[發明專利]具有一體式狀態指示器的照明刻度盤有效
| 申請號: | 201710055445.3 | 申請日: | 2017-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN107843278B | 公開(公告)日: | 2021-04-20 |
| 發明(設計)人: | 艾瑞克·R·洛夫格倫;斯科特·D·尼爾森;羅伯特·J·卡什尼亞 | 申請(專利權)人: | 羅斯蒙特公司 |
| 主分類號: | G01D13/02 | 分類號: | G01D13/02;G01D13/28 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 李娜娜 |
| 地址: | 美國明*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 體式 狀態 指示器 照明 刻度盤 | ||
過程測量顯示器被公開,過程測量顯示器包括被構造成改變位置以指示過程變量的指示器。顯示器還包括被構造成向指示器提供光的照明光源。顯示器進一步地包括被構造成控制照明光源以提供至少一個額外輸出模式的處理器。
技術領域
本發明大致涉及過程測量裝置。更具體地,但是非限制地,本發明涉及用于過程測量裝置的顯示機構。
背景技術
當前具有在使用時的許多過程測量裝置。一些裝置包括儀表、流量計和測量變送器。這些裝置經常用于工業環境中,以用于監控溫度、壓力、水分、混濁度或酸堿性。這些裝置也可以使用顯示器以示出測量結果。顯示器由內部或外部電源驅動,或是未驅動的并且在沒有電氣構件的情況下操作。
發明內容
過程測量顯示器被公開,過程測量顯示器包括被構造成改變位置以指示過程變量的指示器。顯示器還包括被構造成向指示器提供光的照明光源。顯示器進一步地包括被構造成控制照明光源以提供至少一個額外輸出模式的處理器。
一種過程測量顯示器,包括:指示器,所述指示器被構造成改變位置以指示過程變量;照明光源,所述照明光源被構造成向指示器提供光;高照明部和低照明部,所述高照明部被配置成接收來自所述照明光源的光,所述低照明部被配置成接收來自所述照明光源的光,其中高照明部和低照明部從所述照明光源接收不同強度的光;和處理器,所述處理器被構造成控制照明光源以提供至少一個額外輸出模式。
一種過程測量顯示器,包括:測量機構,所述測量機構被構造成提供過程測量的指示;過程變量輸出,所述過程變量輸出被構造成顯示過程變量測量的指示;指示器,包括高照明部和低照明部,所述高照明部被配置成顯示光,所述低照明部被配置成顯示光,其中高照明部和低照明部具有不同的光強度;狀態構件,所述狀態構件被構造成基于過程測量的指示而確定過程狀態,狀態構件進一步地被構造成識別過程參數并且利用所述過程參數評估過程測量的指示;和狀態指示器,所述狀態指示器向顯示器提供被確定的過程狀態的指示。
為了向過程測量顯示器提供照明,照明顯示器可以增加變量輸出的能見度,并且因而增加測量報告的效用。有利的可以是,增加變量輸出的能見度,同時消耗最小量的電力。顯示器可以生成利用增加的能見度大致識別測量和狀態警報的照明指示。
附圖說明
圖1是圖示根據本發明的實施例的過程測量顯示器的方框圖。
圖2示出根據本發明的實施例的過程測量顯示器。
圖3A是圖示根據本發明的實施例的過程指示構件的透視圖。
圖3B是根據本發明的實施例的過程指示構件的后部透視圖。
圖4示出根據本發明的實施例的照明測量顯示器的方法的流程圖。
圖5示出圖示根據本發明的實施例的照明構造的方框圖。
圖6是根據本發明的實施例的生成狀態指示的方法的流程圖。
圖7是根據本發明的實施例的向測量顯示器提供狀態指示的方法的流程圖。
圖8是根據本發明的實施例的處理用于測量顯示器的參數輸入的方法的流程圖。
具體實施方式
圖1是圖示根據本發明的實施例的過程測量顯示器的方框圖。過程測量顯示器100可以使用過程變量傳感器104感測本地過程變量,或可以接收來自遠程過程變量變送器150的過程樣本102的指示。
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