[發(fā)明專利]一種合法芯片的識(shí)別方法及系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710060676.3
• 申請(qǐng)日: 2017-01-25
• 公開（公告）號(hào): CN107369022B
• 公開（公告）日: 2020-08-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李東聲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 天地融科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06Q30/00
• 分類號(hào): G06Q30/00;G06K17/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種合法芯片的識(shí)別方法，其特征在于，包括：

讀取裝置向待讀取芯片依次發(fā)送M個(gè)待處理指令，所述M個(gè)待處理指令包含N個(gè)預(yù)設(shè)指令，其中，M≥N，M、N均為正整數(shù)；

所述待讀取芯片依次接收所述M個(gè)待處理指令，分別對(duì)每個(gè)所述待處理指令進(jìn)行響應(yīng)；

所述讀取裝置獲取第一要素集合，其中，所述第一要素集合包括：所述待讀取芯片分別對(duì)每個(gè)所述預(yù)設(shè)指令進(jìn)行響應(yīng)的響應(yīng)信息的電平特性，各個(gè)所述響應(yīng)信息的電平特性分別包括以下要素的至少之一：電平值、電平上升沿的持續(xù)時(shí)間、脈沖寬度、占空比、狀態(tài)值和差分信號(hào)交叉點(diǎn)的時(shí)刻；

所述讀取裝置獲取所述待讀取芯片的電平特性，其中，所述待讀取芯片的電平特性為所述讀取裝置對(duì)所述第一要素集合進(jìn)行第一處理得到的；

所述讀取裝置獲取與所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進(jìn)行比對(duì)的結(jié)果，在確定比對(duì)一致的情況下，識(shí)別出所述待讀取芯片為合法芯片，其中，所述與所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的合法芯片的電平特性的要素與所述待讀取芯片的電平特性的要素相同。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述讀取裝置獲取與所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進(jìn)行比對(duì)的結(jié)果之前，所述方法還包括：

電平特性獲取裝置向合法芯片依次發(fā)送所述N個(gè)預(yù)設(shè)指令；

所述合法芯片依次接收所述N個(gè)預(yù)設(shè)指令，分別對(duì)每個(gè)所述預(yù)設(shè)指令進(jìn)行響應(yīng)；

所述電平特性獲取裝置獲取第二要素集合，其中，所述第二要素集合包括：所述合法芯片分別對(duì)每個(gè)所述預(yù)設(shè)指令進(jìn)行響應(yīng)的響應(yīng)信息的電平特性，各個(gè)所述響應(yīng)信息的電平特性分別包括以下要素的至少之一：電平值、電平上升沿的持續(xù)時(shí)間、脈沖寬度、占空比、狀態(tài)值和差分信號(hào)交叉點(diǎn)的時(shí)刻；

所述電平特性獲取裝置獲取所述合法芯片的電平特性，其中，所述合法芯片的電平特性為所述電平特性獲取裝置對(duì)所述第二要素集合進(jìn)行第二處理得到的，其中，所述第二處理與所述第一處理相同；

服務(wù)器或者所述讀取裝置獲取并存儲(chǔ)所述合法芯片的標(biāo)識(shí)和所述合法芯片的電平特性。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述讀取裝置獲取與所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進(jìn)行比對(duì)的結(jié)果，在確定比對(duì)一致的情況下，識(shí)別出所述待讀取芯片為合法芯片包括：

所述讀取裝置將所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)以及所述待讀取芯片的電平特性發(fā)送至服務(wù)器；

所述服務(wù)器接收所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)和所述待讀取芯片的電平特性，并獲取預(yù)先存儲(chǔ)的與所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的所述合法芯片的電平特性，將所述合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進(jìn)行比對(duì)，將比對(duì)一致的結(jié)果發(fā)送至所述讀取裝置；

所述讀取裝置識(shí)別出所述待讀取芯片為合法芯片；

或者

所述讀取裝置獲取預(yù)先存儲(chǔ)的與所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的所述合法芯片的電平特性，將所述合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進(jìn)行比對(duì)，在確定比對(duì)一致的情況下，識(shí)別出所述待讀取芯片為合法芯片；

或者

所述讀取裝置將所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)發(fā)送至服務(wù)器；

所述服務(wù)器接收所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)，并獲取預(yù)先存儲(chǔ)的與所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的所述合法芯片的電平特性，將與所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的所述合法芯片的電平特性發(fā)送至所述讀取裝置；

所述讀取裝置將所述合法芯片的電平特性與所述待讀取芯片的電平特性進(jìn)行比對(duì)，在確定比對(duì)一致的情況下，識(shí)別出所述待讀取芯片為合法芯片。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述獲取預(yù)先存儲(chǔ)的與所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的所述合法芯片的電平特性包括：

對(duì)所述待讀取芯片的標(biāo)識(shí)與所述合法芯片的標(biāo)識(shí)進(jìn)行比對(duì)；

在確定比對(duì)一致的情況下，獲取所述合法芯片的電平特性。

5.根據(jù)權(quán)利要求1、2或4所述的方法，其特征在于，所述第一處理包括：歸類、存儲(chǔ)和/或校準(zhǔn)。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一處理包括：歸類、存儲(chǔ)和/或校準(zhǔn)。