[發(fā)明專利]一種高頻測(cè)試插座

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710083872.2
• 申請(qǐng)日: 2017-02-16
• 公開（公告）號(hào): CN106771409A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔣衛(wèi)兵;王堅(jiān);劉育璋;戴云;劉健康
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州微縝電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種高頻測(cè)試插座，其特征在于：具有測(cè)試座主體(2)，所述測(cè)試座主體(2)內(nèi)設(shè)有高頻探針(3)，所述高頻探針(3)為兩頭具有彎曲結(jié)構(gòu)，所述高頻探針(3)的一端與芯片接觸，其另一端與PCB板接觸。

2.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種高頻測(cè)試插座，其特征在于：所述高頻探針(3)由彈簧絲繞成。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種高頻測(cè)試插座，其特征在于：所述測(cè)試座主體(2)通過銷子定位和螺絲固定在導(dǎo)向框(1)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種高頻測(cè)試插座，其特征在于：所述測(cè)試座主體(2)的背面固定在PCB板上。