[發明專利]量具及其讀數方法

在審

• 申請號: 201710052886.8
• 申請日: 2017-01-24
• 公開（公告）號: CN108344340A
• 公開（公告）日: 2018-07-31
• 發明（設計）人: 李開明;王曉聰;吳志宏;李劍鋒;黎方琦;高云峰
• 申請（專利權）人: 大族激光科技產業集團股份有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 深圳市世聯合知識產權代理有限公司 44385
• 代理人: 汪琳琳

本發明實施例公開了一種量具及其讀數方法，涉及測量技術領域。所述量具包括：基座、運動構件、滑塊；所述基座上設置第一刻度，所述滑塊上設置第二刻度；所述基座上安裝所述運動構件，所述運動構件上安裝所述滑塊。本發明實施例所述的量具，通過增加了輔助進行精讀的刻度，在不改變運動構件精度和組裝工藝的前提下，以極小的改造成本減小了人眼讀數的誤差，有效地提升了平臺的讀數精度。

技術領域

本發明實施例涉及測量技術領域，特別是量具及其讀數方法。

背景技術

在精度要求不高的直線運動位置標記領域，憑借人眼讀數的粗調平臺因其高性價比而被廣泛應用。此類平臺采用單一刻度，通過人眼讀取位移數據，其精度取決于標記的最小刻度。在決定平臺精度的幾個重要因素中，平臺的制造和組裝工藝精度是遠遠高于分度值的。

發明人在研究本申請的過程中發現，現有技術中至少存在以下技術問題：

因為單一刻度的讀數方式，人眼讀數存在較大隨機性和系統誤差，消耗了原有的運動副制造精度和組裝工藝精度，使平臺的整體精度不能得到保證。

發明內容

本發明實施例所要解決的技術問題是，單一刻度中人眼讀數的誤差較大。

為了解決上述技術問題，本發明實施例所述的量具及其讀數方法采用了如下所述的技術方案：

一種量具，包括：基座、運動構件、滑塊；

所述基座上設置第一刻度，所述滑塊上設置第二刻度；

所述基座上安裝所述運動構件，所述運動構件上安裝所述滑塊。

所述運動構件與所述滑塊固定連接，所述運動構件的運動與所述滑塊的運動相對所述基座同步。

進一步，所述的量具，所述第一刻度的分度值大于所述第二刻度的分度值。

進一步，所述的量具，當所述滑塊位于右極限位置時，所述第一刻度的零刻度線與所述第二刻度的零刻度線對齊；

當所述滑塊位于左極限位置處時，所述第一刻度的最大刻度示數的刻度線與所述第二刻度的零刻度線對齊。

進一步，所述的量具，所述基座上還設置輔刻度，當所述第二刻度的刻度線不與所述第一刻度的刻度線對齊時，所述輔刻度用于觀察與所述第二刻度的刻度線的對齊。

進一步，所述的量具，所述輔刻度為所述第一刻度的延伸，所述輔刻度的起始刻度線與所述第一刻度的最大刻度示數的刻度線重合，所述輔刻度的量程大于所述第二刻度的量程。

進一步，所述的量具，所述輔刻度的分度值與所述第一刻度的分度值相同。

一種量具的讀數方法，應用于上述任意一種技術方案中的所述量具，包括：

設置第一刻度的精度以及第二刻度的精度；

根據所述第二刻度的零刻度線與所述第一刻度的刻度線對齊的位置進行粗讀：

當所述第二刻度的零刻度線與所述第一刻度的某一刻度線對齊時，該刻度線的讀數即為最終讀數；

當所述第二刻度的零刻度線間于所述第一刻度相鄰的兩條刻度線時，以所述相鄰的兩條刻度線的較小讀數為粗讀示數；所述第二刻度上與所述第一刻度對齊的刻度線的讀數為精讀示數；根據公式J1×X1+(J1-J2)×Y計算最終讀數，其中，J1為所述第一刻度的精度，J2為所述第二刻度的精度，X1為所述粗讀示數，Y為所述精讀示數。

進一步，所述的量具的讀數方法，所述第一刻度的精度＝L/M，其中，L為所述第一刻度的量程，M為所述第一刻度的量程的等分數；

所述第二刻度的精度與所述第一刻度的精度計算方法相同。