[發明專利]用于測量通道內的中子通量密度的系統在審
| 申請號： | 201710055542.2 | 申請日： | 2017-01-24 |
| 公開（公告）號： | CN106803434A | 公開（公告）日： | 2017-06-06 |
| 發明（設計）人： | 馬飛;張雪熒;李嚴嚴;張艷斌;萬波;張宏斌;葛紅林;陳亮 | 申請（專利權）人： | 中國科學院近代物理研究所 |
| 主分類號： | G21C17/108 | 分類號： | G21C17/108 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司11021 | 代理人： | 張成新 |
| 地址： | 730000 甘*** | 國省代碼： | 甘肅;62 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 測量 通道 中子通量 密度 系統 | ||
1.一種用于測量通道內的中子通量密度的系統，包括：
第一測量裝置，第一測量裝置包括：第一探頭；第一光電倍增管；以及第一光纜，第一光纜將第一探頭與第一光電倍增管連接，并且第一測量裝置用于測量通道內的與本底對應的信號和與中子對應的信號；以及
第二測量裝置，第二測量裝置包括：第二探頭；第二光電倍增管；以及第二光纜，第二光纜將第二探頭與第二光電倍增管連接，并且第二測量裝置用于僅僅測量通道內的與本底對應的信號且不能測量到通道內的與中子對應的信號。
2.根據權利要求1所述的用于測量通道內的中子通量密度的系統，其中：
第一探頭和第二探頭連接在一起，并且第一光纜和第二光纜成一體。
3.根據權利要求1或2所述的用于測量通道內的中子通量密度的系統，還包括：
移動裝置，該移動裝置用于通過移動第一光纜和第二光纜使第一探頭和第二探頭在通道內移動。
4.根據權利要求3所述的用于測量通道內的中子通量密度的系統，其中：
所述移動裝置是升降裝置，用于通過升降第一光纜和第二光纜使第一探頭和第二探頭在通道內升降。
5.根據權利要求4所述的用于測量通道內的中子通量密度的系統，其中：
所述升降裝置包括：機架；可相對于機架升降的升降件，第一光纜和第二光纜能夠連接于升降件；以及動力源，用于驅動升降件相對于機架升降。
6.根據權利要求1所述的用于測量通道內的中子通量密度的系統，其中：
第一探頭設有第一閃爍體探測器，并且第二探頭設有第二閃爍體探測器，第一閃爍體探測器具有中子轉化物質，使第一閃爍體探測器能夠測量到與中子對應的信號。
7.根據權利要求6所述的用于測量通道內的中子通量密度的系統，其中：
第一光纜包括第一套管，和設置在第一套管中的第一光纖，在第一套管的設有第一探頭的端部中設有第一閃爍體探測器，第一閃爍體探測器與第一光纖連接；以及
第二光纜包括第二套管，和設置在第二套管中的第二光纖，在第二套管的設有第二探頭的端部中設有第二閃爍體探測器，第二閃爍體探測器與第二光纖連接。
8.根據權利要求7所述的用于測量通道內的中子通量密度的系統，其中：
第一閃爍體探測器通過封閉件封閉在第一套管的端部中，并且第二閃爍體探測器通過封閉件封閉在第二套管的端部中。
9.根據權利要求6所述的用于測量通道內的中子通量密度的系統，其中：
第一閃爍體探測器由ZnS和Ag中的一種與中子轉化物質6LiF、235U和232Th中的一種制成，第二閃爍體探測器由ZnS或Ag制成。
10.根據權利要求1所述的用于測量通道內的中子通量密度的系統，其中：
所述通道是反應堆內的通道。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院近代物理研究所，未經中國科學院近代物理研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710055542.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
