[發明專利]光檢測裝置

有效

• 申請號: 201710063525.3
• 申請日: 2017-02-03
• 公開（公告）號: CN107192349B
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 鳴海建治;鹽野照弘;西脅青兒
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;G01B9/02
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 安香子;黃劍鋒

1.一種光檢測裝置，其特征在于，具備：

攝像元件，包括多個第1像素、多個第2像素、多個第3像素及多個第4像素；

干涉元件，具有多個第1入射區域及多個第2入射區域；以及

光學系統，使第1波段的光向上述多個第1入射區域入射，使與上述第1波段不同的第2波段的光向上述多個第2入射區域入射；

上述干涉元件使入射到上述多個第1入射區域之中相互相鄰的兩個第1入射區域中的上述第1波段的光的一部分進行干涉，將干涉后的光向上述多個第1像素中的某一個引導，將入射到上述兩個第1入射區域中的上述第1波段的光的另一部分向上述多個第2像素中的某一個引導；

上述干涉元件使入射到上述多個第2入射區域之中相互相鄰的兩個第2入射區域中的上述第2波段的光的一部分進行干涉，將干涉后的光向上述多個第3像素中的某一個引導，將入射到上述兩個第2入射區域中的上述第2波段的光的另一部分向上述多個第4像素中的某一個引導。

2.如權利要求1所述的光檢測裝置，其特征在于，

還具備運算電路，該運算電路根據上述多個第1像素檢測出的光強度信息及上述多個第2像素檢測出的光強度信息求出第1相位差信息，根據上述多個第3像素檢測出的光強度信息及上述多個第4像素檢測出的光強度信息求出第2相位差信息。

3.如權利要求2所述的光檢測裝置，其特征在于，

上述運算電路根據上述第1相位差信息及上述第2相位差信息，求出第1波段中包含的第1波長及上述第2波段中包含的第2波長的等價波長下的相位差信息。

4.如權利要求1所述的光檢測裝置，其特征在于，

上述干涉元件包括多個光耦合層；

上述多個光耦合層分別具備具有衍射光柵的波導層。

5.如權利要求4所述的光檢測裝置，其特征在于，

上述干涉元件具有位于上述兩個第1入射區域之間的第1遮光區域、和位于上述兩個第2入射區域之間的第2遮光區域；

上述多個光耦合層包括與上述兩個第1入射區域及上述第1遮光區域對應地配置、或者與上述兩個第2入射區域及上述第2遮光區域對應地配置的光耦合層；

上述多個第2像素包括與上述兩個第1入射區域對應地配置的兩個第2像素；

上述多個第1像素包括與上述第1遮光區域對應地配置的第1像素；

上述多個第4像素包括與上述兩個第2入射區域對應地配置的兩個第4像素；

上述多個第3像素包括與上述第2遮光區域對應地配置的第3像素。

6.如權利要求1所述的光檢測裝置，其特征在于，

上述干涉元件具備：

第1光傳輸路徑；

第2光傳輸路徑；以及

第3光傳輸路徑，將上述第1光傳輸路徑與上述第2光傳輸路徑之間連接。

7.如權利要求6所述的光檢測裝置，其特征在于，

上述第1光傳輸路徑具備來自上述兩個第1入射區域的一方或上述兩個第2入射區域的一方的光入射的入射部、以及將入射的上述光的一部分向上述多個第2像素中的某一個或上述多個第4像素中的某一個射出的射出部；

上述第2光傳輸路徑具備來自上述兩個第1入射區域的另一方或上述兩個第2入射區域的另一方的光入射的入射部、以及將入射的上述光的一部分向上述多個第2像素中的某一個或上述多個第4像素中的某一個射出的射出部。

8.如權利要求7所述的光檢測裝置，其特征在于，

上述干涉元件還具備第4光傳輸路徑；

上述第4光傳輸路徑具備與上述第3光傳輸路徑連接的入射部、以及將從上述入射部入射的光向上述多個第1像素中的某一個或上述多個第3像素中的某一個射出的射出部。

9.如權利要求1所述的光檢測裝置，其特征在于，

上述光學系統包括濾波器陣列，該濾波器陣列具有使上述第1波段的光選擇性地透射的多個第1帶通濾波器及使上述第2波段的光選擇性地透射的多個第2帶通濾波器。