[發明專利]一種GaAs基AlGaInP單面雙電極高亮四元發光二極管燈絲及其制備方法有效
| 申請號: | 201710055014.7 | 申請日: | 2017-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN108346723B | 公開(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發明(設計)人: | 劉琦;閆寶華 | 申請(專利權)人: | 山東浪潮華光光電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/32 | 分類號: | H01L33/32;H01L33/10;H01L33/06;H01L33/36;H01L33/62;H01L33/00 |
| 代理公司: | 濟南金迪知識產權代理有限公司 37219 | 代理人: | 陳桂玲 |
| 地址: | 261061 *** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 gaas algainp 單面 極高 亮四元 發光二極管 燈絲 及其 制備 方法 | ||
1.一種基于GaAs基AlGaInP四元發光二極管的紅光燈絲的制備方法,包括以下步驟:
(1)采用MOCVD工藝在GaAs襯底上依次外延生長GaAs層、布拉格反射鏡層、N型AlGaIn層、量子阱有源區、P型AlGaIn層、GaP層,在GaP層上制作P電極,沿LED 芯片一側,從上而下由GaP層刻蝕到N型AlGaInP層制作臺面I,刻蝕深度為40μm -55μm,形成有若干個周期單元的LED 芯片;
(2)在所述的LED芯片的每個周期單元兩端均刻蝕到GaAs襯底上表面形成端臺面,該端臺面上制作有金屬引線電極;
(3)將上述的LED 芯片沿N型AlGaInP層的上表層進行半切,到達GaAs襯底上表面的半切深度為70-90μm;實現對所述發光二極管的水平環切,在GaAs襯底上芯片單元之間形成隔斷縫隙;
(4)用滴水氧化方式對布拉格反射鏡層進行氧化使之成為絕緣層;
(5)沿按每個周期單元刻蝕出的端臺面進行裂片,使發光二極管芯片成為獨立的周期單元,周期單元內未切開的襯底成為承載各個芯片單元的基板;所述基板厚度為70-75μm;
(6)將相鄰單元芯片之間P電極與N電極進行導線連接;兩個端臺面上的金屬引線電極接出引腳線;
(7)在各個單元芯片上制作熒光膠包覆層,將各個單元芯片及基板完全包覆;兩端引腳線部分露出熒光膠包覆層外;
所述每個周期單元包含5-15個單元芯片;
所述的布拉格反射鏡層為16-20個周期的N型AlGaAs/AlAs體系;所述N型AlGaAs/AlAs體系材料選自Al0.6Ga0.4As/AlAs、Al0.5Ga0.5As/AlAs 或者Al0.4Ga0.6As/AlAs。
2.如權利要求1所述的基于GaAs基AlGaInP四元發光二極管的紅光燈絲的制備方法,其特征在于,所述的布拉格反射鏡層的周期為18個。
3.如權利要求1所述的基于GaAs基AlGaInP四元發光二極管的紅光燈絲的制備方法,其特征在于,所述量子阱有源區為AlGaInP多量子阱有源層,厚度為0.2-0.5μm。
4.如權利要求1所述的基于GaAs基AlGaInP四元發光二極管的紅光燈絲的制備方法,其特征在于,所述步驟(3)中半切深度為80-85μm。
5.如權利要求1所述的基于GaAs基AlGaInP四元發光二極管的紅光燈絲的制備方法,其特征在于,所述步驟(4)所述的滴水氧化方式是在氧化爐內進行氧化:將芯片放置于350-520℃氧化爐內,從氧化爐一端口按照15-18mL/min的流速注入純水,使水在高溫下汽化,流過芯片表面,布拉格反射鏡層中的AlAs和H2O反應生成致密的氧化層,所述氧化爐內的濕度≥75%RH。
6.如權利要求1所述的基于GaAs基AlGaInP四元發光二極管的紅光燈絲的制備方法,其特征在于,所述步驟(3)中,所述的縫隙寬度為2-3微米。
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