[發明專利]時間交織型ADC系統的數字校驗電路及實時校驗方法

在審

• 申請號: 201710064217.2
• 申請日: 2017-02-04
• 公開（公告）號: CN106911331A
• 公開（公告）日: 2017-06-30
• 發明（設計）人: 彭習武;張濤;朱席鼎;張云福
• 申請（專利權）人: 武漢科技大學
• 主分類號: H03M1/06
• 分類號: H03M1/06;H03M1/12
• 代理公司: 北京眾達德權知識產權代理有限公司11570
• 代理人: 劉杰

1.一種時間交織型ADC系統的數字校驗電路，其特征在于，所述時間交織型ADC系統包括多個子通道時間交織ADC系統，ADC1，……，ADCL，其中，所述L為正整數；在第一時刻t₁，輸入信號x(t)、輸出y(n)分別與所述ADC1連接；在一預設時刻t_k，輸入信號x(t)、輸出y(n)分別與所述ADCk連接，其中，t_k為第k時刻，ADC1保持t₁時刻的輸入，ADC2保持t₂時刻的輸入，……，ADCk-1保持t_k-1時刻的輸入；在所述多個子通道時間交織ADC系統前還連接有第一轉換開關，在所述多個子通道時間交織ADC系統后還連接有第二轉換開關。

2.如權利要求1所述的時間交織型ADC系統的數字校驗電路，其特征在于，所述第一轉換開關為多個采樣保持器。

3.如權利要求1所述的時間交織型ADC系統的數字校驗電路，其特征在于，所述第二轉換開關為多個數據對齊電路。

4.一種如權利要求1至3任一所述時間交織型ADC系統的數字校驗電路的實時校驗方法，其特征在于，所述實時校驗方法包括：

步驟一，在數字校驗電路上電后，初始化直流增益和數據線性相對斜率的值；

步驟二，數字校驗電路接收時間交織型ADC系統的數據；

步驟三，按照時間交替將步驟二中接收的時間交織型ADC系統的數據分成L個子通道數據；

步驟四，分別對L個子通道數據求平均值；

步驟五，將L個子通道數據的L個平均值再求平均值，作為時間交織型ADC系統的直流增益，同時更新初始的直流增益值；

步驟六，將步驟四中得到的平均值減去步驟五中得到的時間交織型ADC系統的直流增益，得到L路偏差數據；

步驟七，對步驟六得到的L路偏差數據求方差；其中，所述方差的長度可以根據校驗精度進行調整；

步驟八，以步驟七得到的第1路偏差數據的方差作為參考值，分別除以剩余的L-1路偏差數據的方差，得到L-1個數據線性相對斜率；

步驟九，將步驟六中得到的第1路偏差數據加上步驟五中得到的直流增益，得到第1路數據；將步驟六中得到的第2至L路偏差數據分別加上步驟五中得到的直流增益再分別乘以L-1個數據線性相對斜率，得到L-1路數據；將第1路數據與L-1路數據交織輸出。

5.如權利要求4所述的實時校驗方法，其特征在于，所述步驟一中所述初始化直流增益和數據線性相對斜率的值，具體為：

直流增益和數據線性相對斜率的取值：

$G=\frac{2^N+1}{2}---\left(1\right)$

k(j)＝1(2)

式(1)和(2)中：

N表示時間交織型ADC系統的精度，G表示時間交織型ADC系統的直流增益，k表示數據線性相對斜率，j取值1到L-1。