[發明專利]性能控制方法及裝置

在審

• 申請號: 201710060690.3
• 申請日: 2017-01-25
• 公開（公告）號: CN107026486A
• 公開（公告）日: 2017-08-08
• 發明（設計）人: 龔能輝
• 申請（專利權）人: 聯發科技股份有限公司
• 主分類號: H02J7/00
• 分類號: H02J7/00
• 代理公司: 北京萬慧達知識產權代理有限公司11111
• 代理人: 白華勝,王蕊

1.一種性能控制方法，其特征在于，所述方法用于借助于多個充電電路的管理在電子設備中執行性能控制，所述多個充電電路位于所述電子設備中，且包括第一充電電路和第二充電電路，所述方法包括：

將所述第一充電電路的第一組候選參數設置中的每一個應用到第一充電電路，以獲得所述電子設備的第一組指標值，所述第一組指標值包括至少一個第一指標的指標值；并獲得對應于所述第一組指標值中各指標值的第一得分，從而獲得關于所述第一充電電路的一組第一得分；

將所述第二充電電路的第二組候選參數設置中的每一個應用到所述第二充電電路，以獲得所述電子設備的第二組指標值，所述第二組指標值包括至少一個第二指標的指標值；并獲得對應于所述第二組指標值中各指標值的第二得分，從而獲得關于所述第二充電電路的一組第二得分；

根據關于所述第一充電電路的該組第一得分確定所述第一充電電路應使用的第一參數設置；

根據關于所述第二充電電路的該組第二得分確定所述第二充電電路應使用的第二參數設置；

將所述第一參數設置應用到所述第一充電電路以及將所述第二參數設置應用到所述第二充電電路，以優化所述電子設備的整體性能。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，

將所述第一充電電路的第一組候選參數設置中的每一個應用到第一充電電路，以獲得所述電子設備的第一組指標值具體包括：

將所述第一充電電路的第一組候選參數設置中的每一個應用到所述第一充電電路，獲得至少一個第一指標的檢測結果，所述第一組指標值包括至少一個第一指標的檢測結果。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，

至少一個第一指標的檢測結果包括：第一組候選參數設置中第一參數的兩個預定設置所對應的第一指標的檢測結果；

將所述第一充電電路的第一組候選參數設置中的每一個應用到第一充電電路，以獲得所述電子設備的第一組指標值還包括：

根據第一參數的兩個預定設置所對應的第一指標的檢測結果，計算第一參數的第三設置所對應的第一指標的指標值，所述第一參數的第三設置位于所述第一參數的兩個預定設置之間，所述第一組指標值還包括第一參數的第三設置所對應的第一指標的指標值。

4.如權利要求1或者2所述的方法，其特征在于，

根據關于所述第一充電電路的該組第一得分確定所述第一充電電路應使用的第一參數設置具體包括：

根據關于所述第一充電電路的該組第一得分從所述第一組候選參數設置中選擇出第一參數設置，其中，該組第一得分中的每一個對應于所述第一組候選參數設置中的其中一個。

5.如權利要求3所述的方法，其特征在于，

根據關于所述第一充電電路的該組第一得分確定所述第一充電電路應使用的第一參數設置具體包括：

根據關于所述第一充電電路的該組第一得分從所述第一組候選參數設置和第一參數的附加設置中選擇出所述第一參數設置，其中所述第一參數的附加設置包括所述第一參數的第三設置。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一個第一指標包括所述電子設備內的主系統電路的至少一個系統性能指標，以及，所述至少一個第二指標包括所述至少一個系統性能指標；以及，該組第一得分和該組第二得分與所述主系統電路的系統性能有關。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述至少一個系統性能指標包括所述主系統電路內的中央處理單元CPU的速度、所述CPU的功率損耗、所述主系統電路內的圖形處理單元GPU的速度以及所述GPU的功率損耗中的至少一個。

8.如權利要求6所述的方法，其特征在于，該組第一得分和該組第二得分為所述主系統電路的系統性能得分。

9.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述至少一個第一指標還包括所述第一充電電路的芯片溫度指標，以及，所述至少一個第二指標還包括所述第二充電電路的芯片溫度指標；以及，該組第一得分還與所述第一充電電路的芯片溫度檢測結果有關，以及，該組第二得分還與所述第二充電電路的芯片溫度檢測結果有關。