[發明專利]測量系統和方法有效
| 申請號: | 201710057494.0 | 申請日: | 2017-01-26 |
| 公開(公告)號: | CN107689835B | 公開(公告)日: | 2021-08-13 |
| 發明(設計)人: | 亞歷山大·帕布斯特 | 申請(專利權)人: | 羅德施瓦茲兩合股份有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/29 | 分類號: | H04B17/29 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾賢偉;郝慶芬 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測量 系統 方法 | ||
本發明公開了一種測量系統和方法。一種用于測量RF設備中的信號的測量系統,所述測量系統包括:至少兩個信號發生器,用于在所述信號發生器中的每個信號發生器中產生測試信號;用于每個信號發生器的探針,每個探針連接到各個信號發生器,用于將各個測試信號發射到RF設備;以及可控的定位器,用于將RF設備相對于各個探針進行可旋轉地定位。
技術領域
本發明涉及用于測量射頻設備中的信號強度的測量系統和方法。
背景技術
雖然本發明適用于利用無線信號的任何系統,但是將結合無線通信設備的測試來描述本發明。
現代無線通信設備使用射頻信號來發送數據和/或語音。這樣的通信設備的制造商一直嘗試改進通信設備的效率,同時必須滿足符合法律或標準規則。
因此,在開發、生產期間以及生產之后,對于這樣的通信設備執行大量測試。這些測試提供質量保障和符合性測試。一個測試包括測量各個設備的總全向靈敏度(TotalIsotropic Sensitivity,TIS)。
發明內容
存在著改進對于RF設備的TIS測量的需求。
一種用于測量RF設備中的信號的測試系統,包括:至少兩個信號發生器或者具有兩個輸出端的單個信號發生器,用于在每個信號發生器中產生測試信號;用于每個信號發生器的探針,每個探針連接到各個信號發生器,用于將各個測試信號發射到RF設備;以及可控定位器,用于將RF設備相對于各個探針進行可旋轉地定位。
一種用于測量RF設備中的信號的方法,包括:產生至少兩個測試信號,利用用于每個測試信號的探針將各個測試信號發送到RF設備,以及將RF設備相對于探針進行可旋轉地定位。
在現代通信系統中,例如像智能手機或者其他移動設備,尤其是所謂的5G設備,能夠使用天線或天線陣列,這些天線或天線陣列能夠接收并且識別經由不同信號路徑接收到的信號。這樣的天線例如能夠執行束形成,并且因此有利于提高移動數據通信中的信號質量或信號強度。
如上所述,有必要確定這樣的RF設備的特征(例如,像TIS)以確保符合法律或其他規定(例如特定的標準)。
本發明提供一種測量系統,該系統支持RF設備中的TIS測量。在測量期間,RF設備能夠處于測量模式,并且測量經由它的天線(例如經由內部測量單元)接收到的信號。這樣的單元例如能夠嵌入到RF設備的收發器中。這意味著測量系統不必執行測量,而能夠依靠RF設備來執行測量。
當執行RF設備的TIS測量時,各個RF設備暴露給來自不同方向的預定RF信號。該TIS能夠被視為接收設備在整個三維空間進行平均的平均靈敏度。TIS測量的結果通常與RF設備中天線的天線圖案相關。
本發明支持TIS測量,尤其是在使用高頻因而能夠發生束形成和多路信號傳輸的RF設備中。這樣的設備能夠使用5GHz、28GHz、60GHz,任何之間的頻率或者更高的頻率用于信號發送/接收。
不同的信號發生器能夠與虛擬基礎信號同步,即RF設備的通信伙伴將發射的信號。但是,信號發生器然后能夠產生測試信號,該測試信號模擬基礎信號經由不同的信號路徑到RF設備的發送。該模擬例如能夠包括執行基礎信號的相位改變和偏振改變。
該探針能夠指向RF設備,即測試信號能夠從各個探針位置直接發射到RF設備。但是,信號發生器提供信號特征根據所模擬的傳輸路徑進行改變的測試信號。
定位器(例如,3D定位器)能夠至少轉動RF設備。這意味著RF設備被以某種方式固定到定位器的可轉動部件,并且能夠以這樣的方式進行轉動:該探針的發送從不同的角度到達RF設備。
因此,本發明允許向RF設備提供模擬的來自不同角度的真實世界信號,并且因此允許有效地測量RF設備的TIS。
本發明的其他實施例是其他從屬權利要求和參考附圖的下面描述的主題。
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