[發明專利]光電耦合器抗輻照能力無損篩選方法及裝置

在審

• 申請號: 201710063087.0
• 申請日: 2017-01-19
• 公開（公告）號: CN106841968A
• 公開（公告）日: 2017-06-13
• 發明（設計）人: 石強;李兆成
• 申請（專利權）人: 深圳市量為科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/265
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光電耦合器抗輻照能力無損篩選方法，其特征在于，包括：

獲取作為隨機子樣的光電耦合器輻照前的電流傳輸比和1/f噪聲幅值；

獲取所述作為隨機子樣的光電耦合器經過輻照后的電流傳輸比；

基于輻照前的光電耦合器的電流傳輸比和經過輻照后的光電耦合器的電流傳輸比，計算輻照前后的電流傳輸比變化量；

對數據進行預處理，以所述噪聲幅值作為信息參數，以所述電流傳輸比變化量作為輻照性能參數，建立多元線性回歸方程，并計算線性回歸方程中的系數向量；

基于所述系數向量，建立所述信息參數和輻照性能參數之間的無損篩選回歸預測方程；

利用所述無損篩選回歸預測方程，預測單個光電耦合器件的抗輻照性能，對同批其他光電耦合器器件進行篩選。

2.根據權利要求1所述的一種光電耦合器抗輻照能力無損篩選方法，其特征在于，所述獲取隨機子樣光電耦合器的噪聲電壓功率譜幅值包括：

設置光電耦合器的偏置和負載條件；

在光電耦合器的輸出端引出噪聲信號；

對所述噪聲信號進行低噪聲的前置放大，得到前置放大信號；

采集所述前置放大信號，計算得到1/f噪聲幅值。

3.根據權利要求1所述的一種光電耦合器抗輻照能力無損篩選方法，其特征在于，所述利用所述無損篩選回歸預測方程，測試單個光電耦合器的抗輻照性能，對同批光電耦合器進行篩選，包括：

獲取待篩選光電耦合器的1/f噪聲幅值B；

基于所述1/f噪聲幅值，利用所述回歸預測方程，得到此光電耦合器的電流傳輸比變化量預測值；

將所述電流傳輸比變化量預測值和此批光電耦合器的電流傳輸比變化量容限進行比較，如果所述預測值在此類光電耦合器的電流傳輸比變化量容限之內，則認為此光電耦合器為合格產品；反之，如果所述預測值不在此類光電耦合器的電流傳輸比變化量容限之內，則認為此光電耦合器為不合格產品。

4.一種光電耦合器抗輻照能力無損篩選裝置，其特征在于，包括：

第一獲取單元，用于獲取作為隨機子樣的光電耦合器輻照前的電流傳輸比和1/f噪聲幅值；

第二獲取單元，用于獲取所述作為隨機子樣的光電耦合器經過輻照后的電流傳輸比；

計算單元，用于基于輻照前的光電耦合器的電流傳輸比和經過輻照后的光電耦合器的電流傳輸比，計算輻照前后的電流傳輸比變化量；

線性回歸方程建立單元，用于對數據進行預處理，以所述噪聲幅值作為信息參數，以所述電流傳輸比變化量作為輻照性能參數，建立多元線性回歸方程，并計算線性回歸方程中的系數向量；

無損篩選回歸預測方程建立單元，基于所述系數向量，建立所述信息參數和輻照性能參數之間的無損篩選回歸預測方程；

測試單元，用于利用所述無損篩選回歸預測方程，預測單個光電耦合器件的抗輻照性能，對同批其他光電耦合器器件進行篩選。