[發明專利]一種射頻設備的測試方法、測試工作站及裝置

有效

• 申請號: 201710058729.8
• 申請日: 2017-01-23
• 公開（公告）號: CN106850090B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 潘世友;范桂堂;劉俊濤;葛鑫;羅漫江
• 申請（專利權）人: 京信網絡系統股份有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種射頻設備的測試方法，其特征在于，所述方法應用于測試裝置，所述測試裝置包括至少一個測試工作站，所述方法包括：

第一測試工作站接收待測射頻設備；所述第一測試工作站為所述測試裝置中的任一測試工作站；

所述第一測試工作站確定所述待測射頻設備移動到預設初始位置后，獲取待測射頻設備的產品信息，所述產品信息包括所述待測射頻設備的產品型號；

所述第一測試工作站根據所述待測射頻設備的產品型號，將所述待測射頻設備移動到所述產品型號對應的預設測試位置；所述預設測試位置位于預設初始位置的上方；

所述第一測試工作站確定所述待測射頻設備處于所述預設測試位置后，控制所述產品型號對應的N個測試插接件與所述待測射頻設備的N個射頻插接件進行連接，N為正整數；

所述第一測試工作站啟動所述產品型號對應的測試程序對所述待測射頻設備進行測試，得到所述待測射頻設備的測試結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一測試工作站接收待測射頻設備，包括：

所述第一測試工作站確定所述待測射頻設備為未被測試的射頻設備后，接收所述待測射頻設備。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試裝置包括串行設置的多個測試工作站，所述多個測試工作站通過傳送帶連接；

所述第一測試工作站得到所述待測射頻設備的測試結果之后，還包括：

所述第一測試工作站確定將所述待測射頻設備從所述預設測試位置移動至所述預設初始位置，并傳送至下游。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述第一測試工作站得到所述待測射頻設備的測試結果之后，還包括：

所述第一測試工作站根據所述待測射頻設備的測試結果，確定所述測試裝置中所述待測射頻設備對應的產品型號的測試通過率；

所述第一測試工作站若確定所述測試裝置中所述產品型號的測試通過率大于等于設定閾值，則將之后從上游接收到所述產品型號對應的待測試設備中設定比例的待測試設備確定為免測試射頻設備，并傳送至下游。

5.一種測試工作站，其特征在于，所述測試工作站包括機架、控制模塊，以及與所述控制模塊連接的掃描模塊、升降模塊、射頻插接模塊、測試模塊；

所述機架中設置有第一工作面和位于所述第一工作面上方的第二工作面；所述掃描模塊位于所述第一工作面上；所述射頻插接模塊和所述測試模塊位于所述第二工作面上；

所述掃描模塊，用于在確定待測射頻設備移動到預設初始位置后，獲取待測射頻設備的產品信息，所述產品信息包括所述待測射頻設備的產品型號，以及將所述待測射頻設備的產品型號發送給所述控制模塊；其中，所述預設初始位置位于所述第一工作面上；

所述升降模塊，用于在所述控制模塊的控制下，將所述待測射頻設備由所述預設初始位置向上移動至所述產品型號對應的預設測試位置，以及在所述測試模塊完成測試后，將所述待測射頻設備由所述預設測試位置向下移動至所述預設初始位置；其中，所述預設測試位置位于所述第二工作面上；

所述射頻插接模塊，用于在所述升降模塊將所述待測射頻設備由所述預設初始位置向上移動至預設測試位置后，推動所述產品型號對應的N個測試插接件與所述待測射頻設備的N個射頻插接件進行連接；

所述控制模塊，用于在所述N個測試插接件與所述待測射頻設備的N個射頻插接件連接后，控制所述測試模塊對所述待測射頻設備進行測試；

所述測試模塊，用于在所述控制模塊的控制下，啟動所述產品型號對應的測試程序對所述待測射頻設備進行測試，并輸出測試結果。

6.根據權利要求5所述的測試工作站，其特征在于，所述測試工作站還包括與所述控制模塊連接的傳感模塊；

所述傳感模塊，用于檢測到所述待測射頻設備移動至所述預設初始位置后，向所述控制模塊發送第一指示信息，以使所述控制模塊控制所述升降模塊將所述待測射頻設備向上移動；以及，檢測到所述待測射頻設備向上移動至預設測試位置后，向所述控制模塊發送第二指示信息，以使所述控制模塊控制所述升降模塊將所述待測射頻設備保持在所述預設測試位置。