[發明專利]一種多光譜溫度場測量裝置有效
| 申請號: | 201710086792.2 | 申請日: | 2017-02-17 |
| 公開(公告)號: | CN106644099B | 公開(公告)日: | 2019-04-05 |
| 發明(設計)人: | 邢鍵;梁家鋒;葉穎慧 | 申請(專利權)人: | 東北林業大學 |
| 主分類號: | G01J5/20 | 分類號: | G01J5/20;G01K13/02 |
| 代理公司: | 哈爾濱市偉晨專利代理事務所(普通合伙) 23209 | 代理人: | 陳潤明 |
| 地址: | 150040 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光譜 溫度場 測量 裝置 | ||
1.一種多光譜溫度場測量裝置,包括:被測溫度場(1)、物鏡組(12)、平行光管(6)、多面分光棱錐(7)、平面反射鏡(8)、窄帶濾光片(9)、成像透鏡(10)和面陣CCD傳感器(11),其特征在于,
所述物鏡組(12)將被測溫度場(1)的輻射通過平行光管(6)聚焦在多面分光棱錐(7)的入射面上;
所述多面分光棱錐(7)將投射的輻射等分至少八束不同方向的波段輻射到平面反射鏡(8)的入射面上;
所述平面反射鏡(8)將輻射反射到窄帶濾光片(9)上,輻射通過窄帶濾光片(9)被成像透鏡(10)并將輻射聚焦在面陣CCD傳感器(11)上;
采用窄帶濾光片(9),可以獲得更精細的光譜信息,直接帶入
式中T為待測溫度,Ti為標定溫度,C2為第二輻射常數,λi為光譜波長值,εi(λi,T)為光譜發射率;
所述光譜發射率函數求解方程為
轉換為式中,Tri為每個通道的溫度計算值,為每個通道計算溫度的平均值,
即尋找一組合適發射率帶入上述方程,使得由上述方程式構成的方程組中每一個方程得到的溫度Tri都相等,實際情況是在約束條件即發射率ε∈[0,1]條件下,如果即讓小于某個較小的數(迭代截止條件),說明此時找到了合適一組發射率,溫度此時也為真溫;
坐標輪換法求解約束多維函數的極值即,
第一步,給定初始點x(0),初始步長縮放因子u>1及精度ε1>0,ε2>0,置k=0;
第二步,令y=xk;
第三步,從y出發,按步長沿坐標軸e1的正方向搜索,y(1)=y+te1,如果y(1)在可行域內,即滿足g(y(1))≥0,且有∫(y(1))<∫(y),則取t=2t,加速向前搜索直到不滿足可行性條件或函數值的條件,轉第五步;
第四步,如果沿坐標軸e1的正方向和負方向都找不到同時滿足可行性條件和函數值下降的點,則將搜索步長減小,令δ0=δ0/u,轉第五步;
第五步,依次沿其他坐標軸進行同樣的搜索,最終求得此輪搜索的最優點y1;
第六步,如果||y1-xk||≤ε2,轉第七步,否則令xk+1=y1,k=k+1,則轉第二步;
第七步,如果步長max(ε0)≤ε1,則xk為最優點,否則令δ0=δ0/u,轉第二步。
2.根據權利要求1所述一種多光譜溫度場測量裝置,其特征在于,所述物鏡組(12)包括:按照輻射方向分別第一物鏡(3)和第二物鏡(4)。
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