[發(fā)明專利]Massive-MIMO天線測量裝置及其指向性測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710060810.X
• 申請日: 2017-01-25
• 公開（公告）號: CN107024621B
• 公開（公告）日: 2019-05-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 河村尚志
• 申請（專利權(quán)）人: 安立股份有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R29/08
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 李芳華

1.一種Massive-MIMO天線測量裝置，其具備：

被測天線支撐部(31)，將Massive-MIMO天線作為被測天線，支撐該被測天線；

探針天線(12)，用于接收由所述被測天線輸出的電磁波；

探針掃描機構(gòu)(13)，用于使所述探針天線在所述被測天線的近場區(qū)域的規(guī)定測量平面內(nèi)移動；

信號發(fā)生器(21)，向所述被測天線供給測量用信號；

振幅相位檢測器(22)，從所述探針天線的接收信號檢測振幅和相位；以及

測量控制部(32)，控制所述探針掃描機構(gòu)，使所述探針天線的位置在所述測量平面內(nèi)進行掃描且接收所述振幅相位檢測器的輸出，而求出所述被測天線的遠場指向性，

所述Massive-MIMO天線測量裝置的特征在于，

以將所述被測天線的電磁波輻射面正對所述測量平面的方向設(shè)為基準方向，能夠從所述基準方向變更所述被測天線的方向的方式構(gòu)成所述被測天線支撐部，

所述Massive-MIMO天線測量裝置具備天線方向變更構(gòu)件(34)，所述天線方向變更構(gòu)件控制所述被測天線支撐部來變更所述被測天線的方向，以使所述被測天線輻射的波束的方向朝向所述測量平面的中央。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的Massive-MIMO天線測量裝置，其特征在于，

所述測量控制部還具備波束方向檢測構(gòu)件(33)、臨時指向性計算構(gòu)件(35)以及指向性校正構(gòu)件(36)，

所述波束方向檢測構(gòu)件(33)在所述被測天線朝向所述基準方向的狀態(tài)下，使所述探針天線以通過所述測量平面局部的方式進行掃描，由通過該掃描得到的振幅、相位的信息求出所述被測天線輻射的波束的方向，

所述天線方向變更構(gòu)件(34)控制所述被測天線支撐部來變更所述被測天線的方向，以使通過所述波束方向檢測構(gòu)件檢測的波束的方向朝向所述測量平面的中央，

所述臨時指向性計算構(gòu)件(35)在通過所述天線方向變更構(gòu)件以波束方向朝向所述測量平面中央的方式變更所述被測天線方向的狀態(tài)下，使所述探針天線在所述測量平面上進行掃描，求出所述被測天線的臨時指向性，

所述指向性校正構(gòu)件(36)對通過所述臨時指向性計算構(gòu)件得到的臨時指向性進行相當(dāng)于所述天線方向變更構(gòu)件變更的角度量的校正，求出所述被測天線朝向所述基準方向時的指向性。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的Massive-MIMO天線測量裝置，其特征在于，

所述波束方向檢測構(gòu)件通過所述探針天線進行沿著所述測量平面內(nèi)的正交軸的其中一個通過所述測量平面內(nèi)的掃描以及沿所述正交軸的另一個通過所述平面內(nèi)的掃描，求出所述被測天線輻射的波束的方向。

4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的Massive-MIMO天線測量裝置，其特征在于，

通過所述波束方向檢測構(gòu)件求出的波束方向的角度為指向性最大的極大值位置兩側(cè)的2個極小值位置的中間值。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的Massive-MIMO天線測量裝置，其特征在于，

判定通過所述天線方向變更構(gòu)件(34)變更的所述被測天線輻射的波束方向是否在所述測量平面的中央附近，在中央附近的情況下，轉(zhuǎn)入所述臨時指向性計算構(gòu)件，不在中央附近的情況下，再次轉(zhuǎn)入所述天線方向變更構(gòu)件。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的Massive-MIMO天線測量裝置，其特征在于，

通過所述波束方向檢測構(gòu)件求出的波束方向(θ、Φ)超出規(guī)定閾值的情況下，追加至少1次以通過超出其閾值的波束方向與所述測量平面交叉的坐標的方式進行的掃描。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的Massive-MIMO天線測量裝置，其特征在于，

所述波束方向檢測構(gòu)件能夠預(yù)測通過從外部輸入的波束方向控制信號朝向基準方向的被測天線(1)的波束方向的情況下，預(yù)先求出其預(yù)測的波束方向與測量平面交叉的坐標(X，Y)＝(A，B)，使所述探針天線在與X軸平行的Y＝B的直線上對測量平面進行1次掃描，使所述探針天線Y軸平行的X＝A的直線上對測量平面進行1次掃描，更準確地求出遠場的波束方向。