姿態和位置信息有兩類來源：1)預存方式，測試時，需要待測定位系統采用相同預存的場景數據；2)實時方式，即測試中實時讀取基線的轉角、姿態及位置數據，并通過轉速、位置外推實現短期上述數據的預測。