[發明專利]調節裝置及光譜儀

在審

• 申請號: 201710073983.5
• 申請日: 2017-02-10
• 公開（公告）號: CN108414084A
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發明（設計）人: 武建芬;宋瑤
• 申請（專利權）人: 北京金泰祁氏光電科技有限公司
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02;G01J3/04
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產權代理事務所(普通合伙) 11435
• 代理人: 郭棟梁

本發明公開了一種調節裝置及光譜儀。該調節裝置包括：調整架，用于調節光譜儀的光纖和狹縫的位置；調整架連接套，分別與光纖組件和狹縫組件相連接，且光纖組件和狹縫組件安裝在調整架的同一底座上面。該光譜儀包括上述調節裝置。通過本發明的技術方案，可以調節光纖和狹縫的位置，提高了調節的簡便性和精度。

技術領域

本發明涉及光設備領域，具體而言，涉及一種調節裝置及光譜儀。

背景技術

發射光譜儀在現代鋼鐵、化工、冶金、材料、生物等領域的元素成分和含量分析測試中起著重要的作用，其介于小階梯光柵和階梯光柵之間。它與一般的閃耀光柵不同，不以增加光柵刻線，而以增大閃耀角(高光譜級次和加大光柵刻劃面積)來獲得高分辨本領和高色散率。中階梯光柵光譜儀是一種全譜直讀的新型高端光譜儀器，它以中階梯光柵為主色散元件，經低色散元件進行交叉色散后，在焦面處形成二維譜圖(即：中階梯光柵光譜儀各級之間的重疊用交叉色散棱鏡的辦法來解決，即棱鏡的色散方向與中階梯光柵的色散方向互相垂直，這樣在儀器的焦面上形成二維光譜圖象)該二維譜圖被探測、接收、數字化后，采用特定的譜圖還原方法可以轉換為高分辨率的一維光譜信息。

與常規光譜儀器相比，中階梯光柵光譜儀具有高光譜分辨率、低檢出限、寬波段、無移動部件、結構緊湊、光學系統的體積減小、相對孔徑變大、光強也得到提高、全波長閃耀、分辨率和衍射效率都比較好以及全譜直讀等優點，摒棄了傳統的獲取高分辨率譜圖所慣用的多次測量不同譜帶在進行拼接的方法，可在一秒中內獲取覆蓋整個波段的高分辨率拉曼譜圖，再輔以巧妙的光路設計和先進的探測系統，方便靈活，響應速度快，峰值檢測精度高，不存在誤讀問題，因此中階梯光柵光譜儀在光譜分析領域占有重要的地位，代表了現代光譜技術的發展趨勢。

光柵光譜儀的組成部分主要是光源，分光系統和接收系統。圖1是相關技術中中階梯光柵光譜儀的光學系統結構示意圖。如圖1所示，該光學系統包括入射狹縫部分、準直鏡部分、中階梯光柵、反射棱鏡、聚焦鏡和面陣電荷耦合元件(Charge-coupled Device，簡稱為CCD)。該結構是最廣泛應用的單色器結構形式之一。且該結構簡單緊湊，無移動。

相關技術中的光譜儀方案中入射狹縫固定不動，入射光源由光纖引入到狹縫前端。將光纖通過光纖接頭SMA905固定在光譜儀機箱的側壁中，或是通過光纖接頭直接固定在狹縫前端。狹縫和光纖的位置均不可調節。

針對相關技術中狹縫和光纖的位置均不可調節的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

本發明提供了一種調節裝置及光譜儀，以至少解決上述問題。

根據本發明的一個方面，提供了一種調節裝置，包括：調整架，用于調節光譜儀的光纖和狹縫的位置；調整架連接套，分別與光纖組件和狹縫組件相連接，且光纖組件和狹縫組件安裝在調整架的同一底座上面。

優選地，光纖組件包括：光纖頭連接套和光纖；

調整架連接套第一端與光纖頭連接套第二端相連接，其中光纖頭連接套的第一端與光纖相連接。

優選地，光纖頭連接套的第一端具有螺紋內孔，螺紋內孔具有一個臺階，臺階與光纖的螺紋處的止口貼緊確定光纖頭連接套的位置。

優選地，調整架連接套第一端包括臺階孔，光纖通過調節架連接套內的孔底面和光纖頭外圓處配合安裝，且通過頂絲穿過調整架連接套壓緊在光纖上。

優選地，狹縫組件包括：狹縫支架座、狹縫片、狹縫法蘭蓋。

調整架的第二端與狹縫支架座相連接，其中狹縫支架座中放置有狹縫片，且狹縫支架座通過螺紋壓緊固定狹縫片在狹縫支架座中的位置。

優選地，狹縫片通過狹縫法蘭蓋固定在狹縫支架座上。

優選地，還包括：一維平移臺，用于控制調整架在上、下、左、右四個方向移動，使得光纖組件和狹縫組件安裝在調整架的同一底座上面。