[發明專利]檢測天線陣列和/或與其耦合的設備的缺陷的系統和方法

有效

• 申請號: 201710061524.5
• 申請日: 2017-01-26
• 公開（公告）號: CN107831372B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: G·S·李;C·L·科爾曼;G·D·范韋格倫
• 申請（專利權）人: 是德科技股份有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 北京坤瑞律師事務所 11494
• 代理人: 封新琴

1.一種方法，其包括：

在接收天線中接收由發射天線陣列發射的射頻調試信號，被測設備耦合到所述發射天線陣列，所述接收天線位于所述發射天線陣列的遠場區域中，所述發射天線陣列配置為經由所述射頻調試信號來傳播指示所述發射天線陣列的信號輻射分布的信息；和

對在所述接收天線中接收到的所述射頻調試信號執行缺陷檢測過程，所述缺陷檢測過程包括：

通過將接收天線中接收的射頻調試信號數字化來獲得數字數據集；

將反向傳播算法應用于所述數字數據集以導出所述發射天線陣列的重構的近場表示，所述重構的近場表示指示所述發射天線陣列的信號輻射分布；和

使用所述發射天線陣列的重構的近場表示來確定在所述發射天線陣列或耦合到所述發射天線陣列的被測設備中的至少一個中是否存在一個或多個缺陷，并且當確定所述一個或多個缺陷存在時，識別所述發射天線陣列或耦合到所述發射天線陣列的被測設備中的至少一個中的所述一個或多個缺陷。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括：

選擇第一信號相位和第二信號相位，用于配置所述發射天線陣列以經由所述射頻調試信號傳播指示所述發射天線陣列的信號輻射分布的信息；

使用所述第一信號相位來配置所述發射天線陣列的第一組輻射元件，以發射具有所述第一信號相位的所述射頻調試信號的第一部分；和

使用第二信號相位來配置所述發射天線陣列的第二組輻射元件，以發射具有所述第二信號相位的所述射頻調試信號的第二部分，所述第二組輻射元件中的每個單獨的輻射元件位于所述第一組輻射元件的兩個或更多個輻射元件之間。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，所述第一信號相位相對于所述第二信號相位偏移180度，并且所述第一組輻射元件或所述第二組輻射元件中的至少一個包括所述發射天線陣列的行或列中的至少一個的每個輻射元件。

4.根據權利要求3所述的方法，還包括：

使用調試代碼序列來配置所述第一組輻射元件以發射具有所述第一信號相位的所述射頻調試信號的所述第一部分，并且配置所述第二組輻射元件以發射具有所述第二信號相位的所述射頻調試信號的所述第二部分，所述調試代碼序列被選擇為通過所述發射天線陣列將所述射頻調試信號的兩個或更多個旁瓣限制在所述射頻調試信號的信號傳輸的預定錐角內部。

5.根據權利要求2所述的方法，其中，所述第一信號相位與所述第二信號相位相同。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，所述反向傳播算法包括以下至少之一：傅里葉逆變換、卷積、弗勞恩霍夫傳播算法、菲涅爾傳播算法、瑞利-索默費爾德傳播算法、角頻譜傳播算法、或偏微分方程解算器。

7.根據權利要求1所述的方法，其中，使用所述發射天線陣列的重構的近場表示來識別所述發射天線陣列或耦合到所述發射天線陣列的被測設備中至少一個的所述一個或多個缺陷包括：

將所述發射天線陣列的重構的近場表示與所述發射天線陣列的信號輻射參考模板進行比較，以檢測所述發射天線陣列的信號輻射分布中的有缺陷信號相位或有缺陷幅度中的至少一個；和

基于所述有缺陷信號相位或所述有缺陷幅度中的所述至少一個，識別所述發射天線陣列或耦合到所述發射天線陣列的所述被測設備中的所述至少一個的所述一個或多個缺陷。

8.一種方法，其包括：

識別發射天線陣列的第一組輻射元件，被測設備耦合到所述發射天線陣列；

識別所述發射天線陣列的第二組輻射元件，使得所述第二組輻射元件的每個單獨的輻射元件位于所述第一組輻射元件的兩個或更多個輻射元件之間；和

利用根據調試代碼序列格式化的天線饋送信號驅動所述發射天線陣列，所述調試代碼序列至少部分地被選擇，以配置第一組輻射元件以發射具有第一信號相位的第一射頻信號分量，并且配置所述第二組輻射元件以發射具有第二信號相位的第二射頻信號分量。