[發明專利]一種合法芯片的識別方法及系統

有效

• 申請號: 201710060676.3
• 申請日: 2017-01-25
• 公開（公告）號: CN107369022B
• 公開（公告）日: 2020-08-21
• 發明（設計）人: 李東聲
• 申請（專利權）人: 天地融科技股份有限公司
• 主分類號: G06Q30/00
• 分類號: G06Q30/00;G06K17/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種合法芯片的識別方法，其特征在于，包括：

讀取裝置向待讀取芯片依次發送M個待處理指令，所述M個待處理指令包含N個預設指令，其中，M≥N，M、N均為正整數；

所述待讀取芯片依次接收所述M個待處理指令，分別對每個所述待處理指令進行響應；

所述讀取裝置獲取第一要素集合，其中，所述第一要素集合包括：所述待讀取芯片分別對每個所述預設指令進行響應的響應信息的電平特性，各個所述響應信息的電平特性分別包括以下要素的至少之一：電平值、電平上升沿的持續時間、脈沖寬度、占空比、狀態值和差分信號交叉點的時刻；

所述讀取裝置獲取所述待讀取芯片的電平特性，其中，所述待讀取芯片的電平特性為所述讀取裝置對所述第一要素集合進行第一處理得到的；

所述讀取裝置獲取與所述待讀取芯片的標識對應的合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進行比對的結果，在確定比對一致的情況下，識別出所述待讀取芯片為合法芯片，其中，所述與所述待讀取芯片的標識對應的合法芯片的電平特性的要素與所述待讀取芯片的電平特性的要素相同。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述讀取裝置獲取與所述待讀取芯片的標識對應的合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進行比對的結果之前，所述方法還包括：

電平特性獲取裝置向合法芯片依次發送所述N個預設指令；

所述合法芯片依次接收所述N個預設指令，分別對每個所述預設指令進行響應；

所述電平特性獲取裝置獲取第二要素集合，其中，所述第二要素集合包括：所述合法芯片分別對每個所述預設指令進行響應的響應信息的電平特性，各個所述響應信息的電平特性分別包括以下要素的至少之一：電平值、電平上升沿的持續時間、脈沖寬度、占空比、狀態值和差分信號交叉點的時刻；

所述電平特性獲取裝置獲取所述合法芯片的電平特性，其中，所述合法芯片的電平特性為所述電平特性獲取裝置對所述第二要素集合進行第二處理得到的，其中，所述第二處理與所述第一處理相同；

服務器或者所述讀取裝置獲取并存儲所述合法芯片的標識和所述合法芯片的電平特性。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述讀取裝置獲取與所述待讀取芯片的標識對應的合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進行比對的結果，在確定比對一致的情況下，識別出所述待讀取芯片為合法芯片包括：

所述讀取裝置將所述待讀取芯片的標識以及所述待讀取芯片的電平特性發送至服務器；

所述服務器接收所述待讀取芯片的標識和所述待讀取芯片的電平特性，并獲取預先存儲的與所述待讀取芯片的標識對應的所述合法芯片的電平特性，將所述合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進行比對，將比對一致的結果發送至所述讀取裝置；

所述讀取裝置識別出所述待讀取芯片為合法芯片；

或者

所述讀取裝置獲取預先存儲的與所述待讀取芯片的標識對應的所述合法芯片的電平特性，將所述合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進行比對，在確定比對一致的情況下，識別出所述待讀取芯片為合法芯片；

或者

所述讀取裝置將所述待讀取芯片的標識發送至服務器；

所述服務器接收所述待讀取芯片的標識，并獲取預先存儲的與所述待讀取芯片的標識對應的所述合法芯片的電平特性，將與所述待讀取芯片的標識對應的所述合法芯片的電平特性發送至所述讀取裝置；

所述讀取裝置將所述合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進行比對，在確定比對一致的情況下，識別出所述待讀取芯片為合法芯片。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述獲取預先存儲的與所述待讀取芯片的標識對應的所述合法芯片的電平特性包括：

對所述待讀取芯片的標識與所述合法芯片的標識進行比對；

在確定比對一致的情況下，獲取所述合法芯片的電平特性。

5.根據權利要求1、2或4所述的方法，其特征在于，所述第一處理包括：歸類、存儲和/或校準。

6.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一處理包括：歸類、存儲和/或校準。