[發(fā)明專利]內(nèi)容地址存儲器及其處理方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710076687.0 | 申請日: | 2017-02-13 |
| 公開(公告)號: | CN106898376A | 公開(公告)日: | 2017-06-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王曉霞;張呈宇;魏進(jìn)武 | 申請(專利權(quán))人: | 中國聯(lián)合網(wǎng)絡(luò)通信集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號: | G11C15/04 | 分類號: | G11C15/04 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11205 | 代理人: | 宋揚,劉芳 |
| 地址: | 100033 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 內(nèi)容 地址 存儲器 及其 處理 方法 | ||
1.一種內(nèi)容地址存儲器,其特征在于,包括:第一P型晶體管、第二P型晶體管、第一憶阻器、第二憶阻器、第一非門、第二非門、電容、匹配線、寫入線、第一數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線;
所述第一P型晶體管與第一憶阻器串聯(lián)設(shè)置在所述匹配線與所述寫入線之間;
所述第一P型晶體管的控制端通過第一非門與所述第一數(shù)據(jù)線連接;
所述第二P型晶體管與第二憶阻器串聯(lián)設(shè)置在所述匹配線與所述寫入線之間;
所述第二P型晶體管的控制端通過第二非門與所述第二數(shù)據(jù)線連接;
所述電容的一端與所述匹配線連接,另一端與所述寫入線連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)容地址存儲器,其特征在于,所述第一P型晶體管和所述第二P型晶體管均為PMOS晶體管;
所述第一P型晶體管的漏極與所述匹配線連接,源極與所述第一憶阻器連接,柵極與所述第一非門的輸出端連接;
所述第一非門的輸入端與所述第一數(shù)據(jù)線連接;
所述第一憶阻器的一端與所述第一P型晶體管的源極連接,另一端與所述寫入線連接;
所述第二P型晶體管的漏極與所述匹配線連接,源極與所述第二憶阻器連接,柵極與所述第二非門的輸出端連接;
所述第二非門的輸入端與所述第二數(shù)據(jù)線連接;
所述第二憶阻器的一端與所述第二P型晶體管的源極連接,另一端與所述寫入線連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)容地址存儲器,其特征在于,還包括:電壓檢測電路,用于檢測所述電容上是否有電壓存在。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的內(nèi)容地址存儲器,其特征在于,還包括:第三P型晶體管、第四P型晶體管;
所述第三P型晶體管與所述第一P型晶體管和所述第一憶阻器串聯(lián)設(shè)置;
所述第四P型晶體管與所述第二P型晶體管和所述第二憶阻器串聯(lián)設(shè)置。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的內(nèi)容地址存儲器,其特征在于,所述第三P型晶體管的漏極與所述第一P型晶體管的源極連接,源極與所述第一憶阻器連接,柵極與所述第一非門的輸出端連接;
所述第四P型晶體管的漏極與所述第二P型晶體管的源極連接,源極與所述第二憶阻器連接,柵極與所述第二非門的輸出端連接。
6.一種基于權(quán)利要求1-5任一項所述的內(nèi)容地址存儲器的處理方法,其特征在于,包括:
將所述匹配線置高電平,所述寫入線置低電平,對所述電容進(jìn)行充電;
經(jīng)過第一預(yù)設(shè)時間后,通過所述第一數(shù)據(jù)線和所述第二數(shù)據(jù)線進(jìn)行查詢操作;
其中,所述第一預(yù)設(shè)時間大于所述電容的充電時間。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,通過所述第一數(shù)據(jù)線和所述第二數(shù)據(jù)線進(jìn)行查詢操作,包括:
將所述匹配線置為高阻狀態(tài),將所述寫入線置低電平;
在所述第一數(shù)據(jù)線和所述第二數(shù)據(jù)線上輸入欲查詢的數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,在所述第一數(shù)據(jù)線和所述第二數(shù)據(jù)線上輸入欲查詢的數(shù)據(jù)之后,還包括:
經(jīng)過第二預(yù)設(shè)時間后,檢測所述電容上是否有電壓存在;
若所述電容上有電壓存在,則說明輸入的數(shù)據(jù)與憶阻器中存儲的數(shù)據(jù)不匹配;
若所述電容上沒有電壓,則說明輸入的數(shù)據(jù)與憶阻器中存儲的數(shù)據(jù)匹配;
其中,所述第二預(yù)設(shè)時間大于所述電容的放電時間。
9.根據(jù)權(quán)利要求6-8任一項所述的方法,其特征在于,還包括:
將所述第一數(shù)據(jù)線和/或所述第二數(shù)據(jù)線置高電平;
通過所述匹配線和所述寫入線進(jìn)行寫操作。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其特征在于,通過所述匹配線和所述寫入線進(jìn)行寫操作,包括:
將所述匹配線置高電平,所述寫入線置低電平,以向第一憶阻器和/或所述第二憶阻器寫入1;
將所述匹配線置低電平,所述寫入線置高電平,以向第一憶阻器和/或所述第二憶阻器寫入0。
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