[發(fā)明專利]數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710069141.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-02-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107527651B | 公開(公告)日: | 2020-07-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林紀(jì)舜;張雅廸;柳德鉉;林小峰;黃科颕 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華邦電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C13/00 | 分類號(hào): | G11C13/00;G01R19/00 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 馬雯雯;臧建明 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 數(shù)據(jù) 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置,適用于檢測(cè)儲(chǔ)存器裝置的讀出數(shù)據(jù),其特征在于,包括:
檢測(cè)參考電壓產(chǎn)生器,接收參考電壓,根據(jù)所述參考電壓與控制信號(hào)產(chǎn)生參考電流,并根據(jù)所述參考電流產(chǎn)生檢測(cè)參考電壓;
檢測(cè)參考電流產(chǎn)生器,耦接于所述檢測(cè)參考電壓產(chǎn)生器,接收所述檢測(cè)參考電壓,并根據(jù)所述檢測(cè)參考電壓與所述控制信號(hào)產(chǎn)生檢測(cè)參考電流;以及
檢測(cè)放大器,具有第一輸入端及第二輸入端,所述檢測(cè)放大器的第一輸入端耦接于所述檢測(cè)參考電流產(chǎn)生器,所述檢測(cè)放大器的第二輸入端耦接所述儲(chǔ)存器裝置所選擇的儲(chǔ)存單元,所述檢測(cè)放大器接收所述檢測(cè)參考電流以及來(lái)自所選擇的儲(chǔ)存單元的讀出電流,并根據(jù)檢測(cè)所述檢測(cè)參考電流與所述讀出電流之間的電流差以產(chǎn)生所述讀出數(shù)據(jù),
所述檢測(cè)參考電壓產(chǎn)生器包括:
運(yùn)算放大器,具有第一輸入端以接收所述參考電壓;
第一晶體管,具有第一端以接收電源電壓,且具有耦接于所述運(yùn)算放大器的輸出端的控制端;
二極管,具有陽(yáng)極及陰極,其中所述二極管的陽(yáng)極耦接于所述第一晶體管的第二端,所述二極管的陰極耦接于所述運(yùn)算放大器的第二端,其中所述檢測(cè)參考電壓產(chǎn)生于所述二極管的陽(yáng)極;以及
第一可變電阻,耦接于所述二極管的陰極與參考接地端之間,其中所述第一可變電阻的電阻值根據(jù)所述控制信號(hào)來(lái)決定,
其中所述第一可變電阻包括:
多個(gè)開關(guān)及多個(gè)電阻,其中所述多個(gè)開關(guān)串聯(lián)于所述二極管的所述陰極與所述參考接地端之間,所述多個(gè)電阻串聯(lián)于所述二極管的所述陰極與所述參考接地端之間,且所述多個(gè)開關(guān)分別與所述多個(gè)電阻并聯(lián),
其中,所述多個(gè)開關(guān)分別由所述控制信號(hào)的多個(gè)二進(jìn)制位所控制。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述檢測(cè)參考電流產(chǎn)生器包括:
第二晶體管,具有第一端以接收所述電源電壓,且所述第二晶體管的第二端耦接于所述第二晶體管的控制端;
第三晶體管,具有第一端以耦接于所述第二晶體管的第二端,所述第三晶體管的控制端接收所述檢測(cè)參考電壓;以及
第二可變電阻,耦接于所述第三晶體管的第二端與所述參考接地端之間,其中所述第二可變電阻的電阻值根據(jù)所述控制信號(hào)決定,且所述第一可變電阻與所述第二可變電阻的電阻值相等。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第二可變電阻包括:
多個(gè)開關(guān)及多個(gè)電阻,其中所述多個(gè)開關(guān)串聯(lián)于所述第三晶體管的第二端與所述參考接地端之間,所述多個(gè)電阻串聯(lián)于所述第三晶體管的第二端與所述參考接地端之間,且所述多個(gè)開關(guān)分別與所述多個(gè)電阻并聯(lián),
其中,所述多個(gè)開關(guān)分別受控于所述控制信號(hào)的多個(gè)二進(jìn)制位。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置,其特征在于,所選擇的儲(chǔ)存單元為非易失性儲(chǔ)存單元。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置,其特征在于,所選擇的儲(chǔ)存單元為電阻式儲(chǔ)存單元、相變化儲(chǔ)存單元、磁電阻式隨機(jī)存取儲(chǔ)存單元、鐵電式隨機(jī)存取儲(chǔ)存單元或電導(dǎo)橋式隨機(jī)存取儲(chǔ)存單元。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置,其特征在于,若所選擇的儲(chǔ)存單元為電阻式儲(chǔ)存單元,則所選擇的儲(chǔ)存單元為一電阻式儲(chǔ)存單元、一二極管及一電阻式儲(chǔ)存單元、一選擇器及一電阻式儲(chǔ)存單元、一雙極性晶體管及一電阻式儲(chǔ)存單元或一互補(bǔ)式電阻開關(guān)儲(chǔ)存單元。
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