[發(fā)明專利]用于隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器的隨機(jī)性測試設(shè)備及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710055989.X | 申請(qǐng)日: | 2017-01-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108089840B | 公開(公告)日: | 2022-03-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 卡爾平斯基·博赫丹;李容基;盧美貞;樸商旭;金祺倬;金容秀;崔允赫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G06F7/58 | 分類號(hào): | G06F7/58 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 王兆賡;張川緒 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 隨機(jī)數(shù) 產(chǎn)生器 隨機(jī)性 測試 設(shè)備 方法 | ||
1.一種用于測試隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器的設(shè)備,所述設(shè)備包括:
相關(guān)性測試電路,被配置為:提取由隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器產(chǎn)生的比特流中的第一多個(gè)比特對(duì),所述第一多個(gè)比特對(duì)的每個(gè)比特對(duì)包括彼此隔開第一距離的兩個(gè)比特;獲得所述第一多個(gè)比特對(duì)的各自兩個(gè)比特之間的差的第一總和;獲得比特流中的第二多個(gè)比特對(duì)的各自兩個(gè)比特之間的差的第二總和,所述第二多個(gè)比特對(duì)的每個(gè)比特對(duì)包括彼此隔開與第一距離不同的第二距離的兩個(gè)比特;
隨機(jī)性確定電路,被配置為基于第一總和和第二總和來確定比特流的隨機(jī)性。
3.如權(quán)利要求2所述的設(shè)備,其中,響應(yīng)于所述最大值與最小值之間的差大于第一參考值,隨機(jī)性確定電路被配置為確定比特流為非隨機(jī)的。
4.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中,相關(guān)性測試電路被配置為:對(duì)所述第一多個(gè)比特對(duì)的每個(gè)比特對(duì)的兩個(gè)比特或所述第二多個(gè)比特對(duì)的每個(gè)比特對(duì)的兩個(gè)比特執(zhí)行異或運(yùn)算,以獲得所述兩個(gè)比特之間的差。
5.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中,所述第一多個(gè)比特對(duì)的數(shù)量或所述第二多個(gè)比特對(duì)的數(shù)量對(duì)應(yīng)于所述第一距離和第二距離的最大值與比特流的比特的數(shù)量之間的差。
6.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,還包括:
單比特測試電路,被配置為通過對(duì)比特流中具有相同比特值的比特的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)來產(chǎn)生計(jì)數(shù)輸出,
其中,隨機(jī)性確定電路被配置為還基于所述計(jì)數(shù)輸出來確定比特流的隨機(jī)性。
7.如權(quán)利要求6所述的設(shè)備,其中,響應(yīng)于所述計(jì)數(shù)輸出小于第二參考值,隨機(jī)性確定電路被配置為確定比特流為非隨機(jī)的。
8.如權(quán)利要求7所述的設(shè)備,其中,基于比特流的期望的熵來確定第二參考值。
9.如權(quán)利要求6所述的設(shè)備,其中,單比特測試電路被配置為產(chǎn)生包括具有比特值“0”的比特的數(shù)量和具有比特值“1”的比特的數(shù)量中的至少一個(gè)數(shù)量的計(jì)數(shù)輸出。
10.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其中,隨機(jī)性確定電路被配置為將第一總和和第二總和之中的至少一個(gè)總和與第三參考值和第四參考值中的每一個(gè)進(jìn)行比較,響應(yīng)于所述至少一個(gè)總和不在第三參考值與第四參考值之間,隨機(jī)性確定電路被配置為確定比特流為非隨機(jī)的。
11.一種用于測試隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器的設(shè)備,所述設(shè)備包括:
M位移位寄存器,被配置為順序接收由隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器產(chǎn)生的N個(gè)比特;
差分運(yùn)算電路,被配置為獲得從M位移位寄存器輸出的M比特序列中數(shù)量為K的不同比特對(duì)中的每個(gè)比特對(duì)的兩個(gè)比特之間的差;
數(shù)量為K的累加器,分別接收差分運(yùn)算電路的K比特輸出的比特;
隨機(jī)性確定電路,被配置為基于所述數(shù)量為K的累加器的輸出來確定所述N個(gè)比特的隨機(jī)性,
其中,“K”、“M”和“N”中的每一個(gè)為等于或大于二的整數(shù),
其中,所述數(shù)量為K的累加器中的每個(gè)累加器對(duì)與具有相同比特寬度的比特對(duì)對(duì)應(yīng)的差進(jìn)行累加。
12.如權(quán)利要求11所述的設(shè)備,其中,隨機(jī)性確定電路被配置為基于所述數(shù)量為K的累加器的輸出的最大值與最小值之間的差來確定所述N個(gè)比特的隨機(jī)性。
13.如權(quán)利要求12所述的設(shè)備,其中,響應(yīng)于所述最大值與最小值之間的差大于第一參考值,隨機(jī)性確定電路被配置為確定所述N個(gè)比特為非隨機(jī)的。
14.如權(quán)利要求11所述的設(shè)備,其中,差分運(yùn)算電路包括:數(shù)量為K的異或門,被分別配置為接收數(shù)量為K的比特對(duì)中的各比特對(duì)以產(chǎn)生K比特輸出。
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