[發明專利]半導體裝置以及半導體晶片的認證方法

在審

• 申請號: 201710057211.2
• 申請日: 2017-01-26
• 公開（公告）號: CN107038130A
• 公開（公告）日: 2017-08-11
• 發明（設計）人: 永井享浩;渡邊浩志;白田理一郎
• 申請（專利權）人: 渡邊浩志
• 主分類號: G06F12/14
• 分類號: G06F12/14
• 代理公司: 北京匯智英財專利代理事務所(普通合伙)11301
• 代理人: 張俊閣

1.一種半導體裝置，其特征在于：包括：

一半導體晶片，包括：

一模組區域，該模組區域包括多個模組區塊，各模組區塊包括一記憶胞陣列及一周邊記憶體區域，該記憶胞陣列具有冗余位元線，而該周邊記憶體區域至少儲存冗余位址；及

一測試電路，讀取該半導體晶片固有的冗余位址，其中，該冗余位址的分布以亂數方式所產生的相關于該模組區域的部份或全部模組區塊的位址，

其中，該測試電路根據由一實體晶片認證測量裝置所接收的一指定碼，而將一亂數輸出至該半導體晶片，該亂數依據該半導體晶片固有的實體特性所產。

2.如權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于：該半導體晶片另外包括一數位碼產生電路，該數位碼產生電路根據一特定方式使用該亂數產生一輸出認證碼。

3.如權利要求2所述的半導體裝置，其特征在于：該測試電路將該亂數與一輸入認證碼相組合，使得該數位碼產生電路產生該輸出認證碼，其中，該輸入認證碼由該實體晶片認證測量裝置接收。

4.如權利要求2所述的半導體裝置，其特征在于：該數位碼產生電路該半導體晶片內建的電路，并且為可程序修改。

5.如權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于：該數位碼產生電路根據該亂數產生一輸出認證碼，且該輸出認證碼傳送至該實體晶片認證測量裝置。

6.如權利要求2所述的半導體裝置，其特征在于：該數位碼產生電路根據該亂數產生該輸出認證碼，且該輸出認證碼傳送至該實體晶片認證測量裝置。

7.如權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于：該模組區域為一半導體記憶體區域。

8.如權利要求2所述的半導體裝置，其特征在于：用以產生該亂數的該模組區域為一半導體記憶體區域。

9.如權利要求5所述的半導體裝置，其特征在于：該半導體晶片封裝于一封裝體，而該輸出認證碼作為該封裝體的該輸出認證碼。

10.如權利要求6所述的半導體裝置，其特征在于：該半導體晶片封裝于一封裝體，而該輸出認證碼作為該封裝體的該輸出認證碼。

11.一種使用一實體晶片認證測量裝置對一半導體晶片認證的方法，其特征在于：包括：

由該實體晶片認證測量裝置傳送一指定碼至該半導體晶片；

由該半導體晶片輸出一輸出認證碼；

由該實體晶片認證測量裝置接收該輸出認證碼；以及

由該實體晶片認證測量裝置識別該半導體晶片。

12.一種使用一實體晶片認證測量裝置對一半導體晶片認證的方法，其特征在于：包括：

由該實體晶片認證測量裝置傳送一指定碼及一輸入認證碼至該半導體晶片；

由該半導體晶片輸出一輸出認證碼；

由該實體晶片認證測量裝置接收該輸出認證碼；以及

由該實體晶片認證測量裝置識別該半導體晶片。