[發(fā)明專利]解決光學(xué)檢測(cè)設(shè)備因透明材質(zhì)中的氣泡影響檢測(cè)的方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710064328.3
• 申請(qǐng)日: 2017-02-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106872483A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李忠奎;鄒艷秋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 大連益盛達(dá)智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/95
• 分類號(hào): G01N21/95
• 代理公司: 大連格智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司21238
• 代理人: 劉琦

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及IC、柔性線路板等壓接到玻璃、OLED等透明材質(zhì)時(shí)的質(zhì)量檢測(cè)，更具體地說(shuō)，是解決壓接后氣泡對(duì)檢測(cè)的影響。

背景技術(shù)

IC、柔性線路板(FPC,COF)等需要壓接到玻璃、OLED等透明材質(zhì)上，為檢測(cè)壓接情況，需要利用光學(xué)檢測(cè)設(shè)備透過(guò)透明材質(zhì)拍照另外一側(cè)的壓接圖片，但異物、劃傷、壓接材料本身缺陷和透明材質(zhì)氣泡對(duì)圖像都會(huì)造成影響，甚至有時(shí)影響是很接近的，檢測(cè)軟件很難區(qū)分哪些是氣泡影響的，這直接影響了對(duì)該問(wèn)題的下一步處理。

現(xiàn)有本技術(shù)領(lǐng)域中未曾有過(guò)需要檢測(cè)氣泡位置的需求。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明解決了光學(xué)檢測(cè)設(shè)備因透明材質(zhì)中存在氣泡而影響檢測(cè)的問(wèn)題，通過(guò)氣泡的確定，方便生產(chǎn)者根據(jù)情況確定下一步操作。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種解決光學(xué)檢測(cè)設(shè)備因透明材質(zhì)中的氣泡影響檢測(cè)的方法，包括如下步驟：

S1、獲得被測(cè)物粒子清晰的圖像，以及氣泡清晰的圖像；

S2、通過(guò)對(duì)所述粒子清晰的圖像做圖像處理，獲得粒子異常的位置；

S3、通過(guò)對(duì)所述氣泡清晰的圖像做圖像處理，獲得氣泡位置；

S4、通過(guò)所述粒子異常的位置和所述氣泡位置的對(duì)比，確定所述粒子異常的位置是否在所述氣泡位置的范圍內(nèi)。

其中，被測(cè)物為：IC、柔性線路板(FPC,COF)等壓接到玻璃、OLED等透明材質(zhì)上后的產(chǎn)品。步驟S4確定后粒子異常的位置，從而判定異常是否因氣泡造成，或如異物、劃傷等其他因素造成。

此外，步驟S1中，可以通過(guò)兩個(gè)相機(jī)獲得兩幅圖像，即直接拍照獲得圖片，具體方法，可以通過(guò)調(diào)節(jié)焦距，一個(gè)使粒子清晰，另一個(gè)使氣泡清晰。因此，本發(fā)明也可以通過(guò)一個(gè)相機(jī)獲得上述兩幅圖像。

此外，步驟S2和S3分別根據(jù)粒子和氣泡的特性，通過(guò)圖像處理方法如投影法、差影法、模板匹配、blob分析法，獲得所述粒子異常的位置和所述氣泡位置。

本發(fā)明優(yōu)點(diǎn)：利用一副圖像檢測(cè)出異常位置，另一幅圖像檢測(cè)出氣泡所在位置，解決了一副圖像能檢測(cè)出異常但無(wú)法區(qū)分是否是氣泡影響的問(wèn)題。

附圖說(shuō)明

圖1是一個(gè)檢測(cè)實(shí)施例中獲得的粒子清晰圖像。

圖2是圖1所示檢測(cè)實(shí)施例中獲得的氣泡清晰圖像。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明的過(guò)程為，首先采集兩幅圖像，分別檢測(cè)。一副圖像檢測(cè)出粒子異常位置，另一幅圖像檢測(cè)出氣泡所在位置。根據(jù)成本和檢測(cè)速度不同，可采取以下方式：

方式1.采用一套采集系統(tǒng)對(duì)待檢測(cè)物體采集兩次，一次采集的圖像A為聚焦到使粒子清晰，另一次采集的圖像B為聚焦到氣泡清晰。

方式2.采用兩個(gè)相機(jī)共用一套鏡頭及照明系統(tǒng)對(duì)待檢測(cè)物體進(jìn)行圖像采集，一個(gè)相機(jī)采集的圖像A為聚焦到使粒子清晰，另一個(gè)相機(jī)采集的圖像B為聚焦到氣泡清晰。

方式3.采用兩套采集系統(tǒng)對(duì)待檢測(cè)物體分兩次進(jìn)行圖像采集，一套采集的圖像A為聚焦到使粒子清晰，另一套采集的圖像B為聚焦到氣泡清晰。其他方式不一一列舉。

采集到兩幅圖像后，可采用投影法、差影法、模板匹配、blob分析等方式中的一種或多種對(duì)A圖像進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)出異常的位置，類似可采用投影法、差影法、模板匹配、blob分析等方式中的一種或多種對(duì)B圖像進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)出氣泡的位置和大小，通過(guò)計(jì)算，根據(jù)粒子異常位置是否在氣泡的范圍內(nèi)來(lái)判定A圖像的異常是否因?yàn)闅馀菰斐傻模皇钱愇铩潅绕渌蛩卦斐傻摹?/p>

根據(jù)需要，可使用更多套的采集系統(tǒng)或一個(gè)相機(jī)采集多次，提高分辨其他影響到A圖像的物體(包含并且不限于異物、劃傷、凸凹等)的能力。

如圖1所示粒子清晰的第一對(duì)比圖，圖中圓圈為異常位置。如圖2所示氣泡清晰的第二對(duì)比圖，圖中圓圈為氣泡位置。

以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明披露的技術(shù)范圍內(nèi)，根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案及其發(fā)明構(gòu)思加以等同替換或改變，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。