[發(fā)明專利]應(yīng)用于精密儀表的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710084228.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-02-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106644550A | 公開(公告)日: | 2017-05-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 涂海波;何建剛;張為民;柳林濤;王勇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院測量與地球物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01M99/00 | 分類號(hào): | G01M99/00 |
| 代理公司: | 深圳市科進(jìn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)44316 | 代理人: | 趙勍毅 |
| 地址: | 430063 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 應(yīng)用于 精密 儀表 環(huán)境 試驗(yàn) 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種應(yīng)用于精密儀表的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng),用于對(duì)精密儀器的環(huán)境適應(yīng)能力進(jìn)行測試。
背景技術(shù)
精密儀器儀表在使用過程中,可能遇到各種各樣的使用環(huán)境,這些復(fù)雜的使用環(huán)境會(huì)對(duì)精密儀器的可靠性和使用壽命產(chǎn)生明顯的影響。因此,精密儀器在出廠前,一般需對(duì)其環(huán)境適應(yīng)性能力進(jìn)行測試。其中,精密儀器需要考慮的環(huán)境條件包括溫度、濕度、氣壓、磁場、地面傾斜、地面振動(dòng)等。
在現(xiàn)有的精密儀器的測試過程中,震動(dòng)噪聲是影響測試的主要因素之一。一般而言,希望震動(dòng)噪聲越小越好,例如在對(duì)某精密儀器的研制和測試過程中,研究人員希望震動(dòng)噪聲能夠接近或小于1×10-5m/s2。但是現(xiàn)有的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng),由于將制冷壓縮機(jī)等震動(dòng)噪聲源與箱體集成在了一起,從而引起了箱體較大的震動(dòng)噪聲。
另外,在對(duì)某較大體積的精密儀器研制過程中發(fā)現(xiàn),研究人員希望精密儀器環(huán)境試驗(yàn)空間較大,溫度穩(wěn)定度達(dá)到0.01℃,磁場均勻區(qū)(變化小于3%)的范圍達(dá)到0.6m且調(diào)節(jié)范圍達(dá)到300μT。但當(dāng)前的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng),調(diào)節(jié)能力達(dá)不到上述要求。
因此,現(xiàn)有的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng),很難達(dá)到或接近上述要求,現(xiàn)有技術(shù)實(shí)有改進(jìn)的必要。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種應(yīng)用于精密儀表的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng),能夠減小震動(dòng)噪聲,提高磁場試驗(yàn)?zāi)芰Α?/p>
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種應(yīng)用于精密儀表的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng),用于測試儀器的環(huán)境適應(yīng)能力,包括:箱體;以及實(shí)驗(yàn)平臺(tái),用于放置被測試的儀器,且所述實(shí)驗(yàn)平臺(tái)位于所述箱體內(nèi);其中,所述箱體安裝于地面上,所述實(shí)驗(yàn)平臺(tái)單獨(dú)安裝于基墩上,所述基墩與所述地面之間通過隔震溝隔開。
其中,所述箱體通過第一地腳安裝于所述地面上,所述實(shí)驗(yàn)平臺(tái)通過第二地腳安裝于所述基墩上。
其中,所述實(shí)驗(yàn)平臺(tái)和箱體均由無磁材料形成。
其中,還包括:溫度探頭,用于采集所述箱體內(nèi)的溫度;換熱器,用于調(diào)節(jié)所述箱體內(nèi)的溫度;溫控主機(jī),用于根據(jù)設(shè)定的溫度和所述溫度探頭采集到的溫度之間的差異,控制所述換熱器。
其中,還包括:電磁線圈,用于產(chǎn)生穿過所述箱體的磁場;磁場探頭,用于探測所述箱體內(nèi)的殘余磁場;磁場控制器,用于工作在第一模式或第二模式;其中,當(dāng)在所述第一模式下,所述磁場控制器控制所述電磁線圈按照設(shè)置的磁場要求產(chǎn)生磁場;其中,當(dāng)在所述第二模式下,所述磁場控制器,用于根據(jù)所述磁場探頭探測到的殘余磁場控制所述電磁線圈,以減小所述殘余磁場。
其中,所述電磁線圈為方形電磁線圈或者圓形電磁線圈。
其中,還包括:骨架,所述電磁線圈安裝于所述骨架上,其中所述骨架置于所述溫控箱體的外部。
其中,所述骨架為多面體結(jié)構(gòu),在所述多面體的每個(gè)面上設(shè)置有至少兩對(duì)所述電磁線圈。
其中,還包括:位移促動(dòng)器,用于調(diào)節(jié)所述實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的傾角;促動(dòng)控制器,用于確定所述實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的傾斜的角度及其變化規(guī)律,并根據(jù)所述確定的角度及其變化規(guī)律,控制所述位移促動(dòng)器。
其中,還包括:濕度調(diào)節(jié)器,用于調(diào)節(jié)所述箱體內(nèi)的濕度;以及濕度控制器,用于控制所述濕度調(diào)節(jié)器。其中,所述箱體上設(shè)置有可供進(jìn)出所述箱體的門結(jié)構(gòu),且所述門結(jié)構(gòu)上設(shè)置有觀察窗。
其中,所述箱體的由保溫層包裹,且所述保溫層的內(nèi)外均覆蓋反光膜。
本發(fā)明實(shí)施例的有益效果是:
本發(fā)明實(shí)施例,實(shí)驗(yàn)平臺(tái)單獨(dú)安裝于基墩上,而其他結(jié)構(gòu)(如箱體)則安裝于地面上,并且基墩與地面之間通過隔震溝隔開,因此能夠減小環(huán)境震動(dòng)對(duì)試驗(yàn)的影響,從而減小應(yīng)用于精密儀表的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)的震動(dòng)噪聲,采用兩對(duì)以上的電磁線圈的配置方式增加了磁場的調(diào)節(jié)范圍和均勻性,即提供低震動(dòng)噪聲的應(yīng)用于精密儀表的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的應(yīng)用于精密儀表的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明的應(yīng)用于精密儀表的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)的電路部分的原理示意圖;
圖3是應(yīng)用于精密儀表的環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)中電磁線圈部分的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為了使本發(fā)明所解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
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