[發明專利]一種調節信號強度差異的方法及裝置

有效

• 申請號: 201710067824.4
• 申請日: 2017-02-07
• 公開（公告）號: CN108400822B
• 公開（公告）日: 2020-09-08
• 發明（設計）人: 陳永卓
• 申請（專利權）人: 深圳市中興微電子技術有限公司
• 主分類號: H04B17/10
• 分類號: H04B17/10;H04W24/08
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 彭瑞欣;張天舒

本發明公開了一種調節信號強度的方法，所述方法包括：初始化小區的發射信號，并從測試載體讀取發射信號的最大衰減值；獲取第一預設衰減精度值和讀取第一測量衰減值，確定第一測量衰減值與最大衰減值之間的第一差值與第一預設衰減精度值之間的第二差值的絕對值小于第一設定閾值時，確定所述第一預設衰減精度值為穩定衰減值；獲取第二預設衰減精度值和讀取第二測量衰減值，確定第二測量衰減值與上次穩定衰減值對應的測量衰減值的第三差值、第二預設衰減精度值與第一預設衰減精度值之間的第四差值，確定第三差值與第四差值之間的第五差值的絕對值小于第一設定閾值時，確定第二測量衰減值為穩定衰減值。本發明還同時公開了一種調節信號強度的裝置。

技術領域

本發明涉及信號處理技術，具體涉及一種調節信號強度差異的方法及裝置。

背景技術

現有技術中用戶設備(UE，User Equipment)開機后通常處于空閑狀態，需要先找到合適的網絡進行小區選擇，讀取所述小區的系統信息，所述系統信息包括：管理信息庫(MIB，Management Information Base)和系統信息塊(SIB，System Information Blocks)，然后選擇合適的小區駐留下來，此時所述UE處于待機狀態。而所述SIB中的系統消息或無線資源控制(RRC，Radio Resource Control)消息用于向所述UE提供同頻測量參數、異頻測量參數、異制式測量參數、小區重選參數、小區切換參數、測量報告事件等參數。UE在待機或RRC連接狀態下，根據所述系統消息或者RRC消息指示，UE啟動同頻小區、異頻小區、以及異制式小區的測量。另外，衰減器控制器是基于復雜可編程邏輯器件(CPLD，ComplexProgrammable Logic Device)邏輯進行開發的硬件單板，該單板上有10路可調衰減通道，每路衰減通道可在0～60dbm(分貝毫瓦)范圍內進行調整，最多可以接入10路不同制式的小區。該單板通過RS-232串口和ATPi自動化測試平臺進行通信，通過串口讀寫，來控制每路衰減器的衰減值，達到自動控制和調整各路通道的衰減。

但現有技術中，從小區的射頻拉遠單元(RRU，Radio Remote Unit)射頻發射信號到所述UE損耗情況比較復雜，不同測試載體的射頻性能又不盡相同，所以容易出現差異。

發明內容

為解決現有存在的技術問題，本發明實施例期望提供一種調節信號強度差異的方法及裝置，能夠實現完全的自動化測試，提高測試效率。

本發明實施例的技術方案是這樣實現的：

根據本發明實施例的一方面，提供一種調節信號強度的方法，所述方法包括：

對測試載體當前接入小區的發射信號進行初始化，并使所述小區的發射信號衰減到最大，從所述測試載體讀取發射信號的最大衰減值；

獲取第一預設衰減精度值，并控制小區以與所述第一預設衰減精度值對應的信號強度變化量使發射信號進行衰減，并從所述測試載體讀取第一測量衰減值，確定所述第一測量衰減值與所述最大衰減值之間的第一差值，所述第一差值與第一預設衰減精度值之間的第二差值的絕對值小于第一設定閾值時，確定所述第一預設衰減精度值為穩定衰減值；

獲取第二預設衰減精度值，并控制小區以與所述第二預設衰減精度值對應的信號強度變化量使發射信號進行衰減，并從所述測試載體讀取第二測量衰減值，確定所述第二測量衰減值與上次穩定衰減值對應的測量衰減值的第三差值、所述第二預設衰減精度值與所述第一預設衰減精度值之間的第四差值，確定所述第三差值與所述第四差值之間的第五差值的絕對值小于第一設定閾值時，確定所述第二測量衰減值為穩定衰減值；其中，獲取所述第二預設衰減精度值大于所述第一預設衰減精度值；

直到確定出最大的穩定衰減值。

上述方案中，所述方法還包括：